XDS Rapid Content™ Analyser - con software ISIscan™ El Analizador Rápido de Contenido XDS™ con software ISIscan™ realiza análisis rápidos de muestras sólidas y semisólidas sin destruir las mismas. Características y ventajas Excelencia técnica • Análisis rápidos de muestras líquidas, sólidas y viscosas sin destruir las mismas para el control rutinario y las aplicaciones del laboratorio de investigación. • Un desarrollo analítico superior proporciona unos resultados de alta calidad en menos de 60 segundos. • La estandarización de los instrumentos reduce los costes de calibración ya que permite utilizar la misma calibración en instrumentos distintos. • 400 - 2.500 nm de rango de medida con una detección sensible de outlier que minimiza el número de muestras necesarias para establecer un modelo de calibración robusto. • Flexible presentación de la muestra en cubetas de muestra estándar XDS, bolsas de plástico desechables o viales de cristal. • Una solución segura y cuidadosa con el medio ambiente que no conlleva la preparación de la mezcla ni el uso de reactivos o residuos químicos que puedan ser dañinos. • Satisface los requisitos establecidos por NEMA 12/IP55. Se pueden realizar los análisis donde se necesitan los resultados. • Utiliza modelos de calibración PLS, ANN o LOCAL. Al ofrecer un rendimiento sorprendente y una tecnología de barrido patentada que proporciona una excelente capacidad de transferencia, el Analizador Rápido de Contenido XDS™ representa la última novedad dentro de la gama de productos FOSS NIR. Su excelencia técnica garantiza la sencillez de manejo, la eficacia operativa y la capacidad para manipular una amplia gama de tipos de muestras. Dedicated Analytical Solutions Las características tan avanzadas que proporciona la tecnología XDS NIR, junto con el reconocido software WinISI™ para el desarrollo de las calibraciones, minimiza el tiempo de implementación para el instrumento, garantizando una transferencia impecable del modelo de calibración entre los instrumentos. La flexibilidad de la presentación de la muestra permite realizar unas mediciones sencillas y rápidas, y los resultados se obtienen en menos de 1 minuto. Para las operaciones rutinarias el software ISIscan™ proporciona una herramienta, sencilla para el usuario, que agrupa las tecnologías de calibración más innovadoras con el intercambio avanzado de datos (LIMS) y la capacidad de generar informes. El amplio rango de barrido ofrece nuevas oportunidades de medir los distintos parámetros. Para análisis rutinarios o para aplicaciones en el laboratorio de investigación Descripción del sistema El Analizador Rápido de Contenido XDS™ incluye: El Analizador Rápido de Contenido XDS™ es ideal para el laboratorio de investigación en aplicaciones para la industria agro-alimentaria y para análisis rutinarios. Entre las aplicaciones para el laboratorio de investigación se debe resaltar el amplio rango de medida (VIS y NIR) y la flexibilidad en la presentación de la muestra. Ambas cualidades proporcionan una plataforma de análisis muy versátil que es segura y rápida. 1monocromador de laboratorio XDS 1 módulo rápido de contenido XDS™ con módulo para sólidos 1 iris XDS RCM 1 estándar certificado NIRStandards 1 software ISIscan™ 1 conjunto de accesorios XDS 1 manual de instalación y funcionamiento del Analizador En lo concerniente a los análisis rutinarios el aparato puede utilizarse para analizar la materia prima, para controlar el proceso y para analizar el producto acabado. Entre las características más relevantes cabe señalar la facilidad para establecer unas calibraciones robustas, los modelos transferibles de calibración entre los instrumentos, la detección de outlier en todo el espectro para obtener unos resultados seguros, la prueba de trazabilidad del rendimiento NIST y la forma tan versátil en que puede presentarse la muestra. Accesorios Conjunto de cubetas para muestras pequeñas Cubeta para muestras granuladas gruesas Kit para muestras líquidas RCA Software de desarrollo de calibración WinISI III™ Estándar certificado NIRStandar™ Información técnica: Rango de longitud de onda: 400 - 2.500 nm Temperatura de funcionamiento: 5 - 35°C (40 - 95ºF) Humedad operativa: 10 - 90% relativa Sistema de detección dual: Silicon (400 - 1100nm) Sulfuro e plomo (1100 - 2500 nm) Velocidad de adquisición de datos: 2 scan/segundo Resolución espectral: 2 nm Exactitud de longitud de onda:<0,05 nm Dimensiones: 457 x 572 x 387 mm Peso: 31,25 kg Patente americana nº 4,997,280, INSTRUMENTO ESPECTROFOTOMÉTRICO CON CORRECIÓN RÁPIDA DE LA DISTORSIÓN EN LA EXPLORACIÓN FOSS Analytical 69, Slangerupgade DK-3400 Hilleroed Dinamarca Tel.: +45 7010 3370 Fax: +45 7010 3371 [email protected] www.foss.dk P/N 1025903, Edición 1 ES, Marzo 2006 Patente americana nº 6, 031,608 INSTRUMENTO ESPECTROFOTOMÉTRICO CON GRATING RÁPIDO OFFSET PARA MEJORAR EL ENFOQUE