86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-1 Clase 11 1 - MOSFET (III) Modelo equivalente de pequeña señal Abril de 2015 Contenido: 1. Modelo de pequeña señal del MOSFET para baja frecuencia 2. Modelo de pequeña señal del MOSFET para alta frecuencia 3. Modelo de SPICE Lectura recomendada: P. Julian Cap. 5 1 Esta clase es una traducción, realizada por los docentes del curso ”66.25 - Dispositivos Semiconductores - de la FIUBA”, de la correspondiente hecha por el prof. Jesus A. de Alamo para el curso ”6.012 Microelectronic Devices and Circuits” del MIT. Cualquier error debe adjudicarse a la traducción. 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-2 Preguntas disparadoras: • ¿Por qué necesitamos modelar el MOSFET? • ¿Cuál es la topologı́a del circuito eléctrico del modelo de pequeña señal del MOSFET? • ¿Cuales son las principales dependencias de los elementos fundamentales del modelo de pequeña señal para saturación? 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-3 Modelado del MOSFET Hasta ahora tenemos un modelo del MOSFET válido para ”cualquier” señal de entrada: • Corte o Cut-off: ID = 0 • Lineal o triodo: VDS W − VT )VDS ID = µnCox(VGS − L 2 • Saturación: W ID = IDsat = µnCox(VGS −VT )2[1+λ(VDS −VDSsat)] 2L Efecto del Back bias: r r VT (VBS ) = VT o + γ( −2φp − VBS − −2φp) Pero, ¿Qué pasa si tenemos una señal que varı́a en el tiempo? 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-4 Modelado del MOSFET para una señal que varı́a en el tiempo Suponiendo que el MOSFET está en saturación resulta: ID = W µnCox(VGS − vgssen(2πf · t)) − VT )2 2L Obtenemos una ecuación que puede ser resuelta por una computadora, pero que no es práctica para cálculos a mano. Imagı́nense si además el MOSFET está un circuito real, rodeado de resistores, capacitores, otros MOSFETs, generadores de señal, etc. Es necesario obtener algún tipo de modelo simplificado. 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-5 Hipótesis del modelo simplificado: • Si las variaciones de vgs son grandes, no hay más remedio que usar las ecuaciones completas. • Pero si vgs ”no varı́a demasiado”, podemos suponer que hay una relación lineal entre la variación vgs y la variación id resultante: Y buscar un modelo simple que modele esta situación: iD = f1(VGS ) + f2(vgs) 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-6 Es decir, se pretende partir al problema en dos partes: De modo tal que al final obtengamos: iD = ID + id Donde la notación utilizada es: VGS ,ID = señal de contı́nua (polarización o gran señal) vgs,id = señal de alterna (pequeña señal) vGS ,iD = VGS + vgs, ID + id (señal total) 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-7 Modelo linealizado del MOSFET ¿Cómo hacemos esto? Por supuesto, desarrollando iD (vGS ) en serie de Taylor: ∂ID 1 ∂ 2ID 2 iD (VGS + vgs) = ID (VGS ) + |Q · vgs + | · v gs 2 Q ∂VGS 2 ∂VGS Evaluando las derivadas para regimen de saturación: 2 iD (vGS ) = k(VGS − VT )2 + 2k(VGS − VT ) · vgs + k · vgs El modelo linealizado del MOSFET en saturación resulta: iD (vGS ) ' W W µnCox(VGS −VT )2 + µnCox(VGS −VT )vgs 2L L iD (vGS ) ' ID (VGS ) + gm(VGS ) · vgs donde definimos la transconductancia gm [S] como: W gm = µnCox(VGS − VT ) L 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-8 Veamos mediante un ejemplo cómo funciona esta idea: W Para VGS = 2V, VT = 1.5V, 2L µnCox = 1mA/V 2, vgs = 0.1sen(2π · 1kHz · t) y VDS tal que estamos en saturación, • Tenemos por un lado el modelo ”completo”: W iD (vGS ) = µnCox((VGS + vgs) − VT )2 2L iD (vGS ) = 1mA/V 2·((2V +0.1sen(2π·1kHz·t))−1V )2 • Y por otro el modelo aproximado para ”pequeña señal”: iD (vGS ) = ID + gmvgs W ID = µnCox(VGS − VT )2 = 250µA 2L gm = W µnCox(VGS − VT ) = 250µS L iD (vGS ) = 250µA + 250µS · 0.1sen(2π · 1kHz · t) ¿Podemos usar el modelo aproximado? ¿Es útil? 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-9 Comparemos los resultados obtenidos con el ”modelo completo” y con el ”modelo aproximado”: Para vgs = 100mV los resultados son parecidos. ⇒ ¡Pero el modelo linealizado es mucho más simple (apto para cálculos a mano)! ⇒ Puedo pensar las variaciones id como resultado de una fuente de corriente controlada por vgs: ¿Qué pasa con valores más chicos o más grandes de vgs? 