FRX en las manos de los científicos

EPSILON 1
FRX en las manos de los
científicos
Para investigación
y educación
EPSILON 1
Análisis elemental flexible para
investigación y educación
El espectrometro de rayos-X Epsilon 1
es un instrumento analítico ideal para
cualquier institución, capaz de hacer
simples cuantificaciones elementales hasta
los análisis más sofisticadas. Introduce a
los alumnos una amplia técnica analítica
utilizada en la industria para producción
y control de calidad, pero muchas veces
limitada en las clases.
Si usted quiere animar sus clases en la
Universidad y Facultad o mejorar o tornar
su investigación más seria, el Epsilon 1
es fácil de operar, compacto además de
ser un instrumento de rayos-X, seguro,
eliminando la necesidad de reactivos
químicos.
El Epsilon 1 puede ser utilizado en clases
prácticas de laboratorio y prácticas de
investigaciones en diversas disciplinas,
como por ejemplo química, física,
arqueología, ciencia de los materiales
y forenses. El Epsilon 1 permite la
identificacion y la cuantificación via FRX
para un ilimitado número de aplicaciones
y para muchos tipos de muestras. Con poca
o ninguna preparación de la muestra,
diversas muestras pueden ser cuantificadas
a través de la tabla periódica.
El Epsilon 1 posee un software flexible
para trabajos básicos o análisis sofisticados
tales como determinación de la espesura
y composición de las capas en metales de
revestimiento. O ejecución de análisis
de clusters basada en PCA de espectro de
rayos-X a través de FingerPrint para una
amplia variedad de materiales, como por
ejemplo, drogas, monedas, razón animal y
mucho más.
En busca de un instrumento
analítico flexible y simple
de usar para investigación y
educación?
El instrumento es pre-calibrado de fábrica
con el Omnian, el paquete para análisis
semi-cuantitativa es líder de mercado
de PANalytical, usado en nuestros
instrumentos más avanzados. Omnian
es una solución totalmente práctica
que puede ser utilizada para analizar la
composición de una gran variedad de
muestras de Sodio a Americio a través de
la tabla periódica.
PANalytical posee una fuerte reputación
en alta tecnología en instrumentación de
Rayos-X. El Epsilon 1 es construido usando
la tecnología PANalytical líder de mercado
con calidad superior mundial en servicios y
soporte de aplicación.
Curso de especialización y aplicación
también están disponibles mediante
pedidos.
Análisis de la tabla periódica
Ventajas de FRX
• Precisión analítica incalculable
y exactitud comparada a otras
técnicas
• Método de cuantificación rápido
• Sencilla preparación de muestras,
rápida y segura
• Análisis no-destructivo
• Amplia gama de análisis de
concentración (ppm-%),
reduciendo la necesidad de
dilución y los errores asociados.
El paquete básico consiste en un sistema Epsilon
1, que viene con un software de usuario pre
calibrado de fábrica con Omnian para análisis
semi-cuantitativo, una muestra de validación y
un kit de partida para la elaboración de las 100
primeras muestras de análisis de líquidos y en
polvos sueltos.
Preparado para cualquier muestra
Fácil preparación
de muestras
El Epsilon 1 puede analizar una gran
variedad y tipos de muestras con poco
más de 100mg hasta masas mayores:
sólidos, muestras fundidas, granos,
barro, filmes y revestimientos. También
puede analizar muestras grandes e
irregulares con las dimensiones máximas
de 15x12x10cm (AxLxC)
Líquidos, polvos sueltos y sólidos
Fácil de operar
Ponga la muestra en la posición de
medida
Simple
visualización de
resultados
Identifique la muestra y apriete el botón
“MEDIR”
EPSILON 1
Las diez ventajas
El Epsilon 1 es un espectrómetro de
fluorescencia de rayos-X por energía
dispersiva, totalmente integrado,
conteniendo un espectrómetro, un
ordenador con pantalla touch y software
de análisis. Desarrollado con los últimos
avances en excitación y tecnología de
detección, el Epsilon 1 es un avance en
la clase de instrumento de sobremesa de
bajo coste. Con una optica bien concebida,
una amplia gama de excitación que varía
de 10 a 50kV para elementos ligeros y
pesados, y alta sensibilidad del detector
SDD, contribuyen para la singularidad del
Epsilon 1.
Ventajas del Omnian
Resultado correcto todo el tiempo
• Tecnología avanzada para la
robustez de los resultados
• Resultados precisos para casi
todas las muestras utilizando la
configuración padrón
• Precisión y mejora de la detección
con ASC y medición de los picos
seleccionados
El sistema incluye
Ordenador integrado, con Microsoft
Windows 7, una poderosa CPU y un disco
duro de 120Gb, garantiza la flexibilidad
para almacenar y lidiar con millares de
resultados.
