Visibilidad La forma clásica de medir la visibilidad de la interferencia es en la forma I I min Vclass max I max I min donde I max , I min son los máximos y mínimos de la distribución en cuestión I ( ) . Como veremos a continuación, esta forma de medir la cantidad o calidad de la interferencia no es idónea para distribuciones I ( ) no armónicas, las cuales son cada vez más frecuentes, especialmente en el domino cuántico. En su lugar hemos propuesto una nueva medida que da el mismo resultado para distribuciones armónicas pero que presenta un comportamiento mejor frente a distribuciones no armónicas. Podemos definir la visibilidad como la distancia del interferograma observado a una distribución uniforme, denotada aquí como I , en la forma V2 1 2 I d I ( ) I 2 2 1 I 2 I 2 I 2 donde I 1 dI ( ) 2 y I2 1 d I ( )2 2 Para una distribución armónica I ( ) a b cos( ) ambas definiciones dan resultados proporcionales Vclass 2V . Como ejemplo de patrones no armónicos podemos considerar los producidos en interferómetros con reflexiones múltiples. En particular nos fijaremos en dos interferogramas distintos: uno con un máximo brillante sobre fondo uniforme oscuro, y otro consistente en un mínimo oscuro sobre fondo uniforme brillante. Con el fin de simplificar los cálculos podemos describir ambas situaciones mediante Gaussianas normalizadas adecuadamente 2 2 2 I ( ) 2 e I ( ) 1 e 2 1 máximo brillante mínimo oscuro sobre fondo oscuro sobre fondo brillante donde se corresponde con la inversa de la anchura de los picos (brillante u oscuro). Siempre supondremos picos suficientemente estrechos 1 . Para el máximo brillante sobre fondo oscuro Vclass 1 mientras que V 2 2 . Con este ejemplo podemos demostrar que V es una medida con mejores propiedades que Vclass . Parece intuitivamente claro que la calidad o cantidad de la interferencia en este ejemplo deben depender de la anchura del máximo (es decir de ), como lo demuestra la idea de poder resolutivo. En vista de esto tenemos que por un lado Vclass es prácticamente independiente de , mientras que V depende claramente de , por lo que V presenta un comportamiento mejor que Vclass . Por otro lado, siempre que Vclass 1 la interferencia de haces múltiples sería siempre equivalente la interferencia producida por interferómetros de doble haz, cuando es conocido que la superposición de haces múltiples proporciona un ejemplo mucho más eficiente de interferencia. Esta disimilitud queda claramente reflejada por V que aumenta sin límite cuando la anchura del pico decrece ( ), mientras que para distribuciones armónicas está acotado superiormente. Para el caso de mínimo oscuro sobre fondo brillante tenemos de nuevo que Vclass 1 mientras que V da un resultado completamente opuesto V 2 1 /(2 2 ) de modo que V tiende a cero cuando la anchura del mínimo decrece. Podemos ver que también en este caso V es la medida adecuada. En este ejemplo, y a diferencia del ejemplo anterior, a medida que la anchura del mínimo decrece también decrece el área relativa que ocupa el propio mínimo, con lo que la distribución se aproxima cada vez más a una distribución uniforme. Desde un punto de vista práctico, a medida que la anchura del mínimo decrece cada vez es más difícil detectar la propia existencia del mínimo y distinguirlo del fondo uniforme. Este razonamiento es especialmente claro desde una perspectiva cuántica, puesto que el área representa la probabilidad de detectar la existencia de interferencia. Estos ejemplos demuestran que la nueva definición es una medida de la interferencia mejor comportada que la definición clásica y mucho más sensible a las características relevantes y útiles de un fenómeno interferencial. También es relevante que, para el caso general V es mucho más fácil de calcular que Vclass , puesto que para ésta última es necesario un proceso de búsqueda de los extremos de una función no lineal de un número muchas veces elevado de parámetros. Por otro lado, es conocido que para interferencias localmente armónicas, la visibilidad clásica es proporcional a la correlación de la amplitud del campo. Sin embargo esta interesante conexión desaparece cuando aplicamos Vclass al caso general. Hemos demostrado que la nueva definición de visibilidad V preserva este tipo de relaciones para el caso más general. Visibility for anharmonic fringes A. Luis, J. Phys. A: Math. Gen. 35, 8805 (2002) Hemos extendido esta idea de visibilidad como distancia para adaptarla a la medida de la visibilidad de la interferencia de un número arbitrario de partículas, fotones por ejemplo. Normalmente estas interferencias son las coincidencias (con probabilidad P( ) donde representa todas las fases internas del interferómetro) en la detección de las partículas a la salida del interferómetro. Para centrar el análisis en el carácter múltiple de la interferencia, se suele definir como distribución interferométrica la diferencia entre la distribución conjunta P( ) y las distribuciones individuales de las partículas Pj ( ) , esto es P( ) P1 ( )PN ( ) donde N es el número de partículas. La definición usual de visibilidad Vclass resulta especialmente inadecuada para este interferograma. Por un lado, normalmente P( ) P1 ( )PN ( ) es una función demasiado compleja para buscar sus extremos. Por otro lado P( ) P1 ( )PN ( ) puede ser negativa, por lo que la aplicación directa de Vclass no tiene sentido, salvo que se hagan modificaciones had-oc. Para resolver estas dificultades hemos definido la visibilidad para una interferencia múltiple como la distancia de la distribución conjunta al producto de las individuales D d P( ) P1( ) PN ( )2 . Con esto hemos podido demostrar que para dos partículas la visibilidad de la interferencia múltiple y las visibilidades individuales son variables complementarias (cuando una crece la otra decrece y viceversa). También hemos demostrado que la visibilidad de P( ) y las visibilidades individuales de Pj ( ) son también complementarias. También hemos demostrado que para tres partículas no existe tal complementariedad y las visibilidades conjuntas e individuales pueden crecer o decrecer simultáneamente. Visibility for multi-particle interference A. Luis, Phys. Lett. A 314, 197 (2003)