Esta norma internacional se elaboró de conformidad con los principios de normalización internacionalmente reconocidos y establecidos en la Decisión sobre los Principios para la Elaboración de Normas, Guías y Recomendaciones Internacionales emitida por el Comité de Obstáculos Técnicos al Comercio (OTC) de la Organización Mundial del Comercio. Denominación: A578/A578M − 17 Especificación estándar para Examen ultrasónico de haz recto de chapas de acero laminadas para aplicaciones especiales1 Esta norma se emite bajo la designación fija A578/A578M; el número inmediatamente después de la designación indica el año de adopción original o, en el caso de revisión, el año de la última revisión. Un número entre paréntesis indica el año de la última reaprobación. Un épsilon de superíndice (') indica un cambio editorial desde la última revisión o reaprobación. Esta norma ha sido aprobada para su uso por agencias del Departamento de Defensa de los Estados Unidos. 1. Alcance* 2. Documentos referenciados 2.1 Normas ASTM:3 Especificación A263 para placa revestida de acero al cromo inoxidable A264 Especificación para acero inoxidable al cromo-níquelPlaca revestida Especificación A265 para placas de acero revestidas de níquel y aleación a base de níquel E317 Práctica para evaluar las características de rendimiento de los instrumentos y sistemas de prueba ultrasónicos de pulso-eco sin el uso de instrumentos de medición electrónicos E1316 Terminología para exámenes no destructivos E2491 Guía para evaluar las características de rendimiento de Instrumentos y sistemas de pruebas ultrasónicas PhasedArray 1.1 Esta especificación2 cubre el procedimiento y las normas de aceptación para el examen ultrasónico de haz recto, pulso-eco, de placas laminadas de acero al carbono y aleado, de 3/8 pulg. [10 mm] de espesor y más, para aplicaciones especiales. El método detectará discontinuidades internas paralelas a las superficies laminadas. Se proporcionan tres niveles de estándares de aceptación. Se proporcionan requisitos suplementarios para procedimientos alternativos. 1.2 Las personas que realicen exámenes de acuerdo con esta especificación deberán estar calificadas y certificadas de acuerdo con los requisitos de la última edición de ASNT SNTTC-1A o un estándar equivalente aceptado. Una norma equivalente es aquella que cubre la cualificación y certificación de los candidatos a exámenes ultrasónicos no destructivos y que es aceptable para el comprador. 2.2 Estándar ANSI:4 B 46.1 Textura de la superficie 1.3 Los valores indicados en unidades SI o en unidades de pulgada-libra deben considerarse por separado como estándar. Es posible que los valores indicados en cada sistema no sean equivalentes exactos; Por lo tanto, cada sistema se utilizará independientemente del otro. La combinación de valores de los dos sistemas puede resultar en una no conformidad con la norma. 1.4 Esta norma no pretende abordar todas las preocupaciones de seguridad, si las hubiera, asociadas con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad, salud y medio ambiente y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso. 1.5 Esta norma internacional se elaboró de conformidad con los principios de normalización internacionalmente reconocidos y establecidos en la Decisión sobre los Principios para la Elaboración de Normas, Guías y Recomendaciones Internacionales emitida por el Comité de Obstáculos Técnicos al Comercio (OTC) de la Organización Mundial del Comercio. 2.3 Estándar ASNT:5 SNT-TC-1A 3. Terminología 3.1 Definiciones—Para las definiciones de los términos relacionados con los exámenes no destructivos utilizados en esta especificación, consulte la Terminología E1316. 4. Información sobre pedidos 4.1 En la investigación y en la orden se indicará lo siguiente: 4.1.1 Requisitos del nivel de aceptación (Secciones 8, 9 y 10). Se aplicará el nivel de aceptación B a menos que el comprador y el fabricante acuerden lo contrario. 4.1.2 Cualquier adición a las disposiciones de esta especificación según lo prescrito en 6.2, 14.1 y la Sección 11. 4.1.3 Requisitos complementarios, si los hubiere. 