XT H225/320 LC - Metrología Sariki

Metrología Sariki S.A.
XT H225/320 LC
XT H 225/320 LC inspección con rayos X y TC de muestras más grandes
El XT H 225/320 LC se caracteriza por tener una fuente de rayos X de
microfocalización más potente que es capaz de ejecutar una inspección de alta
precisión en objetos industriales. Nikon Metrology es la única empresa que produce
fuentes de rayos X de microfocalización de 320 Kv. Como el tamaño del punto de los
rayos X de estas fuentes es decenas de veces más pequeño comparado con las
fuentes de minifocalización, los usuarios finales se benefician de una precisión,
resolución superior y un conjunto más amplio de piezas medibles.
Con el objetivo de reflexión rotativo original, un flujo de rayos X incluso mayor está
disponible permitiendo a los clientes obtener una adquisición de datos de TC más
rápida o lograr una precisión de datos de TC mayor en el mismo espacio de tiempo.
Ventajas:
-Fuente patentada de rayos X de microfocalización de 225/320 Kv.
-Ejecución de inspección de alta precisión en objetos industriales densos
-Funcionamiento del sistema fácil y coste reducido de propiedad
-Imágenes espectaculares que proporcionan una gran visión
-Adquisición de imágenes y procesamiento del volumen de gran rendimiento
-Automatización sencilla de la inspección
-La seguridad es lo principal
Características:
Precisión y rendimiento superiores a través de la fuente patentada de rayos X
de 225 o 320 Kv. de microfocalización
La fuente de microfocalización por defecto de 225 Kv. está equipada con un objetivo
de reflexión, que ofrece un tamaño de punto de 3 micras. Con el objetivo de
www.sariki.es
ELGOIBAR
BARCELONA
MADRID
VIGO
PORTUGAL
Metrología Sariki S.A.
transmisión opcional, obtendrá incluso un tamaño de punto más pequeño y una
capacidad de aumento mayor.
La fuente de microfocalización de 320 Kv. Se utiliza para penetrar a través de
muestras más grandes o más densas.
Independientemente del objetivo de elección, el sistema XT H LC utiliza una fuente de
rayos X de tubo abierto que garantiza un coste reducido de propiedad.
El objetivo de reflexión giratorio multiplica el flujo de rayos X
Las fuentes tradicionales de rayos X que utilizan objetivos fijos solamente pueden
recibir un flujo limitado de electrones para evitar dañar el objetivo. Introduciendo un
objetivo de reflexión giratorio que produce un rendimiento de refrigeración mucho
mejor, el flujo de electrones en el objetivo giratorio aumenta radicalmente sin el riesgo
de daño permanente. Esto potencia el flujo de rayos X en un factor grande y permite a
los clientes obtener la adquisición de datos de TC más rápida o lograr la precisión de
datos de TC más alta en el mismo espacio de tiempo.
Estableciendo hasta 5 veces más flujo de rayos X, los clientes pueden tanto acelerar
la adquisición de datos en un factor similar o aumentar la precisión de los datos
tomando más radiografías en el mismo tiempo.
Imágenes espectaculares de estructuras interiores
Un tamaño de punto pequeño y un panel liso de alta resolución crean imágenes
nítidas. Adapte la resolución a sus necesidades: pieza completa en resolución gruesa
y alta resolución en una zona deseada de interés.
Acceso fácil para inspeccionar piezas más grandes
El sistema XT H LC se caracteriza por una puerta de acceso grande y el manipulador
de 5 ejes de alta precisión que puede sujetar muestras que sobrepasen los 50 kg. con
dimensiones de 0.6m (Al) x 0.6m (D).
La seguridad es lo principal
El recinto completo de protección – conforme a las normas de seguridad contra la
radiación EC y DIN 54113 – no requiere distintivos especiales o ropa de protección.
www.sariki.es
ELGOIBAR
BARCELONA
MADRID
VIGO
PORTUGAL
Metrología Sariki S.A.
Inspección continua a prueba de fallos durante el funcionamiento del sistema. La
protección contra la radiación es mejor de 1µSv/hora externa, e interruptores/relés
dobles a prueba de fallos garantizan un funcionamiento seguro.
Configure el sistema a sus necesidades específicas
Las aplicaciones específicas requieren imágenes más detalladas o una mayor
precisión. El XT H 225 se puede configurar con diferentes paneles lisos (Varian,
Perkin Elmer) o configuración de fuente (objetivo de reflexión/ transmisión) para hacer
que el sistema se adapte idealmente a sus necesidades.
