MD-3DQC en la distribución de SIBRESS: máxima precisión para la

MD-3DQC en la distribución de SIBRESS: máxima precisión
para la medición de cilindros anilox y moldes de huecograbado
Starnberg, Alemania, 20 de junio de 2011 – SIBRESS, fabricante de sistemas de medición y
análisis para el aseguramiento de la calidad en la impresión flexográfica y de embalajes con
sede en Brixen, Alto Adigio-Italia, acaba de asumir con su nueva delegación en Starnberg,
Alemania, al Sur de Munich, además de sus productos de desarrollo propio, la distribución
del microscopio medidor MD-3DQC de la empresa estadounidense Microdynamics. El
acuerdo de distribución correspondiente ha sido firmado para todo el ámbito europeo, así
como los países limítrofes.
La particularidad tecnológica del sistema radica en sus múltiples posibilidades de aplicación
y su precisión. Así, se utiliza la interferometría de luz blanca para determinar los resultados
de medición. Este procedimiento utiliza la interferencia de una luz de banda ancha como
referencia para la exploración del objeto. La robustez y la precisión mecánica del sistema
óptico del microscopio permiten alcanzar una precisión de repetición de hasta ±50 nm.
Las ópticas de microscopio de Olympus, desarrolladas y construidas específicamente para
este sistema, se pueden elegir, según las necesidades de aplicación, con una ampliación de
entre 160x y 1.230x que posibilitan típicamente una resolución de hasta 1.524 lpi. Para
exigencias especialmente elevadas es posible utilizar el sistema óptico 40x con el cual se
consigue una ampliación de 2.240x. Las ópticas se cambian sencillamente con una tecla de
bloqueo, lo cual garantiza el asiento perfecto y, en consecuencia, la transmisión precisa de
la imagen óptica. En total se puede elegir entre 5 sistemas ópticos distintos. El software, fácil
de manejar, permite al usuario analizar, en su caso, cilindros anilox, así como cilindros de
huecograbado desde una superficie única. A nivel del hardware tampoco existe una
diferenciación al respecto; se usa un sistema único para ambos campos de aplicación.
Análisis totalmente automático en sólo 2 pasos
El tiempo típico desde la captura hasta la evaluación de todos los datos registrados,
incluyendo la imagen en 3D, es inferior a 50 segundos. Después de un enfoque único en la
superficie a analizar sólo se necesita pulsar el botón de escaneado para disponer de toda la
información en menos de 50 segundos.
Se indican todos los datos relevantes, por ejemplo: profundidad de las celdas, volumen,
valores individuales de las celdas registradas, ángulo, características/rugosidad de la
superficie, espesor de pared, ángulo de apertura.
Igual de sencillo es el protocolizado posterior de los resultados de medición. Después de la
evaluación, los datos de resultado, así como la imagen en 3D de la medición están
disponibles en el protocolo para el almacenamiento o la impresión. De esta manera es
posible realizar mediciones individuales o comparar dos mediciones mediante el análisis de
desviación integrado. Asimismo, se pueden personalizar los protocolos, p. ej. con un
logotipo de empresa. Esto permite establecer rápidamente una comparación directa entre
cilindros limpios y sin limpiar.
Control propio en lugar de control por el fabricante
El volumen de suministro del equipo comprende dos patrones de calibración. Con los
calibradores esféricos se verifica la calibración de luz blanca y, al mismo tiempo, la
calibración de profundidad. El proceso de escaneado totalmente automático se repite varias
veces y termina con la visualización de los valores de calibración. De esta forma, el usuario
no sólo dispone de la posibilidad de controlar él mismo su microscopio; también ahorra
gastos que se generan usualmente después de la compra.
El sistema funciona bajo Windows XP y Windows 7 Professional. Se recomienda disponer
de mín. 1 GB de RAM, un disco duro de 2 GB y un procesador Dual-Core.
Más información sobre el microscopio de medición 3D y todo el programa de productos de
Sibress se encuentra en www.sibress.com.
Leyendas
Fotografía 1: Microscopio MD-3DQC, vista lateral
Fotografía 2: Sistema óptico del microscopio
Fotografía 3: Ejemplo de evaluación de un cilindro anilox
Fotografía 4: Comparación de la medición de dos cilindros anilox
Fotografía 5: Representación en 3D de una evaluación de un cilindro de huecograbado
Fotografía 6: Comparación de dos mediciones de cilindros de huecograbado
Datos de contacto
Michael Romanowski
SIBRESS
Karwendelstraße 24
D-82319 Starnberg