2 Para las aplicaciones del Código de Calderas y Recipientes a Presión de ASME, consulte la Especificación relacionada SA-578/SA-578M en la Sección II de ese Código. 1 Esta especificación está bajo la jurisdicción del Comité A01 de ASTM sobre Acero, Acero Inoxidable y Aleaciones Relacionadas y es responsabilidad directa del Subcomité A01.11 sobre Placas de Acero para Calderas y Recipientes a Presión. La edición actual fue aprobada el 1 de noviembre de 2017. Publicado en noviembre de 2017. Aprobado originalmente en 1967. Última edición anterior homologada en 2012 como A578/A578M – 07 (2012). DOI: 10.1520/A0578_A0578M-17. 1 4 Disponible en el American National Standards Institute (ANSI), 25 W. 43rd St., 4th Floor, Nueva York, NY 10036, http://www.ansi.org. 5 Disponible en la Sociedad Americana de Ensayos No Destructivos (ASNT), P.O. Box 28518, 1711 Arlingate Ln., Columbus, OH 43228-0518, http://www.asnt.org. 3 Para conocer las normas ASTM referenciadas, visite el sitio web de ASTM, www.astm.org, o comuníquese con el Servicio al Cliente de ASTM en [email protected]. Para obtener información sobre el volumen del Libro Anual de Normas ASTM, consulte la página de Resumen del documento de la norma en el sitio web de ASTM. *Al final de esta norma aparece una sección de Resumen de Cambios Derechos de autor © ASTM International, 100 Barr Harbor Drive, PO Box C700, West Conshohocken, PA 19428-2959. Estados Unidos 2 A578/A578M − 17 trayectorias paralelas continuas paralelas al eje de la placa principal, en 3 pulgadas. [75 mm] o centros más pequeños. Mida las líneas desde el centro o una esquina de la placa con una trayectoria adicional dentro de las 2 pulgadas. [50 mm] de todos los bordes de la placa en la superficie de examen. 6.6.2 Realice el escaneo general con un ajuste del instrumento que producirá una primera reflexión desde el lado opuesto 5. Aparato 5.1 El instrumento ultrasónico será un instrumento de tipo eco de impulsos capaz de dirigirse a una sonda de un solo elemento o a una sonda de antenas en fase y estará equipado con un control normalizado de ganancia o atenuación en dB escalonado en incrementos de 1 dB como mínimo. El sistema deberá ser capaz de generar y visualizar escaneos A. 5.2 La linealidad vertical y horizontal y la linealidad del control de amplitud se verificarán de acuerdo con la Práctica E317, Guía E2491, u otro procedimiento aprobado por los usuarios de esta especificación. El fabricante y el comprador pueden acordar un rendimiento de linealidad aceptable. 5.3 El transductor debe ser de 1 o 11∕8 pulg. [25 o 30 mm] de diámetro o 1 pulg. [25 mm] cuadrado. Cuando se utilicen sistemas de antenas en fase, se utilizarán leyes focales que utilicen una apertura activa equivalente. 5.4 Se pueden utilizar otras unidades de búsqueda para evaluar y localizar indicaciones. 6. Procedimiento 6.1 Realice la inspección en un área libre de operaciones que interfieran con la realización adecuada de la prueba. 6.2 A menos que se especifique lo contrario, realice el examen ultrasónico en cualquiera de las superficies principales de la placa. 6.3 La superficie de la placa deberá estar lo suficientemente limpia y lisa como para mantener una primera reflexión desde el lado opuesto de la placa al menos el 50 % de la escala completa durante el escaneo. Esto puede implicar medios adecuados de eliminación de incrustaciones a elección del fabricante. Acondicione las superficies rugosas locales mediante esmerilado. Restaure cualquier identificación especificada que se elimine al esmerilar para lograr la suavidad adecuada de la superficie. 6.4 Realice la prueba mediante uno de los siguientes métodos: contacto directo, inmersión o acoplamiento de columna de líquido. Utilice un acoplante adecuado, como agua, aceite soluble o glicerina. Como resultado de la prueba por este método, se puede esperar que la superficie de las placas tenga un residuo de aceite u óxido o ambos. 6.5 Se recomienda una frecuencia de prueba nominal de 21∕4 MHz. Cuando se prueban placas de menos de 3/4 pulg. [20 mm] de espesor, puede ser necesaria una frecuencia de 5 MHz. El espesor, el tamaño de grano o la microestructura del material y la naturaleza del equipo o método pueden requerir una frecuencia de prueba más alta o más baja. Utilice los transductores a su frecuencia nominal. Durante el examen, se debe producir una pantalla de escaneo A limpia y fácil de interpretar. 