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ESCUELA SUPERIOR POLITÉCNICA DE CHIMBORAZO
FACULTAD DE INFORMÁTICA Y ELECTRÓNICA
ESCUELA DE INGENIERÍA ENELECTRÓNICA ENCONTROL Y
REDES INDUSTRIALES
GUÍA PARA EL
EXAMEN COMPLEXIVO
Tecnólogo en Informática Aplicada
CONTENIDO
1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.
9.
1.
PRESENTACIÓN
OBJETIVO
CARACTERÍSTICAS DEL EXAMEN COMPLEXIVO
EVALUACION
TEMAS, SUBTEMAS
PREGUNTAS Y PONDERACIÓN
EJEMPLOS
BIBLIOGRAFÍA
INSTRUCTIVO PARA EL ESTUDIANTE
PRESENTACIÓN
Con fecha 09 de Abril del 2014, el Consejo de Educación Superior aprobó reformas al Reglamento
de Régimen Académico, de entre las cuales está la Disposición Transitoria Quinta, acápite e) “Los
estudiantes que hayan finalizado sus estudios antes del 21 de noviembre de 2008, deberán aprobar
un examen Complexivo o de grado articulado al perfil de una carrera o programa vigente o no
vigente habilitada para registro de títulos. En caso que la carrera o programa ya no sea ofertada por
la IES. El estudiante podrá homologar estudios en una carrera o programa vigente, de conformidad
con lo establecido en el presente Reglamento, antes de la realización del correspondiente examen
de grado. A partir del 21 de mayo de 2015 estos estudiantes deberán acogerse a la disposición
general cuarta del presente Reglamento"
La presente guía es un documento institucional, dirigida al estudiante de la Escuela de Ingeniería en
Electrónica y Tecnología en Computación de la ESPOCH y que pretende facilitar la comprensión de
las particularidades del Examen Complexivo al que puede acceder como alternativa para su de
titulación.
En tal virtud, la Escuela de Ingeniería Electrónica en Control y Redes Industriales de la ESPOCH
tomando como sustento estas disposiciones legales y con la intención de proporcionar un
mecanismo de información y orientación del estudiante politécnico, prepara y entrega la presente
guía.
2.
OBJETIVO
Entregar al estudiante de la Escuela de Ingeniería en Electrónica y Tecnología en Computación de la
ESPOCH una guía para rendir el Examen Complexivo en el marco de las disposiciones legales
implementadas por el Consejo de Educación Superior como alternativa de titulación de estudiantes
de tercer nivel.
3.
CARACTERÍSTICAS DEL EXAMEN COMPLEXIVO
Entre las características del Examen Complexivo que se implementa en la Escuela de Ingeniería en
Electrónica y Tecnología en Computación de la ESPOCH se anotan:
4.

Es una forma de evaluación total o final que permite valorar los logros o resultados de
aprendizaje del futuro profesional, previstos en la planificación curricular de la carrera.

Este mecanismo de titulación está contemplado en la estructura curricular de las Escuelas
de Ingeniería en Electrónica de la ESPOCH y para el caso de los estudiantes que han
concluido la malla curricular antes del 21 de noviembre de 2008 (es decir, haber aprobado
hasta el período Marzo – Agosto 2008) es la única opción de titulación prevista en el
Reglamento de Régimen Académico.

Esta forma de titulación, al igual que los otros mecanismos de titulación en la formación de
grado, tiene un nivel de complejidad, tiempo de preparación y demostración de
competencias (conocimientos, aptitudes y actitudes) por parte del estudiante, coherentes
con las exigencias profesionales.

El Examen Complexivo guarda correspondencia con los aprendizajes adquiridos en la carrera
y utiliza un nivel de argumentación coherente con los dominios del campo del conocimiento
abordados por la profesión.

El Examen Complexivo se sustenta en el campo de formación de la praxis profesional.
EVALUACION
Las preguntas serán de selección múltiple con una sola opción válida. El examen
contemplará una duración de 1 hora para la evaluación teórica y de 2 horas para la
evaluación práctica, y deberá ser aprobado con una nota mínima de 14,00 puntos sobre
20,00.
En caso de que un estudiante no apruebe el primer examen Complexivo, podrá rendir un
segundo examen por una sola vez, en fechas que posteriormente se definirán y que serán
publicadas en la página web de la institución.
5.
TEMAS, SUBTEMAS
a.