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-10 Dejamos los demás parámetros constantes y varı́amos vgs: • Para vgs=50mV la aproximación es excelente: • Para vgs=200mV la aproximación es mala Esto ocurre porque estamos haciendo Taylor en el entorno de VGS . 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-11 Rango de validez del modelo linealizado del MOSFET ¿Cuando es válido el modelo linealizado? Si aceptamos un 10% de error en la linealización: 2 k · vgs < 0.1 · 2k(VGS − VT ) · vgs o sea, vgs < 0.2(VGS − VT ) Ejemplo: Si VGS = 2V y VT = 1.5V, resulta vgs ≤ 100mV Si VGS = 3V y VT = 1.5V, resulta vgs ≤ 300mV La linealización del ”modelo completo” es útil para diferentes dispositivos (MOSFET, diodo, TBJ, etc.) en diferentes regimenes de operación (saturación, lineal, etc.) y es válida dentro de cierto rango acotado. 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-12 2. Modelo de pequeña señal del MOSFET en baja frecuencia Aplicamos la misma idea a pequeñas señales aplicadas sobre cualquiera de las fuentes de polarización: Puntos fundamentales: • Podemos separar la respuesta del dispositivo a la polarización y a la pequeña señal. • Las señales son pequeñas ⇒ la respuesta de los dispositivos es aprox. lineal ⇒ se puede usar el principio de superposición ⇒ los efectos de diferentes señales son independientes. 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-13 Matemáticamente: iD (VGS + vgs, VDS + vds, VBS + vbs) ' ∂ID ∂ID ∂ID ID (VGS , VDS , VBS )+ | vgs + | vds + | vbs ∂VGS Q ∂VDS Q ∂VBS Q Donde Q ≡ punto de polarización (VGS , VDS , VBS ) Corriente id de pequeña señal: id ' gmvgs + govds + gmbvbs Definimos: gm ≡ transconductancia [S] go ≡ salida o conductancia del drain [S] gmb ≡ transconductancia del backgate [S] Luego: ∂ID | gm ' ∂VGS Q ∂ID go ' | ∂VDS Q gmb ∂ID ' | ∂VBS Q 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-14 2 Transconductancia En regimen de saturación: W ID = µnCox(VGS − VT )2[1 + λ(VDS − VDSsat)] 2L Luego (despreciando la modulación del largo del canal): ∂ID W gm = |Q ' µnCox(VGS − VT ) ∂VGS L Lo reescribimos en términos de ID : v u u u u t gm = 2 W µnCoxID L 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-15 Trasconductancia de un nMOSFET (VDS = 2 V ): Modelo circuital equivalente de gm: 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-16 2 Conductancia de salida En regimen de saturación: W ID = µnCox(VGS − VT )2[1 + λ(VDS − VDSsat)] 2L Luego: go = ∂ID W ID |Q = µnCox(VGS − VT )2λ ' ID λ ∝ ∂VDS 2L L La resistencia de salida es: 1 L ro = ∝ go ID 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Conductancia de salida de un nMOSFET: Modelo circuital equivalente de go: Clase 11-17 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-18 2 Transconductancia de Backgate En régimen de saturación (despreciando la modulación del canal): W ID ' µnCox(VGS − VT (VBS ))2 2L Luego: gmb ∂ID W ∂VT = | = µnCox(VGS − VT )(− | ) ∂VBS Q L ∂VBS Q ∂VT |Q ) gmb = gm(− ∂VBS Dado que: r r VT (VBS ) = VT o + γ( −2φp − VBS − −2φp) Resulta: gmb = γgm 2 −2φp − VBS r gmb hereda las dependencias de gm 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-19 El Body del MOSFET es un terminal de control: caracterı́sticas de salida para un barrido de VBS desde VBS = 0V hasta VBS = −3V con ∆VBS = −0.5 V y VGS = 2 V : Modelo circuital equivalente de gmb: 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-20 Modelo completo del MOSFET para pequeña señal: 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-21 3. Modelo de pequeña señal del MOSFET en alta frecuencia Tenemos que incorporar las capacidades. En saturación: Cgs ≡ capacidad intrı́nseca del gate + capacidad de overlap, Cov (+fringe) Cgd ≡ capacidad de overlap, Cov (+fringe) Cgb ≡ (sólo capacidades parásitas) Csb ≡ capacidad zona vaciamiento source + sidewall (+capacidad canal-substrato) Cdb ≡ capacidad zona vaciamiento drain + sidewall Los términos entre paréntesis son menores y se descartan. 