Repetibilidad por años
Deterioración gradual de los tubos de
rayos-X ocurren a lo largo del tiempo. Un
tubo de rayos-X de baja deterioración
y una rutina de corrección proveen
resultados durante años sin la necesidad
de re-calibración.
Sensibilidad máxima
Tubo de rayos-X con ánodo de Ag y
una ventana ultra-fina, proyectado y
fabricado por PANalytical, garantizan
alta calidad y sensibilidad. El ánodo
de Ag es ideal para la cuantificación
precisa de P, S y Cl, sin la posible
interferencia sobre-posición de
líneas, haciendo los resultados más
confiables. El tubo y generador de
rayos-x de 50 kV son ideales para
elementos más pesados, resultando
tiempos de análisis más rápidos.
Fácil para el uso
• Para rutinas de uso avanzado
• Recuperación de datos fácilmente
Poder para resolver sus desafíos
analíticos
• Análisis cuantitativo
• Control de lotes y materiales
• Visualización rápida
• Herramienta de análisis R&D
• Análisis de fallo
•
Análisis comparativos
Protección contra vertidos
Con el fin de proteger el delicado
corazón del sistema de un posible
vertido, una película de protección
está estratégicamente colocada.
En caso de derrame, esta película
puede ser fácilmente sustituida por
el operador.
Económico y compacto
Un diseño compacto con un
ordenador embutido con pantalla
touch reduce la necesidad de espacio
en la mesa para menos de 0,15m2.
Fácil operación
El monitor con pantalla touch de 10,4”
con resolución de 1024x768 permite
acceso fácil al equipo.
Fácil Comunicación
Entrada USB y conexiones de red para uso
de periféricos, para el desarrollo de las
aplicaciones y facilidad de utilización para
un operador sentado.
La mejor precisión
Muestras con alta concentración pueden
causar la saturación del detector
resultando una menor precisión y mayor
tiempo de análisis. El Epsilon 1 usa la
última tecnología de silicon drift para
lidiar con ese tipo de muestra sin ninguna
pérdida de precisión o aumento de tiempo
del análisis.
Variaciones atmosféricas
Fotones de rayos-X de baja energía
como los de Sodio, Magnesio, Aluminio,
Silicio, Fósforo y Azufre son sensibles a
las variaciones de presión del aire y de la
temperatura. Sensores de temperatura y
presión atmosférica están instalados en
Epsilon 1 para compensar las interferencias
de las variaciones atmosféricas,
garantizando resultados inalterados
independientemente del clima.
Posicionamiento de
la muestra
Sistema de posicionamiento de la
muestra de alta
repetibilidad, reduce las variaciones
de posicionamiento
entre muestras.
Seguridad
garantizada
Epsilon 1 está en
conformidad con la más
reciente directiva, CSA, IEC,
normas EMC, Vollschutz y
normas para la protección
de radiación para
garantizar un instrumento
seguro para el operador
EPSILON 1
Cuantificación robusta y flexible de cualquier
muestra
Para la caracterización y análisis de
muestras desconocidas o en situaciones
en que no existe padrones certificados
para la calibración, el paquete Omnian
de PANalytical es la solución perfecta.
Importante aplicación incluyendo cuantificación de las muestras, análisis de
fallos, elección de materiales, resolución de problemas como la comparación de
diferentes materiales.
Los datos siguientes muestran algunos resultados representativos obtenidos con el
Epsilon 1 utilizando el paquete Omnian.
Acero de baja aleación
• Padrón SS471
• Hierro (Fe)
utilizado para el
balance
Polietileno
• Padrón BCR
681k, 6mm de
espesura
• CH2 utilizado
para el balance
SS 407/1
Elemento Conc. Medida
Excipiente farmacéutico
• Padrón de
150mg de
celulosa
•C6H10O5
utilizado para el
balance
BCR 681k
Elemento Cond. Medida
Ru-Pt-6 150 mg
(wt%)
Si
0.61
0.59
P
0.01
0.03
Cl
977
800
Rh
48
50
S
0.01
0.028
Cr
104
100
Pd
54
50
V
0.16
0.18
Zn
1250
(1250)
Cr
2.96
2.95
As
28
Mn
0.081
0.047
Br
862
770
Ni
0.62
0.59
Cd
123
137
Cu
0.59
0.57
Sn
133
(86)
(ppm)
S
663
Mo
0.66
0.78
Sb
103
Fe
94.31
(94.24)
Hg
17
Pb
CH2
(wt%)
Listo para cualquier muestra
El Epsilon 1 provee una gran área
para la colocación de muestras de
forma irregular, que pueden tener
hasta 10cm de altura.
97
99.5
Conc.
certificada
(ppm)
Elemento Conc. Medida
Conc.
certificada
(ppm)
630
29.1
99
23.7
98
(99.6)
Ru
(ppm)
Conc.
certificada
(ppm)
49
50
Ir
59
50
Pt
54
50
C6H10O5
(wt%)
99.974
(99.975)
EPSILON 1
Mejore su búsqueda
El Epsilon 1 posee un software que consiste en dos niveles de usuario con
funcionalidad explicita:
1. Modo de operación – para operaciones simples y visualización de resultados
2. Modo avanzado – acceso total a todos los recursos del software. En este modo
del software, puede ser creado un número ilimitado de aplicaciones.