Examen complexivo para optar por el título de Tecnólogo en Informática Aplicada
Las asignaturas, temas y subtemas a evaluar son los que a continuación se detallan:
ASIGNATURA
CIRCUITOS II
TEMA
UNIDAD 1: CONCEPTOS Y DEFINICIÓN
DE CIRCUITOS
UNIDAD 2:LEYES EXPERIMENTALES Y
CIRCUITOS SIMPLES
UNIDAD 3: TÉCNICAS PARA EL
ANÁLISIS DE CIRCUITOS.
UNIDAD 4: FASORES.
UNIDAD 5: POTENCIA PROMEDIO Y
VALORES RMS.
UNIDAD 6: CIRCUITOS TRIFASICOS.
ELECTRONICA
ANALOGICA
UNIDAD 1 Diodos semiconductores
UNIDAD 2 Aplicaciones con Diodos
UNIDAD 3 Transistores bipolares de unión
UNIDAD 4 Polarización de DC-BJT
SUBTEMA
1.1 Tipos de fuentes.
1.2 Elementos de circuitos.
1.3 Corriente, tensión y potencia.
1.4 Signos convencionales.
1.5 Elementos en arreglo serie y en paralelo.
2.1 Ley de Ohm.
2.2 Leyes de Kirchhoff: Ley de tensión. Ley de
corriente.
2.3 Circuito de un solo lazo.
2.4 Circuito con un solo par de nodos.
2.5 Combinación de resistencias y de fuentes.
2.6 Divisores de tensión y corriente
3.1 Análisis de malla.
3.2 Análisis de nodos.
3.3Transformacion de fuentes.
3.4 linealidad y superposición.
3.5 Teorema de Thevenin.
3.6 Teorema de Norton.
3.7 Teorema de la máxima transferencia de
potencia.
4.1 Características de la Función excitatriz
Senoidal.
4.2 Aplicación a circuitos sencillos.
4.3 Función excitatriz compleja.
4.4 El fasor.
4.5 Relaciones fasoriales para R, L y C.
4.6 Impedancia y admitancia. Problemas de
aplicación.
4.7 Diagramas fasoriales.
5.1 Potencia instantánea.
5.2 Potencia Promedio.
5.3 Valores eficaces de corriente y tensión.
5.4 Potencia activa y factor de potencia.
5.5 Potencia reactiva, aparente y compleja.
5.6 Mejoramiento del factor de potencia.
6.1 Generación de voltajes Trifásicos.
6.2 Sistemas conectados en Estrella y en Delta.
6.3 Cargas balanceadas.
6.4 uso del vatímetro.
1.1 Materiales tipo P y tipo N
1.2 Recta de carga
1.3 Niveles de resistencia.
2.1 Análisis mediante la recta de carga.
2.2 Configuraciones de diodos.
2.3 Diodo como rectificador.
2.4 Niveles de resistencia.
2.5 Recortadores.
2.6 Recortadores de nivel.
2.7 Diodo zener.
2.8 Circuitos multiplicadores de voltaje.
3.1 Introducción.
3.2 Operación del transistor.
3.3 Regiones: activa, de corte y de saturación.
3.4 Configuraciones del transistor.
3.5 Acción amplificadora del transistor.
4.1 Introducción.
4.2 Punto de operación.
4.3 Circuitos de polarización.
4.4 Operaciones de diseño.
UNIDAD 5 Polarización de DC-BJT
UNIDAD 6 Polarización del FET
UNIDAD 7 Modelaje de transistores
DISPOSITIVOS
ELECTRONICOS
UNIDAD 1 FUENTES DE VOLTAJE
UNIDAD 2 DISPOSITIVOS DE 4 CAPAS
UNIDAD 3 RETROALIMENTACIÓN
UNIDAD 4 AMPLIFICADORES
OPERACIONALES
UNIDAD 5 CIRCUITOS INTEGRADOS
LINEALES
ELECTRONICA
DIGITAL
UNIDAD 1 FLIP - FLOPS
5.1 Introducción
5.2 Construcción y características de los JFET.
5.3 Tipos de MOSFET.
5.4 VMOS.
5.5 CMOS.
6.1 Introducción
6.2 Configuraciones.
6.3 MOSFET.
7.1 Introducción
7,2 Amplificación en el dominio AC.
