MICROSCOP ìA ELECTR ôNICA DE BARRIDO

SIP-31
INSTITUTO POLITÉCNICO NACIONAL
SECRETARIA DE INVESTIGACIÓN Y POSGRADO
DIRECCIÓN DE POSGRADO
FORMATO GUÍA PARA REGISTRO DE CURSOS DE PROPÓSITO ESPECÍFICO
Hoja 1 de 3
I.
DATOS DEL CURSO DE PROPÓSITO ESPECÍFICO
1.1
NOMBRE DEL CURSO
O MÒDULO:
Curso teórico práctico de microscopía electrónica de barrido de alta
resolución y técnicas de caracterización
Importancia de la caracterización de materiales por MEB así como las
técnicas de análisis EDS y EBSD, para diversos materiales
1.2
CLAVE:
(Para ser llenado por la SIP)
1.3
NÚMERO DE HORAS:
1.4
VALOR CURRICULAR:
1.5
SESIÓN DEL COLEGIO DE PROFESORES EN QUE
SESIÓN No.
SE ACORDÓ LA IMPLANTACIÓN DEL CURSO:
40
TEORÍA
28
PRACTICA
12
T-P
(Para ser llenado por la SIP)
FECHA:
d
1.6
FECHA DE REGISTRO EN SIP:
1.7
FECHA DE INICIO:
1.8
FECHA DE TERMINACIÒN:
(Para ser llenado por la SIP)
d
1.9
DIRIGIDO A:
m
a
Público en general
1.10 REQUISITOS DE INSCRIPCIÓN:
Nivel licenciatura con conocimiento de MEB y cristalografía
1.11 RECONOCIMIENTO ACADÉMICO A OTORGAR:
Constancia con valor curricular
ANEXAR TRIPTICO O MATERIAL UTILIZADO PARA DIVULGACI ÓN
II.
40
DATOS DE LOS EXPOSITORES
PROFESOR:
Dr. Hugo Martínez Gutiérrez
PROCEDENCIA:
CNMN
PROFESOR:
M. en C. Héctor Francisco Mendoza León
PROCEDENCIA:
CNMN
ANEXAR CURRICULUM VITAE DE LOS EXPOSITORES
m
a
Hoja 2 de 3
III.
DESCRIPCIÓN DEL CONTENIDO DEL PROGRAMA DE LA ASIGNATURA
III.1
OBJETIVO GENERAL:
Caracterizar materiales de diversa naturaleza, cerámicos, polímeros materiales biológicos y metálicos
Técnicas de análisis por EBSD y EDS.
III.2 DESCRIPCIÓN DEL CONTENIDO
TEMAS Y SUBTEMAS
Curso teórico práctico de microscopía electrónica de barrido de alta resolución y técnicas
de caracterización
TIEMPO
40 horas
 Fundamentos de la microscopía Electrónica de Barrido.
4
 Fundamentos de Discriminacion de energía por rayos X (EDS).
3
 Microscopía Electrónica de Barrido de baja aceleración para materiales biológicos y
poliméricos.
3
 Micrsocopio Eléctrónica de Transmisión barrido (STEM) para caracterización de
Nanoestructuras.
3

Introducción ala cristalografía.

Fundamentos Físicos de la microscopia orientacional EBSD.
4

Programas para caracterizar los mapas obtenidos por EBSD.
4

Preparación de muestras.
12

Interpretación e Integración de resultados.
3
4
Hoja 3 de 3
III.3 BIBLIOGRAFIA UTILIZADA EN LA ASIGNATURA
Introduction to Texture analysis, Macroestructure and Orientation Mapping, V. Randle, O. Engler.
Gordon and Breach Science Publisher. (2000) ISSN 90-5699-244-4
Electron Backscatter Diffraction in Materials Science. A. J., Schwartz, M.
Orientation imagin: The emergence of a new microscopy. Brent L. Adams, Stuart I. Wright and Karsten
Kunze. Metallurgical and Materials Transaction A. Vol 24 N4 (1993)
http://www.hkltechnology.com
http://www.edax.com/tsl/index.html
http://www.oxford-instruments.com
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (2003) ISBN. 0-306-47292-9.
Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (2009)
ISBN 978-0-387-85730-5
III.4 PROCEDIMIENTOS O INSTRUMENTOS DE EVALUACIÓN A UTILIZAR
Examen practico