Revista Colombiana de Física, vol. 45, No. 2, 2013 Uso del efecto Talbot para calibrar el haz de referencia en un sistema de medición frente de onda basado en un arreglo de microlentes HartmannShack Calibration of the Reference Beam of an Optical System to Measure the Wavefront Based on a Hartmann-Shack Microlenses Array J.C. Galeano, Y. Mejía Grupo de Óptica Aplicada, Departamento de Física Universidad Nacional de Colombia - Sede Bogotá. Recibido febrero 17 de 2011; aceptado mayo de 2011. Resumen A partir del efecto Talbot y el efecto fraccional de Talbot se propone un montaje experimental para verificar la colimación del haz de referencia empleado en un sistema óptico que incluye un arreglo de microlentes Hartmann-Shack para medir aberración de frente de onda. Empleando la imagen formada por los puntos focales de las microlentes y sus correspondientes primera y segunda auto-imágenes se garantiza que el haz de referencia está bien colimado. Palabras claves: Efecto fraccional de Talbot, microlentes Hartmann-Shack. Abstract Based on the Talbot effect and the fractional Talbot effect we proposed a method to check the quality of a reference beam of an optical system for measuring wavefront. The optical system is based on a Hartmann-Shack microlens array. Comparing the foci array and the corresponding first and second self-images we can determine is the reference beam is properly collimated (plane waves). Keywords: Talbot effect, fractional Talbot effect, microlens array. Email: [email protected] Este trabajo es publicado por la Sociedad Colombianade Física y distribuido en open acces según los términos de la licencia Creative Commons Attibution. Revista Colombiana de Física, vol. 45, No. 2, 2013 1. Introducción Las imágenes de Fresnel son distribuciones de irradiancia del campo óptico producidas en la región de Fresnel por un objeto periódico sobre planos perpendiculares al eje óptico. Las auto-imágenes, también conocidas como efecto Talbot y efecto fraccional de Talbot, son un caso particular de las imágenes de Fresnel, donde se encuentran réplicas del objeto difractante. Llevan este nombre ya que Talbot en 1836 demostró que una rejilla producía distintos patrones periódicos en ciertos planos cerca a ésta, pero en 1881 fue Rayleigh quien demostró que cuando se usa luz colimada la imagen de un objeto periódico se puede observar a intervalos iguales de distancia dados por 2d 2 (distancia de Talbot), donde d es el periodo espacial del objeto y es la longitud de onda del haz incidente [1]. También se encuentra que en ciertas fracciones de la distancia de Talbot se puede observar auto-imágenes, que pueden ser una réplica del objeto periódico (con un cambio de fase de ) o imágenes que siguen la estructura del objeto periódico [2] (por ejemplo, estructuras similares al objeto pero con un periodo espacial igual a la mitad del periodo del objeto). Un arreglo de microlentes tipo Hartmann-Shack [3] se puede considerar como un objeto periódico de sólo fase, el cual, dentro de la región de Fresnel, transforma una onda plana en un arreglo de puntos focales uniformes de igual irradiancia. Este arreglo de puntos focales se puede tomar como un arreglo de iluminadores (denominado TAIL’s, del inglés Talbot array illuminators), siendo así un nuevo objeto periódico [4]. Para describir el proceso de formación de imagen de estos arreglos se suele suponer que cada punto focal es la imagen generada de forma independiente por cada microlente. Con el fin de verificar la colimación del haz de referencia de un sistema óptico diseñado para medir frente de onda usando un arreglo microlentes Hartmann-Shack, en este artículo, se utilizan las autoimágenes de Fresnel generadas por el arreglo de puntos focales y que están localizadas a la mitad de la distancia de Talbot y a la distancia de Talbot [56]. En el primer caso tendremos una réplica de los puntos focales pero con un desplazamiento lateral de la mitad del periodo espacial y en el segundo caso tendremos en efecto una réplica de los puntos 185 4 focales. Comparando la escala del arreglo de puntos focales con sus correspondientes primera ( z d 2 / ) y segunda ( z 2d 2 / ) autoimágenes se determina si el haz está bien colimado. 