7.3 Modelaje de los transistores BJT.
7.4 Parámetros: Zi, Zo ,Av, A
1.1 Valor medio
1.2 Valor RMS
1.3 Rectificación De Media Onda
1.4 Rectificador De Onda Completa.
1.5 Rectificación De Onda Completa Red
Puente
1.6 Filtros : C / LC / Π
1.7 Reguladores De Voltaje: Zener / Con
Transistores
2.1 Diodo Shockley.
2.2 Rectificador controlado de Silicio.
2.2.1 Operación Básica.
2.2.2 Activación / Desactivación
2.2.3 Protección dv/dt di/dt.
2.3 Otros Dispositivos de cuatro capas
2.3.1 DIAC
2.3.2 TRIAC
2.3.3 Reguladores Electrónicos.
3.1 Retroalimentación Negativa
3.1.1 Parámetros Característicos
3.2 Retroalimentación Positiva
3.2.1 Osciladores
3.2.2 Desplazamiento De Fase
3.2.3 Puente De Wien
3.2.4 Colpitts - Hartley - Clapp
3.3 Oscilador De Cristal
4.1 Método De Análisis Lazo Abierto / Lazo
Cerrado
4.2 Seguidor Unitario o Seguidor Acoplador De
Voltaje
4.3 Comparadores / Detectores de Nivel de
Voltaje.
4.4 Amplificador Inversor / No Inversor.
4.5 Amplificador Sumador, Sumador Inversor.
4.6 Restador, Amplificador de Diferencias.
4.7 Diferenciador / Integrador.
5.1 Temporizador 555
5.2 Modos de Funcionamiento astable /
monoestable
5.3 Oscilador Controlado por Voltaje ( VCO ).
5.4 Conversión Digital Analógica (Red En
Escalera)
5.5 Funcionamiento Del Convertidor D / A.
5.6 Conversión Analógica Digital A / D.
5.7 Técnicas de conversión
1.1 El Latch básico.
1.2 Retardos de propagación.
1.3 Latch asincrónico: S, R, D, T, J-K, maestro –
esclavo.
1.4 El multiplexor con Latch.
1.5 Diseño y conversión de Latch.
1.6 El reloj, tipos y tiempos: Tsu, Th.
1.7 Flip Flop D maestros – esclavo.
1.8 Flip flops disparados por flaco: T, J-K, J-K
maestro-esclavo.
1.9 Latch vs. Flip flops.
1.10 Registro con Flip Flops.
UNIDAD 2 Diseño de FF
2.1 Diseño lógico secuencial.
2.2 Flip-Flops: D, T, J-K.
2.3 Registros con FF.
UNIDAD 3 Máquinas secuenciales
síncronas
3.1 Diagramas de estado.
3.2 Clases de máquinas A, B, C, D, E.
3.3 Diseño de máquinas secuenciales síncronas
mediante máquinas de estado.
3.4 Contadores.
3.5 Registros.
UNIDAD 4 Introducción a VHDL
4.1 Generalidades.
4.2 Introducción a Xilinx ISE.
4.3 VHDL, organización y arquitectura.
4.4 Operadores y expresiones.
4.5 Tipos de datos.
4.6 Atributos.
4.7 Declaraciones de constantes, variables y
señales.
4.8 Declaración de entidad y arquitectura.
UNIDAD 5 Combinacional con VHDL
UNIDAD 6 Diseño de controladores
digitales mediante ASM y VHDL
5.1 Programación de estructuras básicas
mediante declaraciones concurrentes.
5.2 Programación y estructuras básicas
mediante declaraciones secuenciales.
6.1 Simbología ASM.
6.2 Diseño de controladores secuenciales
síncronos mediantes diagramas ASM.
6.3 Implementación de diagramas ASM
mediante VHDL.
LENGUAJES
DE
PROGRAMACION II
UNIDAD 1 Introducción al desarrollo de
software
UNIDAD 2 Fundamentos de la
Programación Orientada a Objetos (POO)
UNIDAD 3 Entorno de desarrollo integrado
de software (IDE) y lenguaje de
programación orientada a objetos (LPOO)
1.1 Proceso de desarrollo de software
1.2 Paradigmas de desarrollo de software
1.3 Técnicas de programación
2.1 Conceptos fundamentales y características
de POO.
2.2 Clases y objetos
2.3 Atributos y comportamiento
2.4 Abstracción
2.5 Encapsulación
2.6 Herencia
2.7 Polimorfismo
2.8 Relaciones entre clases
2.9 Diagramas de Clases. Graficación en UML
2.10 Ejercicios
3.1 Conceptos y características del IDE.
3.2 Proyectos en consola.
3.3 Proyectos en ambiente visual.
3.4 Variables, operadores y expresiones.
Sentencias.
3.5 Estructuras de control.
3.6 Implementación de clases y objetos.
3.7 Arreglos y colecciones.
BASE DE DATOS
UNIDAD 1. INTRODUCCIÓN A LA
TECNOLOGÍA DE ALMACENAMIENTO
DE DATOS
UNIDAD 2. DISEÑO DE BASE DE
DATOS RELACIONALES.