Dos opciones del software están disponibles para reforzar la capacidad del Epsilon
1: FingerPrint y Stratos
FingerPrint
El FingerPrint es una opción disponible
para la caracterización de materiales y
análisis de “APROBADO/RECHAZADO”.
Es ideal para test de materiales cuando
la rapidez es importante pero la
composición actual no interesa.
El FingerPrint generalmente envuelve o
no preparación de muestras y la muestra
desconocida es comparada como una
biblioteca de datos de muestras de
referencia.
Entonces la muestra más similar es
presentada con un nivel de incerteza.
El principal componente de análisis
(PCA) combinado con los análisis de
clusters son poderosas herramientas
para la investigación de los materiales
a través de la creación de aplicaciones
automatizadas de FingerPrint. Con esta
herramienta es posible la visualización
grafica de los datos en 3D.
Algoritmos avanzados realizan todo el
trabajo difícil. El criterio de APROBADO/
RECHAZADO puede ser definido de
acuerdo con diferentes enfoques que da
flexibilidad en el modelo del método del
FingerPrint.
Stratos análisis de multicapa
El modulo Stratos presenta un algoritmo
que permite la caracterización
simultanea de la composición química y
espesura de las capas en los materiales.
El software proporciona rapidez,
simplicidad y medios no destructivos
analizando revestimientos, capas
superficiales y multicapas estructurales.
Los resultados precisos son obtenidos
usando padrones convencionales,
o padrones de referencia donde la
composición y las capas estructurales son
diferentes de la muestra desconocida.
Esto resuelve el mayor problema de
análisis de multicapas: La adquisición
de diversos juegos de padrones de
multicapas certificados.
Además de eso, la precisión puede ser
mejorada adicionando padrones de la
calibración principal usando a Adaptive
Sample Caracterization (ASC).
El analista virtual en el software puede
modelar la respuesta fluorescente de
la muestra con base en una definición
nominal de la muestra y das mejores
configuraciones para el análisis.
Acceso al Expertise
Con una amplia red de servicios, podremos ofrecer el paquete
de soporte más completo posible.
Expertise:
• Entrenamiento a domicilio
• Costes de entrenamiento en XRF
• Optimización de rendimiento
• Programas de aplicaciones personalizadas
• Asistencia con estandarización de varios laboratorios
PANassist
PANassist es una solución de asistencia
remota rápida, segura y fiable. Con
independencia de dónde se encuentre,
podemos solucionar los problemas y
supervisar el rendimiento su sistema
Epsilon 1.
Ofrecemos:
• Información de diagnóstico remoto
detallada
• Espectro en tiempo real
• Monitorización remota
• Asistencia para aplicaciones
• Registro en un historial
• Análisis de rendimiento
• Actualización remota del firmware
• Conexión a un sistema de
monitorización (rendimiento) mundial
PANalytical, fundada en 1948 como parte de Philips, cuenta con unos 1.000 empleados en todo el mundo. Sus oficinas
centrales se encuentran en Almelo, Países Bajos. Dispone de laboratorios de aplicaciones completamente equipados en Japón,
China, EE.UU. y Países Bajos. Las actividades de investigación de PANalytical se realizan en Almelo (Países Bajos) y en el campus
de la Universidad de Sussex en Brighton (Reino Unido). El centro principal y el centro de suministro se encuentran en dos
emplazamientos en los Países Bajos: Almelo (desarrollo y producción de instrumentos de rayos X) y Eindhoven (desarrollo y
producción de tubos de rayos X). Una red de ventas y servicio en más de 60 países garantiza un nivel excepcional de asistencia
al cliente.
La compañía tiene la certificación ISO9001-2008 e ISO 14001.
El catálogo de productos incluye una amplia gama de sistemas DRX y FRX, y software para el análisis y la caracterización de
materiales de productos como cemento, metales y acero, nanomateriales, plásticos, polímeros y petroquímicos, minerales
industriales, vidrio, catalizadores, semiconductores, películas finas y materiales avanzados, sólidos farmacéuticos, materiales
reciclados y muestras ambientales.
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PANalytical forma parte de Spectris plc, la compañía de controles e instrumentos para maximizar la productividad.
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PANalytical
PANalytical es el principal proveedor mundial de instrumentos analíticos y software para difracción de rayos X (DRX) y
espectrometría de fluorescencia de rayos X (FRX), con más de medio siglo de experiencia. El equipo de caracterización de
materiales se utiliza para la investigación y el desarrollo científicos, para aplicaciones de control de procesos industriales y para
la metrología de semiconductores.