2. Teoría Supongamos que un arreglo (infinito) de microlentes periódico en las direcciones ortogonales x y y con periodo p es iluminado por una onda plana y que los puntos focales se localizan en el plano z = 0, Fig. 1. Fig.1. Sistema coordenado para el arreglo de puntos focales. La amplitud de onda compleja u( x, y, z 0) de los focos se puede representar por la convolución de la amplitud A( x, y) de un sólo foco y la función generadora del arreglo g ( x, y) : u( x, y, z 0) A( x, y) g ( x, y) (1) donde el símbolo representa la operación de convolución, y g ( x, y ) x kp y lp (2) k l La amplitud medida en un plano paralelo al plano focal en z z 0 se puede calcular a partir de la propagación del espectro angular de ondas planas [7], es decir J.C. Galeano et al.: Uso del efecto Talbot para calibrar … u ( x, y , z 0 ) exp{iz 0 (k 2 l 2 ) / p 2 } p 2 k l exp{i 2 (kx ly) / p} (9) G( x, y, z 0 ) u~ (v x , v y ) exp{i 2 ( z 0 / ) [1 2 (v x v y )]1 / 2 } 2 2 (3) exp{i 2 (v x x v y y ) dv x dv y donde es la longitud de onda de la luz, v x y v y donde el factor de fase exp{i 2z 0 / } . son las frecuencias espaciales y la función u~(v x , v y ) es la transformada de Fourier de Si el término exp{iz 0 (k 2 l 2 ) / p 2 } de la Eq. (9) vale 1, teniendo en cuenta la expresión de g dada por la Eq. (6), entonces la función G representa nuevamente (salvo por el factor de fase ) la expansión en series de Fourier de la función generadora del arreglo de puntos focales, por lo tanto, en este caso, la Eq. (4) será una réplica del arreglo de puntos focales descrito por la Eq. (1). La distancia z 0 estará dada por la condición: u( x, y, z 0) . Aplicando el teorema de la convolu- ción y usando las Eqs. (1) y (2), u( x, y, z 0 ) se puede escribir como u( x, y, z0 ) A( x, y) G( x, y, z0 ) (4) Con G ( x, y , z 0 ) g (v , v ~ x y z 0 (k 2 l 2 ) / p 2 2 s , ) exp{i 2 ( z 0 / ) siendo s un entero. Despejando z 0 se tiene que [1 2 (v x v y )]1 / 2 } 2 (10) 2 exp{i 2 (v x x v y y ) dv x dv y z0 2 p 2 / (11) (5) con s /(k 2 l 2 ) . En el caso particular en que 1 , la distancia z 0 corresponde la distancia de donde g~ representa la transformada de Fourier de g. Esta transformada se calcula de manera conveniente si primero se expresa g como una serie de Fourier, es decir: 1 p2 g ( x, y) Talbot zT 2 p 2 y se tiene la segunda autoimagen de Talbot (imagen idéntica al arreglo de puntos focales). Por otra parte, si el término exp{iz 0 (k 2 l 2 ) / p 2 } de la Eq. (9) vale –1, ahora se estará sumando un término de fase de a todas las frecuencias espaciales exp{i 2(kx ly) / p} de Fraunhofer (ondas planas), lo que se traduce en un cambio de contraste en la transmitancia del objeto periódico. Por lo tanto, en este caso, la Eq. (4) será una réplica del arreglo de puntos focales descrito por la Eq. (1) pero con un desplazamiento lateral igual a la mitad del periodo espacial. La distancia z 0 estará dada por la condición: exp{i2 (mx ny) / p} , (6) m n por lo tanto 1 g~(v x , v y ) 2 p k p v k l x l v y . (7) p Es bien conocido que las auto-imágenes ocurren solamente si la función u~ toma valores diferentes de cero cuando se tienen frecuencias espaciales 2 2 pequeñas [8], ( v x v y 1 2 ). En este caso, la raíz cuadrada en las Eqs. (3) y (5), se puede aproximar por los dos primeros términos de su serie de Taylor (aproximación parabólica), es decir: [1 2 (v x v y )]1 / 2 1 2 2 2 2 (v x v y ) 2 z 0 (k 2 l 2 ) / p 2 (2s 1) (12) Despejando z 0 se tiene que 2 (8) z0 p 2 / (13) con (2s 1) /(k 2 l 2 ) . En el caso particular en Usando las Eqs. (7) y (8) la función G de la Eq. (5) se puede expresar como: que 1 , la distancia z 0 corresponde la distancia fraccional de Talbot z1 / 2 p 2 y se tiene la primer auto-imagen de Talbot (imagen del arreglo de 186 4 Rev. Col. Fís., 45, No 2, 201. Una vez que se tiene el haz de referencia adecuado, éste pasa por un divisor de haz BS e incide sobre la superficie de prueba (espejo de prueba) y luego se refleja “2” regresando al divisor de haz donde nuevamente es reflejado “3” y se dirige hacia un arreglo de microlentes tipo Hartmann-Shack (25×19 lentes de 0.252 mm de diámetro y 25 mm de distancia focal, empaquetadas en una cuadrícula cartesiana) con el que se mide la forma