El Centro Nacional de Microscopía Electrónica de la UCM presenta

NOTA DE PRENSA
El Centro Nacional de Microscopía Electrónica de la UCM
presenta el Grand Arm, el microscopio más potente del mundo
 Único en España, segundo en Europa y tercero en el mundo, se presenta el
próximo lunes, 25 de abril, y se pone a disposición de la comunidad
científica a partir de mayo
 Destaca su alta sensibilidad para visualizar elementos ligeros, como el litio,
tan importantes para optimizar nuevos materiales útiles para la fabricación
de dispositivos relacionados con las comunicaciones y el almacenamiento
de energía
Madrid, 22 de abril de 2016. El JEOL JEM GRAND ARM 300 cF es el microscopio electrónico más
potente hasta la fecha, es decir, el que tiene mayor poder de resolución: es capaz de resolver
distancias entre dos puntos del orden de 0.05 nm. La Instalación Científico Tecnológica Singular
(ICTS) del Centro Nacional de Microscopía Electrónica de la UCM tiene uno de los tres únicos
existentes en el mundo, el segundo que se instala en Europa. Se presenta el próximo lunes 25 de
abril, a las 12:00 h, en el salón de actos de la biblioteca de la Facultad de Ciencias Químicas. En
la presentación participarán: el rector Carlos Andradas, Rafael Van Grieken, consejero de
Educación, Juventud y Deporte, María Luisa Castaño, directora general de Innovación y
Competitividad, Iwatsuki Masashi, vicepresidente de JEOL (fabricante del Grand ARM) y José
González Calbet, catedrático de Química Inorgánica y director del Centro Nacional de
Microscopía Electrónica.
El JEOL JEM GRAND ARM 300 cF es el microscopio electrónico con mayor poder de resolución, ya
que puede resolver distancias entre dos puntos del orden de 0.05 nm. Para hacerse una idea de
su potencia habría que imaginar unas gafas que permitieran ver desde aquí un garbanzo en la
Luna. Esta resolución es imprescindible para el estudio de las estructuras de los materiales
funcionales avanzados a escala atómica, lo que permite entender sus propiedades con un nivel
de precisión hasta ahora no accesible. Es importante destacar su alta sensibilidad para la
visualización de elementos ligeros tales como el oxígeno, el nitrógeno, el carbono, el litio e
incluso el hidrógeno, tan importantes para el desarrollo y optimización de nuevos materiales
útiles para la fabricación de dispositivos relacionados con las comunicaciones y el
almacenamiento de energía.
Por otra parte, el microscopio puede operar a bajos voltajes de aceleración. Este hecho es muy
importante, ya que habitualmente cuanto mayor es el voltaje de aceleración mayor es el riesgo
de dañar los materiales bajo el haz de electrones. Disminuir el voltaje conlleva menor daño, pero
también menor resolución. En el microscopio GRAND ARM, debido a la incorporación de un
corrector de aberración en la lente objetivo, es posible disminuir el daño manteniendo la
resolución atómica. De esta forma, se hace posible el estudio de materiales sensibles como el
carbono (nanotubos de carbono, grafeno…) y otros como los MOFs y los mesoporosos. El
microscopio está acondicionando con espectrómetros de dispersión de energía de rayos X (EDS)
y de pérdida de energía de los electrones (EELS) que permiten obtener, al mismo tiempo que la
imagen, información composicional.
El Grand Arm se suma al microscopio JEOL JEM ARM 200 c-FEG, especialmente diseñado para
obtener información composicional con resolución espacial de 0.078 nm, instalado en el Centro
Nacional de Microscopía Electrónica de la Complutense hace tres años. Los dos microscopios,
ARM 200 c-FEG y GRAND ARM, son complementarios y ofrecen la posibilidad de llevar a cabo
una exhaustiva caracterización a nivel atómico tanto desde el punto de vista estructural como
composicional de los materiales
Desde su inauguración en 1988, el Centro Nacional de Microscopía Electrónica de la UCM ha ido
incorporando los avances instrumentales más recientes en los distintos ámbitos de la
microscopia electrónica, de tal forma que desde sus inicios ha sido un referente en el desarrollo
de la microscopia electrónica en España. En los últimos años, ha incluido en su equipamiento la
nueva generación emergente de microscopios electrónicos dotados de correctores de
aberración capaces de alcanzar una resolución entre puntos inferior a 1 Å. Hace tres años se
instaló ARM 200cFEG y ahora el Grand Arm, tercero del mundo junto con los de Tokio y Dresde.
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