Nikon MCT 225 - Metrología Sariki

Metrología Sariki S.A.
Nikon MCT 225
MCT225 ofrece una precisión absoluta para la geometría interior
Este nuevo sistema de Metrología-CT (MCT) de ‘precisión absoluta’ garantiza que
toda la geometría interior y exterior se mida eficazmente. Una fuente patentada de
reflexión de microfocalización con refrigeración líquida y el armario refrigerado por aire
proporcionan una estabilidad a largo plazo y permiten que el MCT225 logre una
especificación de precisión impresionante. Ofrece una precisión de medición superior
y una detección de elementos pequeños para inspeccionar con precisión piezas de
plástico, piezas fundidas pequeñas y conjuntos complejos.
Ventajas:
-50 años de experiencia de metrología de Máquinas de Medición por Coordenadas
combinada con 25 años de experiencia de Tomografía Computarizada con rayos X
(TC)
-Precisión absoluta de 9 + L/50 μm de acuerdo con la VDI/VDE 2630
-Fuente patentada de microfocalización desarrollada para fines de metrología TC
-La mecatrónica de alta precisión aumenta la precisión en la manipulación de
muestras
-Utilización manual y ejecución simple del flujo del proceso de automatización
-La visualización potente y el análisis proporcionan una visión detallada
-Adecuado para una amplia gama de tamaños de muestras y densidad de materiales
Características:
Metrología TC: Inspección 3D no destructiva de geometría interior/exterior
La metrología TC es la fusión de la metrología y la Tomografía Computerizada con
rayos X (TC). Los rayos X se han utilizado durante mucho tiempo para aplicaciones
industriales. Con la TC con rayos X se toma un número de imágenes de rayos X en
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2D en ángulos diferentes alrededor de la muestra. Toda la geometría interior y exterior
se captura cuando los rayos X pasan a través de la muestra. El software de TC
construye un modelo en 3D de la muestra utilizando estas imágenes en 2D. Las
características dimensionales tales como el tamaño, la posición y la forma se pueden
medir directamente utilizando el modelo además de la comparación total pieza contra
CAD, el informe de secciones y el análisis GD&T (Dimensionamiento y Tolerancias
Geométricas).
Precisión absoluta de 9μm + L/50 y 2μm de detectabilidad de elementos
MCT225 ofrece una precisión absoluta de 9μm + L/50, y 2μm de detectabilidad de
elementos. La Precisión Absoluta garantiza la precisión de medición sin exploraciones
comparativas de consumo de tiempo o mediciones de referencia. Las muestras se
colocan simplemente en una mesa giratoria dentro del recinto y se miden.
Un componente clave del sistema MCT225 es la fuente de rayos X de
microfocalización de 225 Kw desarrollado por Nikon Metrology. Produce imágenes
increíblemente nítidas con niveles bajos de ruido, permitiendo niveles de aumento de
hasta 150x con detección de elemento de 2µm.
El MCT225 se calibra previamente utilizando estándares de precisión conocidos del
instituto nacional de medición del Reino Unido (NPL) y se verifican utilizando las
directrices de VDI/VDE 2630 para Tomografía Computerizada en Medición
Dimensional. La “Precisión Absoluta” garantiza la precisión de medición sin
exploraciones comparativas de consumo de tiempo o mediciones de referencia; las
muestras se colocan simplemente en una mesa giratoria dentro del recinto y se
miden.
La mecatrónica de alta precisión aumenta la precisión de manipulación de
muestras
El MCT225 está equipado con un manipulador de muestras de gran capacidad y
precisión de 5 ejes totalmente programable. El manipulador se ha optimizado a través
del Análisis de Elementos Finitos. El diseño del manipulador se benefició de los 50
años de experiencia en el desarrollo de MMCs para asegurar un movimiento de la
muestra de muy alta precisión.
Las guías lineales de alta precisión y la corrección de error de desplazamiento del eje
ofrecen un movimiento preciso y repetible dentro del recinto a temperatura controlada.
Los encóderes ópticos de alta resolución también se adaptan a esta estrategia para la
máxima precisión. Las imágenes de rayos X tomadas por un detector de 4
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Megapíxeles de alta resolución son el punto de inicio para las imágenes digitales y el
procesamiento de gran rendimiento del sistema.
Manipulador de gran capacidad para muestras de hasta 5 kg que se adaptan en un
volumen de medición de 250 mm de diámetro y 450 mm de altura.
Desplazamiento largo del manipulador: 480 mm (18.89”) en la dirección x, 450 mm
(17.71”) en la dirección y, 730 mm (28.74”) en la dirección z y rotación en 360 grados.
