Advances en en el Análisis de Contaminantes en Membranas Ventajas de combinar CEI con SEM/EDX Hasta el momento, Scanning Electron Microscopy (SEM) y Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDX) has sido los métodos preferidos para obtener información sobre la topografía de la superfçicie de la membrane y su composición. No obstante, tiene la limitación de no poder ubicar los components identificados en la superficie de la membrane ni de su capacidad de interacción. Chromatic Elemental Imaging (CEI), una de las novedades de Avista® Technologies, ofrece distintas ventajas sobre la tecnología disponible actualmente en términos de identificar la distribución especial y la concentración relativa de los elementos con gran exactitud y resolución. Como resultado, CEI facilita información de como se inicia y crece la capa contaminante en de la superfície de la membrane. Como consecuencia, se tiene conocimiento de la interacción de los distintos contaminantes, orgánicos e inorgánicos, y como algunas species químicas pueden actuar como factores de nucleación y producer ensuciamiento severo. Por tanto, la tecnología CEI ayuda a identificar contaminantes específicos que pueden provocar efectos negatives sobre las prestaciones operativas de la membrane. La industria de membranas puede beneficiarse de la tecnología CEI dado que marc alas directrices en el diagnostic de membranas y ofrece un marco de desarrollo de nuevos productos químicos que sean capaces de contrarestar los efectos de los contaminantes de forma más directa y efectiva. SEM EDX vs SEM EDX & CEI