6.
DE
2.1 Modelo Conceptual: Entidad Relación
Asociaciones entre entidades, Cardinalidad de
Asociaciones
Claves candidatas y claves primarias, Atributos
multivaluados
Reglas del Negocio
2.2 Modelo Lógico:Relacional
Modelo Lógico
Transformación de entidades y relaciones
3.1 Introducción.
3.2 Comandos SQL – DDL (lenguaje de
definición de datos).
3.3 Comandos SQL – DML (lenguaje de
manipulación de datos).
1.1 Definición y conceptos básicos
1.2 Tipos de redes y topologías
1.3 Arquitectura de Red
1.4 Modelo OSI
1.5 Modelo TCP/IP
UNIDAD 2. SQL
REDES
COMPUTADORES I
3.8 Manejo de errores y excepciones.
3.9 Herencia. Polimorfismo.
3.10 Definición y manejo de componentes.
3.11 Manejo de eventos.
3.12 Gráficos y animación.
3.13 Almacenamiento de Información.
3.14 Tópicos especiales.
3.15 Ejercicios y aplicaciones.
1.1 Definiciones generales: dato, base de datos,
sistemas de gestión de base de datos (SGBD).
1.2 Enfoque archivos VS. base de datos.
Sistemas de base de datos: definición y
componentes, objetivos.
UNIDAD 1 INTRODUCCIÓN
UNIDAD 2 CAPA FISICA
2.1 Funciones de la capa física
2.2 Características del canal de transmisión.
2.3 Transmisión de Señales
2.4 Medios de Transmisión
UNIDAD 3 CAPA DE ENLACE DE
DATOS
3.1 Funciones de la capa de enlace
3.2 Entramado
3.3 Control de Flujo
3.4 Control de Errores
3.5 Compartición de Medios
UNIDAD 4 REDES DE AREA LOCAL
4.1 Ethernet
4.2 Formatos de la Cabecera
4.3 Tecnologías Ethernet
4.4 Operaciones del Conmutador
ESTRUCTURA Y PONDERACIÓN DEL EXAMEN COMPLEXIVO
La estructura del Examen Complexivo se basa en dos componentes:
a.
Prueba de Base Estructurada: con las siguientes características:
Tipo de prueba
Tipo de preguntas
Número de distractores
Número de preguntas
Objetiva
Selección múltiple
Cuatro (4)
Sesenta (60)
Tiempo de duración de la prueba
Ponderación
Evaluación
b.
Prueba de base no estructurada: con las siguientes características:
Tipo de prueba
Tipo de preguntas o problemas
Número de preguntas
Tiempo de duración de la prueba
Ponderación
Evaluadores
7.
Sesenta (60) minutos
Cuarenta por ciento (40%) de la nota final
Matriz de resultados
No estructurada
Libre
Tres (3)
Ciento Veinte (120) minutos
Sesenta por ciento (60%) de la nota final
Tribunal del Examen
EJEMPLOS
Para el caso de las pruebas objetivas se utilizarán preguntas (reactivos), debidamente validados,
sobre asignaturas del campo de la praxis profesional, que a manera de ejemplo se muestran a
continuación:
Pregunta 1. Si se tiene implementada la clase "señales", cuáles serían sus propiedades?
A)
B)
C)
D)
Tipo, periódicas, frecuencia y periodo
Tipo, intensidad, periódicas, aperiódicas, frecuencia y periodo
Tipo, intensidad, aperiódicas y periodo
) Intensidad, periódicas, aperiódicas y frecuencia
Pregunta 2. Si se tiene implementada la clase "señales" con el método "intensidad", cómo se realiza
una instancia de la misma?
A) señales analogica = new analogica();
B) señales analogica = new digital(intensidad, 10);
C) señales analogica = new señales(); m=analogica.intensidad(a);
D) señales m = new señales(); analogica=m.analogica(intensidad);
Pregunta 3. La figura representa una transformación de F/F, por tanto, que funciones corresponden
al bloque de arreglo combinacional (&):
A)
B)
C)
D)
Pregunta 4. La figura muestra un registro con F/F, de acuerdo a la clasificación según el tipo de
entrada/salida, que tipo es:
A)
B)
C)
D)
SISO
PISO
PIPO
SIPO
Pregunta 5. En un regulador de voltaje con un diodo Zener, alimentados por un voltaje directo Vi;
el diodo zener está en estado encendido, si la resistencia de carga RL se desconecta la potencia que
disipa el diodo Zener es igual a:
A)
B)
C)
D)
=
∗(
=
∗(
=
=
)
∗( )
∗(
−
−
)
)
Pregunta 6. Qué tipo de Ruta Estática en IPV6 se debe usar en el Router de la Empresa para poder
enviar tráfico de Red a Internet:
A)
B)
C)
D)
Ruta Estática Normal
Ruta Estática Sumarizada
Ruta Estática por Defecto
Ruta estática Flotante
8.