Utilización manual y ejecución simple del flujo del proceso de automatización
El asistente único de TC guía al operario en cada paso del recorrido desde la carga
de la muestra a crear el informe de inspección final. La configuración se optimiza
automáticamente para precisión y calidad de imagen sin comprometer a la
productividad. La reconstrucción acelerada del volumen de la muestra, utilizando
tarjetas gráficas optimizadas, reduce el tiempo total del proceso de horas a minutos.
Las macros permiten que los flujos de trabajo automatizados ejecuten la captura de
datos repetida de TC. Tras registrar una macro, un operario posiciona una muestra en
la mesa del manipulador y comienza el procedimiento. El sistema MCT225 mueve
automáticamente la muestra mientras se van tomando las imágenes de rayos X.
Cuando se completa el ciclo de imágenes, el operario puede cambiar las muestras y
reiniciar el procedimiento.
La visualización potente y el análisis proporcionan una visión detallada
El asistente único de TC guía al operario en cada paso del recorrido desde la carga
de la muestra a crear el informe de inspección final. La configuración se optimiza
automáticamente para precisión y calidad de imagen sin comprometer la
productividad. La reconstrucción acelerada del volumen de la muestra, utilizando
tarjetas gráficas optimizadas, reduce el tiempo total del proceso de horas a minutos.
Las características de los informes y análisis incluyen:
-Comparación de Pieza contra CAD con color mapping
-Medición de la superficie utilizando datos vóxel y superficie
-Inspección del elemento geométrico
-Dimensionamiento y Tolerancia Geométricas
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-Visualización en 3D del volumen de la muestra
El mismo juego de datos se puede utilizar fácilmente para medición y análisis de
defectos (No destructivo).
Eficacia flexible para una amplia variedad de aplicaciones
El MCT255 es un activo valiosísimo para los fabricantes que buscan sacar beneficio
de los plazos de entrega reducidos y los ciclos de inspección. La fuente potente de
rayos X y el manipulador de gran capacidad combinan con el gran aumento y la
detección de elementos pequeños para crear una solución que se adapte a una
amplia variedad de aplicaciones.
Los fabricantes de moldes por inyección de plástico y piezas metálicas fundidas a
presión con molde pueden reducir considerablemente los ciclos de corrección durante
el desarrollo del utillaje y la puesta en marcha de producción, acelerando el tiempo
para comercializar nuevos productos. Todos los errores de contracción, deformación y
dimensionales se identifican de forma clara en informes de inspección fáciles de
entender facilitando la definición de las acciones correctoras.
Técnicas de producción emergentes como la fabricación aditiva hacen ahora posible
producir componentes pequeños y muy complejos que no se pueden inspeccionar
utilizando probetas de contacto o sensores ópticos. Aquí también MCT225 posibilita
medir y analizar estos componentes en una operación individual no destructiva.
La fuente de 225 Kv. y 225 Kw. de microfocalización de alta precisión penetra
materiales diferentes. El espesor de las muestras que se puede penetrar
completamente por los haces de rayos X depende de la densidad del material.
Penetración del material: plástico 170 mm (6.7”), aluminio 75 mm (2.9”) y hierro 15
mm (0.6”). Otros materiales adecuados incluyen: acero, cerámica, fibra de carbono y
madera.
La tecnología de tubo abierto reduce el Coste de Propiedad
La tecnología de tubo abierto de la nueva fuente colocada en el MCT225 reduce el
coste de propiedad. La fuente de tubo abierto utilizable permite una sustitución
sencilla del filamento, ahorrando tiempo y dinero.
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Especificaciones:
Precisión (μm)1 (VDI/VDE 2630)
Tamaño de la muestra (máximo)
Peso de la muestra (máximo)
Desplazamiento del manipulador
Fuente a detector
9+L/50 (L en mm)
Diámetro 250mm (9.84”) Altura 450mm (17.71”)
5kg (11lbs)
X 480mm (18.89”) Y 450mm (17.71”) Z 730mm
(28.74”) R 360 grados
1165mm (nominal) (45.98”)
Detector
16 bit 4Mpíxeles (2000x2000 píxel)
Aumento
1.6x a 150x
Detectabilidad del elemento
(mínimo)
Fuente de rayos X
Punto de rayos X
Radiografía en 2D de 2μm (0.002”)
225Kv/225W tubo abierto
3μm (0.00012in) microfocalización
Temperatura del recinto
19 a 21°C (66 a 70°F)
Temperatura ambiente
17 a 25°C (63 a 77°F)
Protección contra la radiación
(DIN 54113-2, IRR99)
Dimensiones del recinto
Peso del sistema
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< 1μSv/hora
An. 2214mm (87.2”) x Pr. 1275mm (50.2”) x Al
2205mm (86.8”)
4000kg (8800lbs)
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