Espectrómetros ED-XRF de Laboratorio

Espectrómetros
ED-XRF de
Laboratorio
EX-6600 y X-7600
con Objetivos Secundarios
Análisis elemental no destructivo a partir de
Carbono (6) a Fermio (100) desde niveles de sub ppm a concentraciones del 100%
Elementos ligeros a partir
de Carbono
Detector con una
resolución de hasta
123eV
Niveles de detección
desde sub-ppm a
concentraciones del
100%
Método analítico rápido
y no destructivo
Modos de objetivos
directos y secundarios
El detector de deriva de silicio (SDD) permite
aplicaciones de tasa de conteo extremadamente
altas con una excelente resolución de energía,
adecuadas tanto para los elementos de alto y bajo Z
Ventana delgada de SDD LE opcional para un mejor
análisis de elementos ligeros
La tecnología óptica de rayos-X patentada WAG ®
(geometría angular), al estar combinada con una
potencia de excitación de hasta 400W, genera un
analizador elemental potente y rápido para cumplir
con todos los requisitos de cualquier laboratorio
de producción o de investigación
Ocho filtros personalizables y ocho objetivos
secundarios para una determinación rápida y
precisa de oligoelementos y de elementos
menores
Fácil de operar debido al paquete software
patentado nEXt™
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Laboratory Spectrometers
Los
espectrómetros
de
laboratorio
de
fluorescencia de rayos X por energía dispersiva
(ED-XRF) de Xenemetrix ofrecen la máxima
solución no destructiva para las aplicaciones de
análisis elemental.
Los espectrómetros versátiles de laboratorio
pueden analizar líquidos, sólidos, suspensiones
viscosas, polvos, gránulos y filtros de aire a
la vez que la cámara de análisis puede alojar
muestras de diferentes formas y tamaños.
El detector de deriva de silicio (SDD) proporciona
simultáneamente un menor ruido electrónico y
un aumento de las tasas de conteo, lo cual se
traduce en una resolución más alta de energía y
en resultados más rápidos en comparación con
los detectores Si-Pin y Si-Li.
El diseño integral del inyector automático
de posiciones 10/20 permite una mínima
intervención humana permitiendo al mismo
tiempo una operación automática y desatendida.
Ocho objetivos secundarios en los modelos EX6600 y X-7600 ofrecen la máxima sensibilidad
para una cuantificación rápida y precisa, incluso
en matrices complejas como aleaciones,
plásticos y muestras geológicas. Los objetivos
son totalmente adaptables para alcanzar límites
de detección sub-ppm en una amplia gama de
elementos.
Este espectrómetro rápido, preciso y fácil de
usar dispone de un hardware robusto y de un
software analítico de gran alcance para obtener
límites de detección bajos.
La resolución de adquisición multicanal ofrece
una relación pico/fondo superior para la
obtención de una mejor respuesta por parte del
detector.
Objetivo secundari
El EX-6600 & X-7600 tiene una geometría
exclusiva patentada que combina ocho
objetivos secundarios, con ocho filtros
de tubo personalizables utilizados en el
modo de excitación directa, para permitir la
excitación óptima de todos los elementos
que se pueden detectar en ED-XRF.
La técnica de objetivo secundario patentada
WAG (geometría angular) proporciona los
mejores resultados para el análisis de
elementos mayores, elementos menores y
oligoelementos.
El tubo de rayos X excita las líneas K
características de un objetivo secundario
(un metal puro) que se utilizan para excitar
la muestra «monocromáticamente”.
Mediante el uso de objetivos secundarios,
los límites de detección para ciertos
elementos pueden reducirse aún más.
Estos límites de detección más bajos hacen
que el EX-6600 & X-7600 resulte adecuado
para una gama más amplia de aplicaciones
que anteriormente no habían sido accesibles
a los instrumentos ED-XRF convencionales,
y convierten este instrumento en el
analizador elemental más versátil del
mercado.
Objetivo
secundario
Tubo de
Rayos X
D
de ete
riv ct
a d or
e s de
ilic
io
Sample
Objetivo secundario versus
excitación directa (ejemplo):
el
modo
de
La figura muestra la gran mejoría de la relación
pico/fondo cuando se utiliza la excitación de
objetivo secundario (véase el espectro azul del
contorno) frente al uso del modo de excitación
directa (véase principal espectro rojo).