del frente de onda reflejado. Cada micro lente muestrea una pequeña región del frente de onda reflejado y luego esta porción del frente de onda es enfocada en el plano focal del arreglo que está a una distancia 25 mm., Fig. 2. Midiendo la posición de cada punto focal es posible reconstruir la forma del frente de onda [9]. La intensidad del haz del láser (5 mW.) se controla mediante un filtro de densidad neutra ND. La imagen de los puntos focales se registra con una cámara CCD blanco y negro (0 a 255 niveles de gris) en un formato 640(H) 480(V) pixeles. El tamaño de cada pixel es de 9.8 μm 9.8 μm. La cámara CCD se monta sobre un carro de desplazamiento axial de 250 mm de recorrido y con un nonio de 0.1 mm. Si la superficie de prueba en la Fig. 2 es un espejo plano de referencia (calidad de la superficie /4 error pico-valle), el frente de onda reflejado será un plano, entonces los puntos focales formarán un arreglo cuadriculado de puntos. Como se mencionó en la sección anterior, este arreglo de puntos focales constituye un objeto periódico, de modo que en planos posteriores será posible encontrar autoimágenes del arreglo de puntos focales. Por lo tanto, verificando que la escala del arreglo de puntos focales y sus correspondientes auto-imágenes sea la misma es posible obtener un haz de referencia bien colimado, es decir, un frente de onda plano. Siguiendo la teoría de la formación de imágenes de Fresnel, para los parámetros de nuestro montaje experimental, periodo espacial p 0.252 mm, longitud de onda 632.8 nm, las auto-imágenes se encontrarán en planos separados 100.35 mm entre sí, es decir, la primer auto-imagen estará a 100.35 mm del plano focal del arreglo de microlentes y la segunda auto-imagen estará a 200.70 mm del plano plano focal del arreglo de microlentes. En nuestro experimento, observaremos las tres imágenes del arreglo de puntos focales, a saber: la imagen en el plano focal del arreglo de microlentes y las dos primeras auto-imágenes de Talbot. La pupila de cada microlente del arreglo es cuadrada, por lo que el patrón de difracción generado por cada una de puntos focales desplazada lateralmente p / 2 tanto en x como en y). 3. Experimento En la Fig. 2 se muestra un sistema óptico diseñado para medir el frente de onda de un campo luminoso reflejado en una superficie (reflectora) de prueba. Generalmente, el campo óptico incidente en la superficie de prueba es una onda plana (haz de referencia), de modo que la deformación del frente de onda reflejado es una medida de la forma de la superficie de prueba. CCD Plano focal del arreglo Microlentes 3 Superficie (reflectora) de prueba Pinhole Laser ND OM 1 LC 2 BS Fig.2 Sistema óptico para medir frente de onda mediante un arreglo de microlentes Hartmann-Shack. El haz de referencia se genera de la siguiente manera: el haz de un láser He-Ne (632.8 nm, 5mW) se enfoca mediante un objetivo de microscopio OM en un pinhole (agujero de 10 m de diámetro) con el propósito de realizar un filtrado espacial. Luego el haz diverge del pinhole e incide sobre una lente acromática positiva LC (lente colimadora), la cual está localizada a una distancia aproximadamente igual a su distancia focal. Lo anterior permite que el haz refractado por la lente colimadora se transforme en una onda plana “1” (haz colimado), siempre y cuando la posición de la lente colimadora sea la adecuada, es decir, que la distancia entre el pinhole y el plano principal anterior de la lente colimadora sea igual a la distancia focal. Para controlar la posición de la lente colimadora, ésta se monta sobre un sistema mecánico de desplazamiento axial con tornillo micrométrico. De este modo, es posible controlar la colimación del haz de referencia. Si la distancia entre el pinhole y el plano principal anterior de la lente colimadora es menor que la distancia focal de la lente colimadora el haz refractado será divergente, si la distancia entre el pinhole y el plano principal anterior de la lente colimadora es mayor que la distancia focal de la lente colimadora el haz refractado será convergente. 