Estudios de habilidad Cg y Cgk en CMM

Estudios de Habilidad en la medición con CMM
Ing. Alfonso Cotera Flores
USUARIO según (RAE):
• adj. Que usa ordinariamente algo.
• der. Dicho de una persona: Que tiene
derecho de usar de una cosa ajena con cierta
limitación.
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores
Tema: Estudios de Habilidad en CMM
Dpto:Sala de Medición Fina PPC
Fecha:2010/10/26
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TIPOS DE USUARIOS DE CMM:
• PROVEEDOR DE SERVICIOS.- Persona
que opera una CMM para evaluarla,
calibrarla, verificarla y ajustarla.
• CLIENTE/OPERADOR.- Persona que
opera una CMM para la Medición y/o
calibración de piezas ó patrones.
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Tema: Estudios de Habilidad en CMM
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PATRONES
PRIMARIOS
MAPEO
DEL
PROCESO:
CALIBRACIÓN
Y AJUSTE
VERIFICACIÓN
INTERMEDIA
TOLERANCIA
DE
FABRICACIÓN
PIEZAS
PRODUCIDAS
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PIEZAS
MEDIDAS
Tema: Estudios de Habilidad en CMM
PIEZAS
VENDIDAS
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PIEZAS
UTILIZADAS
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MAPEO
DEL
PROCESO:
PATRONES
PRIMARIOS
CALIBRACIÓN
Y AJUSTE
VERIFICACIÓN
INTERMEDIA
Cg&Cgk
TOLERANCIA
DE
FABRICACIÓN
ESTUDIOS
DE
HABILIDAD
PIEZAS
PRODUCIDAS
PIEZAS
MEDIDAS
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PIEZAS
VENDIDAS
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PIEZAS
UTILIZADAS
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ESTUDIOS DE HABILIDAD Cg&Cgk
Cg (Capability Gages).- Índice de Capacidad
Potencial de sistemas de medición.
Cg
0 ,2  T

4  sg
Cgk (Capability Gages katayori) .- Índice de la
capacidad real de los sistemas de medición.
0,1 T  Bi
Cgk 
2  sg
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Donde:
T= Tolerancia de fabricación
Sg= Desviación Estándar de medición de una serie
de mediciones a un patrón ó máster.
Bi= Bías, Desviación sistemática de medición
Bi  xg  xm
x g  Promedio de una serie de valores del
patrón usando un medio de medición.
xm 
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Valor de referencia del patrón.
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Condición de aceptación:
• Indice de capacidad
Cg > 1,33
• Indice de Habilida
Cgk > 1,33
• Sistema de tolerancia Minia de evaluación
Tmin
 80 
  S g   10Bi 
 3
Tmin  Especificación
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Patrones de referencia utilizados en un CMM:
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Artefacto diseñado para evaluar elementos geométricos:
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Anillo patrón Diámetro 50,0007 mm
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Anillo patrón Diámetro 50,0007 mm
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores
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Bloque patrón Distancia 50,000 mm
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Bloque patrón Distancia 50,000 mm
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores
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Bloque patrón Distancia 400,000 mm
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores
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Fecha:2010/10/26
15
Bloque patrón Distancia 400,000 mm
Elaboró:Ing. Alfonso Cotera Flores
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