Xenemetrix Espectrómetros ED-XRF de Laboratorio
Especificaciones del Sistema
Especificaciones del Sistema
EX-6600
X-7600
Rango de detección
C(6)-Fm(100) / F(9)-Fm(100)
C(6)-Fm(100)
Concentración detectable
sub - ppm and up to 100%
ppb and up to 100%
Capacidad de medición
Generación de Rayos X
Tubo de Rayos X
ánodo Rh (Mo, W, Ag, Cr, Pd optional)
Fuente de Rayos X
60kV, 300W
Tipo de excitación
60kV, 400W
Directo con excitación de objetivo secundario
Estabilidad
Precisión 0.1% a temperatura ambiente
Detección de Rayos X
Detector
Detector de deriva de silicio (SDD)
Resolución (FWHM)
125eV ± 5eV
Be / Detector de ventana delgada LE
optimizado
Tipo de ventana
ventana ultra delgada LE optimizada de
segunda generación
Características generales
Tomador de muestras
10/20 posiciones
Ambiente de Trabajo
Aire/ Vacío/ Helio
Filtros de tubo
8 software seleccionables
Objetivos secundarios
Ocho software seleccionables : Si, Ti, Fe, Gd, Ge, Zr, Mo & Sn
Suministro de energía
110-230VAC 50/60Hz
Procesamiento de pulsos
La tecnología óptica
de rayos-X
Dimensiones del sistema
(L x W x H, cm)
Analizador multicanal digital de alta velocidad (DPP)
•
patentada WAG ® (geometría angular)
Sin empaquetar: 85 x 85 x 105, Empaquetado: 145 x 95 x 135
Peso del sistema
170kg (neto), 220kg (bruto)
Dimensiones de la cámara
28cm diameter, H=6cm
Computadora
PC Integrado
Software
Software operativo
Control
Paquete de análisis nEXt™ , funciona bajo Microsoft Windows™ OS incluyendo software
básico de parámetros fundamentales
Control automático de excitación, detección y procesamiento de datos
Procesamiento de espectro
Punto de escape automático y eliminación del entorno. Estadísticas graficas
Algoritmos de análisis cuantitativo
Regresión de elementos múltiples con correcciones entre elementos (seis modelos disponibles). Métodos de intensidad de filtro digital, de ajuste, neto y bruto
Informes
Opciones a coste adicional
Impresión de datos de usuario personalizable y traslado a la hoja de datos
20 posiciones carrusel del tomador de muestras automático; Parámetros Fundamentales
profesionales; Detectores de elementos ligeros optimizados (EX-6600)
The Power to Change Energy Into Information
Las aplicaciones clave
Minería y Minerales: cemento, piedra caliza, arena, arcilla, bauxita, roca de fosfato, yeso y otros
Metalúrgica: investigación y control de calidad de los diferentes procesos de la industria metalúrgica en
aceros inoxidables, hierros fundidos, clasificación de metales y otros
Ambiental: aguas residuales, cumplimiento de RoHS, la contaminación del aire, suelos y terrenos, control
de emisiones y otros
Petroquímica: Azufre y ULS en combustibles, monitoreo de aceites lubricantes, aditivos, metales de
desgaste y otros
Investigación académica: estudios académicos de ciencias de los materiales, ingeniería química,
electrónica y otros
Polímeros: análisis de materias primas de plástico, PVC, aditivos, residuos y otros
Espesor del revestimiento y Láminas delgadas: análisis de recubrimientos multicapa, revestimiento de
acero, impurezas y otros
Alimentos, productos cosméticos y farmacéutica: control de aditivos, materias primas, metales
peligrosos, calidad del envasado y otros
Distribuciones en todo el mundo:
América del Norte, América Latina, Europa, Asia, Australia, África y Medio Oriente
Xenemetrix Ltd., una empresa con más de 30 años
de experiencia, se especializa en el diseño, desarrollo,
producción y comercialización de sistemas de
Fluorescencia de Rayos X por Energía Dispersiva
(EDXRF).
Xenemetrix
continúa
desarrollando
tecnologías altamente innovadoras y soluciones que se
adaptan a los desafíos analíticos cada vez más
grandes de hoy en día, realizando análisis elemental
no destructivo a partir de Carbono (6) a Fermio (100),
al tiempo que proporciona los límites de detección de
bajas partes por mil millones (ppb) a un alto porcentaje
en peso (% en peso).
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