BIBLIOGRAFÍA
Las referencias bibliográficas que se recomiendan son las siguientes:
A) Circuitos
 Hayt Junior William H., Kemmerly Jack E., Durbin Steven M (2012). Análisis de Circuitos en
Ingeniería (8° Ed.), McGraw-Hill Educación
B) Electrónica Digital
 Tokheim, R. (2008). Electrónica Digital: principios y aplicaciones (7a ed.). España: McGrawHilI Interamericana.
 Brown, S., & Vranesic, Z. (2006). Fundamentos de lógica digital con diseño VHDL (2a ed.).
España: McGraw-HilI Interamericana.
C) Electrónica Analógica y Dispositivos Electrónicos
 BOYLESTAD, R. (2009) ELECTRONICA: TEORÍA DE CIRCUITOS Y DISPOSITIVOS ELECTRÓNICOS,
Prentice Hall, Décima Edición
 FLOYD, T. (2008) Dispositivos Electrónicos, Pearson Prentice Hall, octava edición.
 MALONEY, T. J. (2006) Electrónica Industrial Moderna, PEARSON EDUCATION, Quinta
Edición
D) Lenguajes de Programación
 Martinez, J. (2014). Fundamentos de programación en Java. Madrid: EME.
 Lemay, L. (2008). Java 6. España: Anaya.
 Joyanes, L. (2005). Programación orientada a objetos. Madrid: McGraw-Hill.
E) Base de Datos
 Pérez Marqués, María, “SQL Server 2008 R2: motor de base de datos y administración”,
editorial ALFAOMEGA, Año 2012
 Reinosa, Enrique José , Y otros, “Bases de Datos”, editorial ALFAOMEGA, Año 2012
F) Redes de Computadores
 TANENBAUM, Andrew, Redes de Computadoras Prentice Hall, 2012:
 STALLINGS, William, Data and Computer Communications. 9 ª Ed Prentice Hall, 2010.
9.
INSTRUCTIVO PARA EL ESTUDIANTE
El estudiante que opta por rendir el Examen Complexivo deberá observar las siguientes
consideraciones:
I.
Haber recibido la aprobación oficial de la inscripción para la presentación del Examen
Complexivo por parte de la Escuela de Ingeniería en Electrónica en Control y Redes
Industriales.
II. Cancelar el valor estipulado en la Tesorería de la Institución
III. Presentarse con puntualidad al lugar de recepción del Examen Complexivo en la fecha y hora
establecidas por la Escuela de Ingeniería en Electrónica en Control y Redes Industriales.
IV. Identificarse con documentos originales (cédula de ciudadanía o pasaporte) y la factura de
pago ante el Presidente del Tribunal de recepción del Examen Complexivo.
V. Observar las disposiciones que cada Coordinador de Comisiones de Examen Complexivo
proporcionará al momento de la prueba.
VI. Desarrollar con la mejor pertinencia las pruebas correspondientes al Examen Complexivo.
VII. Para la prueba estructurada de tipo objetiva, se podrá utilizar la plataforma virtual
institucional.
VIII. Para la prueba no estructurada, recibirá las preguntas / problemas específicos que deberá
desarrollar el estudiante, de temas y subtemas específicos de la carrera.
IX. El estudiante deberá identificarse en la prueba escribiendo sus nombres completos, número
de cédula de ciudadanía o pasaporte.
X. Al concluir las pruebas, deberá entregar al Coordinador de las Pruebas el desarrollo
efectuado.
XI. Para la prueba estructurada esta totalmente prohibido el uso de dispositivos de
comunicación como celulares, tablets, etc.
XII. Cualquier intento de fraude comprobado, será penalizado con el retiro de la prueba
estructurada y tendrá una calificación de 0 puntos.
XIII. De no estar conforme con las calificaciones de la prueba no estructurada, podrá ejercer el
derecho de recalificación establecido.
Ing. Alberto Arellano A.
DIRECTOR EIECRI
Dra. Narcisa Salazar
MIEMBRO COMISION EXAMEN COMPLEXIVO
Dr. Alonso Alvarez
MIEMBRO COMISION EXAMEN COMPLEXIVO