Difraccion de Rayos X (DRX)

Nanociencias
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Difracción de Rayos X (DRX)
Beneficios
Descripción
Aplicaciones
Difractometro de polvos Miniflex
600 de Rigaku
TiO2
SiO2
Vidrio
(SiO₂)
• Determinar
la
estructura
y
composición de materiales.
• Obtener espesores, densidad y
rugosidad de películas nanométricas
(<150 nm) de una capa y multicapas
por reflectometría.
• Determinar la composición y
estructura en capas epitaxiales sobre
monocristales
(DRX
de
alta
resolución).
• Geometría Bragg-Bretano -2
(Polvos).
• Geometría de haz rasante.
• Reflectometría.
• Ópticas lineales para haz
paralelo y monocromado Kα1
• Geometría
simétrica
y
asimétrica en el modo de alta
resolución (0.0001°), mapas en
espacio recíproco.
• Ópticas puntuales para microdifracción, esfuerzos y textura.
• Detectores de alta velocidad en
el haz difractado.
Determinar la estructura de
materiales, parámetros de red,
composición de fases cualitativa
y cuantitativamente, tamaño de
cristal, esfuerzos residuales,
textura y orientación
de
materiales
policristalinos
y
películas.
Counts
Intensidad de unidad adquirida
Parte interna del Difractometro
X´PERT Pro MRD PANalytical
La difracción de rayos X es una
técnica
no
destructiva
de
caracterización de la estructura de
los materiales cristalinos.
Se cuenta con dos equipos:
Difractometro X´PERY Pro MRD
PANalytical y el Difractometro de
polvos Miniflex 600 de Rigaku.
Resultados
1600
=0.5
ZnO
400
0
1600
400
ZnO + CIGS
=1
0
3600
1600
ZnO + CIGS + Mo
=2
400
0
10
20
30
40
50
60
70
Position [°2Theta] (Copper (Cu))
1
45
11
PDRX de ángulo rasante () de una
celda solar
Reflectometría TiO₂ (50 nm) + SiO₂
(50 nm) sobre vidrio
Difractometro de polvos Miniflex
600 de Rigaku
Patrón de Difracción de Rayos X
en Difractómetro
10
12