Especificaciones:
XT H 225
XT H 225 ST
XT H 225/320 LC
Fuente de Rayos
X (Estándar)
Ultrafocalización de
Tubo Abierto
Objetivo de Reflexión
Ultrafocalización de Tubo
Abierto
Objetivo de Reflexión
Ultrafocalización de Tubo
Abierto
Objetivo de Reflexión
Fuente de Rayos
X (Opción)
180Kv Nanotecnología
Objetivo de Transmisión
Objetivo Giratorio
180Kv Nanotecnología
Objetivo de Transmisión
Objetivo Giratorio
320Kv Nanotecnología
Objetivo Giratorio
225Kv
225Kv
225Kv/ 320 Kv
225W
225W
225W/ 320 W (320Kv
Módulo u Objetivo
Giratorio)
3μm
225Kv Ultrafocalización:
3μm
180Kv Transmisión: 1μm
225Kv Ultrafocalización:
3μm
320Kv Módulo: 20μm
Aumento
Geométrico
> 150x
> 150x
> 150x
Sistema de
Imágenes
(Estándar)
Varian 2520
Detector de Panel Liso
Varian 2520
Detector de Panel Liso
Varian 2520
Detector de Panel Liso
Sistema de
Imágenes
(Opción)
Perkin Elmer 0820
Detector de Panel Liso
Perking Elmer 0820
Exploración de Panel
Perkin Elmer 0820
Detector de Panel Liso
Perking Elmer 0820
Exploración de Panel
Perking Elmer 1620
Detector de Panel Liso
Perking Elmer 1621
Detector de Panel Liso
Perkin Elmer 0820
Detector de Panel Liso
Perking Elmer 1620
Detector de Panel Liso
Perking Elmer 1621
Detector de Panel Liso
Kw máximos
Potencia
Nominal
Tamaño del
Punto de Rayos X
www.sariki.es
ELGOIBAR
BARCELONA
MADRID
VIGO
PORTUGAL
Metrología Sariki S.A.
Manipulador
(Estándar)
5 Ejes
5 Ejes
4 Ejes
(X) 200mm
(Y) 300mm
(Z) 610mm
(Bascular) +/- 30°
(Rotar) n*360°
(X) 460mm
(Y) 470mm
(Z) 600mm
(Bascular) +/- 30°
(Rotar) n*360°
(X) 500mm
(Y) 500mm
(Z) 600mm
(Rotar) n*360°
n.a.
n.a.
Eje de Basculación
Adicional
15 kg
50 kg
50 kg
Sí
Sí
Sí
1773mm x 935mm x
1986mm (incluyendo
torreta de lámparas)
2214mm x 1335mm x
2205mm
3288mm x 1595mm x
2600mm
2.500 kg
4.000 kg
8.000 kg
Todos los sistemas de
rayos X de Nikon
Metrology están
fabricados conforme a
IRR99
Todos los sistemas de
rayos X de Nikon
Metrology están
fabricados conforme a
IRR99
Todos los sistemas de
rayos X de Nikon
Metrology están
fabricados conforme a
IRR99
Todos los sistemas de
rayos X de Nikon
Metrology están
controlados por el
software Inspect-X
desarrollado en Nikon
Metrology
Todos los sistemas de
rayos X de Nikon
Metrology están
controlados por el
software Inspect-X
desarrollado en Nikon
Metrology
Todos los sistemas de
rayos X de Nikon
Metrology están
controlados por el
software Inspect-X
desarrollado en Nikon
Metrology
Sistema Común
Opciones
Estación de Trabajo de
Reconstrucción de Alta
Velocidad Avanzada
Estación de Trabajo de
Reconstrucción de Alta
Velocidad Avanzada
Estación de Trabajo de
Reconstrucción de Alta
Velocidad Avanzada
Sistema Común
Opciones Multiobjetivo
Metálico (Objetivo de
Reflexión de
Ultrafocalización
Solamente)
Juego Avanzado de
Filtros (Objetivo de
Reflexión de
Ultrafocalización
Solamente)
Opciones Multiobjetivo
Metálico (Objetivo de
Reflexión de
Ultrafocalización
Solamente)
Juego Avanzado de
Filtros (Objetivo de
Reflexión de
Ultrafocalización
Solamente)
Opciones Multiobjetivo
Metálico (Objetivo de
Reflexión de
Ultrafocalización
Solamente)
Juego Avanzado de
Filtros (Objetivo de
Reflexión de
Ultrafocalización
Solamente)
Desplazamiento
de los Ejes
Manipulador
(Opción)
Peso Máximo de
la Muestra
Preparado para
TC
Dimensiones del
Armario (Lo x An
x Al)
Peso
Seguridad
Control
www.sariki.es
ELGOIBAR
BARCELONA
MADRID
VIGO
PORTUGAL
Metrología Sariki S.A.
www.sariki.es
ELGOIBAR
BARCELONA
MADRID
VIGO
PORTUGAL