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-22 Modelo de pequeña señal del MOSFET para alta frecuencia: Plan para obtener las capacidades del modelo: • Empezamos con Cgs,i – calculamos la carga del canal QG = −(QN + QB ) – calculamos cómo QG cambia con VGS • Sumamos las capacidades Cj de las junturas PN 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-23 Carga de la capa de inversión en saturación QN (VGS ) = W L 0 Qn (y)dy Z =W VGS −VT 0 Z Qn(Vc) dy dVc dVc Siendo: ID dVc = −Ey (y) = − dy W µnQn(Vc) Luego: W 2µn Z VGS −VT 2 QN (VGS ) = − Qn(Vc)dVc 0 ID Recordando: Qn(Vc) = −Cox(VGS − Vc − VT ) Entonces: 2 Z W 2µnCox VGS −VT 2 QN (VGS ) = − (V − V − V ) dVc GS c T 0 ID 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-24 Integramos y substituimos ID para saturación: 2 QN (VGS ) = − W LCox(VGS − VT ) 3 La carga del canal es: QG(VGS ) = −QN (VGS ) − QB,max|indepV GS Capacidad gate-source debido a la capa de inversión (i): Cgs,i = 2 dQG = W LCox dVGS 3 Debemos incluir la capacidad de overlap: 2 Cgs = W LCox + W Cov 3 Capacidad gate-drain - sólo capacidad de overlap: Cgd = W Cov 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-25 Capacidad body-source = Capacidad de juntura del source: Csb = Cj +Cjsw = W L v u u u u t dif f u qsNa +(2Ldif f +W )CJSW 2(φB − VBS ) Capacidad body-drain = Capacidad de juntura del drain: Cdb = Cj +Cjsw = W L v u u u u t dif f u qsNa +(2Ldif f +W )CJSW 2(φB − VBD ) 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-26 Principales conclusiones Modelo de pequeña señal del MOSFET para alta frecuencia: En saturación: gm ∝ v u u u u t W ID L ID go ∝ L Cgs ∝ W LCox 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-27 4. Modelo de simulación del SPICE SPICE es el acrónimo de Simulation Program with Integrated Circuits Emphasis y fue desarrollado por la Universidad de California, en Berkeley, en 1975. Es un estándar de simulación de circuitos electrónicos. Para eso hay que describir el circuito y elegir el tipo de simulación (temporal, en frecuencia, continua, etc.) Vs 1 0 Ra 1 2 Rb 2 0 Rc 3 0 Is 3 2 .DC Vs .PRINT .PRINT .END DC 20.0V ; Se indica la fuente 5.0k 4.0k 1.0k DC 2.0mA 20 20 1 ; Se pide simulación DC DC V(1,2) I(Ra) ; Calculo V,I para Ra DC V(2) I(Rb) 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-28 Y se obtiene un resultado como este: **** DC TRANSFER CURVES Vs V(1,2) I(Ra) 20 6.667 1.333E-03 Vs V(2) I(Rb) 20 13.33 3.333E-03 JOB CONCLUDED TOTAL JOB TIME .13 Hoy en dı́a hay muchas implementaciones de SPICE: • Software no libre: LTSPICE (freeware), PSpice/OrCAD, HSpice, MicroCad, Dr. Spice, Proteus, etc. • Software libre: ASCO tool, GEDA (GPL), MacSpice, Oregano (GPL), Qucs, TclSpice, etc. Todas se basan en los mismos modelos de SPICE y cada una agrega su entorno visual y herramientas propias. 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-29 Modelos de SPICE de MOSFETs Para MOSFETs con L ≥ 1.5µm funciona bien el modelo elemental ”Level 1” de SPICE: Level 1 MOSFET model: .MODEL MODN NMOS LEVEL=1 VTO=1 KP=50u + LAMBDA=.033 GAMMA=.6 PHI=0.8 TOX=1.5E-10 + CGDO=5E-10 CGSO= 5e-10 CJ=1E-4 CJSW=5E-10 + MJ=0.5 PB=0.95 W=5u L=1u Por ejemplo, en Level 1 para calcular la corriente de Drain se usan las ecuaciones: 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-30 Para calcular las capacidades el Level 1 usa por ejemplo: Y las ecuaciones: 86.03/66.25 - Dispositivos Semiconductores - 2015 Clase 11-31 Existen muchos modelos SPICE de MOSFETs Hay una modelos de MOSFETs desde Level 1 a Level 14. El uso, complejidad y precisión de cada uno es diferente. Permiten simular transitorios, temperatura, ruido, etc. Por ejemplo, para MOSFETs sub-µm se usan modelos como el BSIM, ”Berkeley Short-Channel IGFET Model”. Ejemplo: AMI 0.5um Level 3 (AMI Semiconductor Inc., L=0.5um) Para más información ver: ⇒ ”OrCAD PSpice A/D Reference Manual” ⇒ http://ltspice.linear.com/software/scad3.pdf