MICROSCOPIA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN: SAD Y CBED 1. INTRODUCCIÓN - MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA Profesor: Silvina Hereñú a) Principios de la microscopía electrónica. Poder de Resolución. El Microscopio Electrónico. Imágenes Electrónicas. Origen del Contraste Electrónico. Focalización de un Haz de Electrones por un Campo Magnético de Revolución. Lentes Magnéticas Delgadas. Aberración Esférica, Astigmatismo, Aberración Cromática, Aberración por Difracción. b) El Microscopio Electrónico de Transmisión. Filamento, Cilindro de Wehnelt, Ánodo Acelerador. Lentes Condensadoras, Lente Objetivo. Difracción por un Área Selecta. Poder de Resolución de un Microscopio Electrónico. Profundidad de Foco. Columna del Microscopio Electrónico – Aperturas. Calibración de la Magnificación. Calibración de las Rotaciones. c) Preparación de muestras. Prácticas en el microscopio. 2. TEORÍA CINEMÁTICA DE LA DIFRACCIÓN DE ELECTRONES. Profesor: Iris Alvarez a) Concepto de resolución. Fenómeno de difracción. Interferencia: efecto del ancho de la ranura. Apertura circular. Propiedades de los electrones: ecuación de de Broglie para la longitud de onda. Interacción de los electrones con la materia. b) Dispersión/difusión elástica. Dispersión y difracción. Diferentes tipos de dispersión electrónica. Sección eficaz de interacción. Fenómeno de difusión por átomos aislados. Interacción elástica de bajo ángulo. Sección eficaz diferencial de difusión. Factor de dispersión atómico. c) Suposiciones para el tratamiento de la teoría cinemática de difracción de electrones. Ecuaciones de Laue. Ley de Bragg. d) Espacio recíproco: definición matemática y aplicación a la condición de Laue. Esfera de Ewald. Parámetro de desviación s. Orden de excitación de nodos recíprocos. Difracción por cristales: factor de estructura. Cálculos de factores de estructura en diferentes redes. e) Teoría cinemática de la difracción. Difracción por volúmenes pequeños. Amplitud difractada por una red geométrica 3D. Aproximación por la integral. Nodos alargados o relrod. Difracción por defectos planares. f) Estructura fina de la difracción: orden atómico, partículas de segunda fase, maclas, dislocaciones y arreglos, bordes de grano, etc. Origen de puntos extras: doble difracción. g) Cálculo de figuras de difracción. Proyección estereográfica. Longitud de cámara. Cálculo de orientación del espécimen. h) Difusión inelástica: difracción de Kikuchi. Mapas de Kikuchi. Orientación exacta de un cristal 3. HAZ CONVERGENTE Profesor: Dr Alfredo Tolley a) Formación de patrones de difracción de haz convergente. Comparación entre patrones de difracción de haz paralelo y de haz convergente. Variación de la convergencia: patrones de microdifracción, y de Kossell. Método de Tanaka para patrones de alta convergencia. Contrastes característicos en patrones de difracción de haz convergente: efectos de difracción en la zona de Laue de orden cero y en zonas de Laue de orden superior. b) Aplicaciones de patrones de difracción de haz convergente (CBED). Determinación del espesor local de una lámina delgada. Determinación de parámetros de red locales. Determinación de simetrías cristalinas. Caracterización de dislocaciones