187 4 J.C. Galeano et al.: Uso del efecto Talbot para calibrar … 2 zT 2 p 2 , respectivamente. Las Figs. 3(b), 3(d) y 3(f) son los perfiles de irradiancia siguiendo los máximos de algunos puntos focales para las Figs. 3(a), 3(c) y 3(e), respectivamente. Tomando el promedio del periodo espacial (en dirección horizontal) para cada uno de los patrones se obtuvo 0.252 0.001 mm, 0.252 0.001 mm y 0.251 0.001 mm, respectivamente. Lo anterior muestra que el haz de referencia se encuentra bien colimado. Por otra parte, los perfiles de irradiancia muestran que en los tres casos se tienen funciones tipo sinc2(x) cuyos máximos están separados 26 pixeles aproximadamente. La escala de la distribución de irradiancia de los tres perfiles no es absoluta, debido a que el láser que se empleó no posee estabilidad en la intensidad del haz, por lo que no se puede hacer una comparación de las irradiancias. Sin embargo, se nota que en la segunda auto-imagen, en los bordes de la imagen hay una disminución considerable en la irradiancia de los máximos secundarios. 300 Intensidad (niveles de gris) 250 200 150 100 50 0 0 50 100 150 200 250 150 200 250 150 200 250 pixeles (a) (b) 300 Intensidad (niveles de gris) 250 200 150 100 50 0 0 50 100 pixeles (c) (d) 300 250 Intensidad (niveles de gris) ellas (punto focal) es una función sinc (x) = (sin(x)/x)2, como se puede apreciar en la Fig. 3. Entonces, colocando el sensor de la cámara CCD en el plano focal del arreglo de microlentes (a 25.0 mm) se ajustó la posición de la lente colimadora hasta tener un patrón de puntos focales cuyos máximos se encontrarán separados 26 pixeles entre sí, aproximadamente. Luego, conociendo de antemano las distancias teóricas a las que se deben encontrar las auto-imágenes, se desplazó el sensor de la cámara CCD una distancia de 100.3 mm con respecto al plano focal y se verificó que los máximos del patrón de puntos de esta auto-imagen estuvieran separados 25.7 (= 0.252/0.0098) pixeles, para lo cual se realizó un pequeño ajuste en la posición de la lente colimadora, y por último, se desplazó el sensor de la cámara CCD a una distancia de 200.7 mm con respecto al plano focal y nuevamente se verificó que los máximos del patrón de puntos de esta otra autoimagen estuvieran separados 25.7 pixeles mediante un procedimiento similar al que se hizo con la primer auto-imagen. Para encontrar los máximos de irradiancia en cada uno de los patrones se evalúo el centroide de irradiancia [10]. Las Figs. 3(a), 3(c) y 3(e) corresponden a los patrones de: puntos focales del arreglo de microlentes tipo Hartmann-Shack, primera auto-imagen en y segunda auto-imagen en z1 / 2 p 2 200 150 100 50 0 0 50 100 pixeles (e) (f) Fig.3 .(a) Imagen en el plano focal del arreglo de microlentes, (c) y (e) primera y segunda auto-imágenes del arreglo de puntos focales, respectivamente; (b), (d) y (f) perfiles de la irradiancia para algunos focos a lo largo de la tercer fila en cada una de las imágenes respectivamente. 4. Conclusiones Se verificó que los focos de un arreglo de microlentes tipo Hartmann-Shack forma una estructura periódica que puede generar auto-imágenes. Comparando el tamaño de las dos primeras auto-imágenes (del efecto fraccional de Talbot y del efecto Talbot) con el arreglo de puntos focales, se comprobó que el haz de referencia está bien colimado. A medida que el plano de observación se aleja, se pierden órdenes de difracción (términos de alta frecuencias) dentro de la región de la imagen, esto hace que la irradiancia de los puntos focales disminuya pero sin cambiar las posiciones de los mismos, es decir se conserva la periodicidad tal como en el plano focal. REFERENCIAS [1] J.T.’Winthrop, C.R.Worthington, J.Opt. Soc.Am. 55, 4, 373-381, 1965. 188 4 Rev. Col. Fís., 45, No 2, 201. [2] P. Latimer, R. Crouse, Appl. Opt, 31, 80-89, 1992. [3] B.C. Platt, R. Shack, Journal of Refractive Surgery, 17, S573-S577, 2001. [4] A. Lohmann, J.Thomas, Appl.Opt, 29, 4337-4340, (1990). [5] E.Bonet, P.Andres, J.C.Barreiro, A. Pons, Opt.Commun. 106, 39-44, 1994. [6] B. Besold, N. Lindlein, “Fractional Talbot efect for periodic microlens array”, Opt. Eng. 36, 1099-1105, 1997. [7] J.W.Goodman, The angular spectrum of plane waves, Chap. 3.10 en: Introduction to Fourier Optics, pp. 55-61, McGraw-Hill, New York, 1968. [8] W.D.Montgomery,, J.Opt. 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