6.6 Escaneo: 6.6.1 El escaneo se realizará a lo largo de líneas de cuadrícula perpendiculares continuas en 9 pulgadas nominales. Los centros [de 225 mm], o a opción del fabricante, deben estar a lo largo de trayectorias paralelas continuas, transversales al eje de la placa principal, en 4 pulgadas nominales. [100 mm], o debe estar a lo largo de 2 A578/A578M − 17 10. Estándar de aceptación: nivel C 10.1 Cualquier área en la que una o más discontinuidades produzcan una pérdida total continua de retrorreflexión acompañada de indicaciones continuas en el mismo plano (dentro del 5 % de la placa) lado de una zona sonora de la placa del 50 al 90 % de la escala completa. Se pueden realizar pequeños ajustes de sensibilidad para adaptarse a la rugosidad de la superficie. 6.6.3 Cuando se observe una condición de discontinuidad durante el escaneo general, ajuste el instrumento para producir una primera reflexión desde el lado opuesto de un área sonora de la placa de 75 6 5 % de la escala completa. Mantenga este ajuste del instrumento durante la evaluación de la condición de discontinuidad. 7. Grabación 7.1 Registre todas las discontinuidades que causen la pérdida completa de la reflexión posterior. 7.2 Para placas de 3∕4 pulg. [20 mm] de espesor o más, registre todas las indicaciones con amplitudes iguales o superiores al 50 % de la retrorreflexión inicial y acompañadas de una pérdida del 50 % de la retrorreflexión. NOTA 1: Las indicaciones que ocurren a mitad de camino entre el impulso inicial y la primera reflexión posterior pueden causar una segunda reflexión en el lugar de la primera reflexión posterior. Cuando se observe esta condición, se investigará adicionalmente mediante el uso de múltiples retrorreflexiones. 7.3 Cuando se efectúe un escaneo de la cuadrícula y se detecten condiciones registrables como en los puntos 7.1 y 7.2 a lo largo de una línea de cuadrícula dada, se escaneará toda la superficie de los cuadrados adyacentes a esta indicación. Cuando se realiza un escaneo de trayecto paralelo y se detectan condiciones registrables como en 7.1 y 7.2 , toda el área de superficie de un 9 por 9 pulgadas. Se escaneará el cuadrado [225 por 225 mm] centrado en esta indicación. Los límites verdaderos en los que existan estas condiciones se establecerán en cualquiera de los dos métodos mediante la siguiente técnica: Aleje el transductor del centro de la discontinuidad hasta que la altura de las indicaciones de reflexión y discontinuidad sean iguales. Marque la placa en un punto equivalente al centro del transductor. Repita la operación para establecer el límite. 8. Estándar de aceptación: nivel A 8.1 Cualquier área donde una o más discontinuidades produzcan una pérdida total continua de retrorreflexión acompañada de indicaciones continuas en el mismo plano (dentro del 5 % del espesor de la placa) que no pueda abarcarse dentro de un círculo cuyo diámetro sea de 3 pulgadas. [75 mm] o 1/2 del espesor de la placa, lo que sea mayor, es inaceptable. 9. Estándares de Aceptación—Nivel B 9.1 Cualquier área donde una o más discontinuidades produzcan una pérdida total continua de retrorreflexión acompañada de indicaciones continuas en el mismo plano (dentro del 5 % del espesor de la placa) que no pueda abarcarse dentro de un círculo cuyo diámetro sea de 3 pulgadas. [75 mm] o 1/2 del espesor de la placa, lo que sea mayor, es inaceptable. 9.2 Además, dos o más discontinuidades menores que las descritas en 9.1 serán inaceptables a menos que estén separadas por una distancia mínima igual al diámetro mayor de la discontinuidad mayor o a menos que puedan ser abarcadas colectivamente por el círculo descrito en 9.1. 3 A578/A578M − 17 en el lugar de fabricación antes del envío, a menos que se especifique lo contrario, y se llevará a cabo sin interferir innecesariamente con las operaciones del fabricante. espesor) que no se puede abarcar dentro de un tamaño de 1 pulgada. El círculo de [25 mm] de diámetro es inaceptable. 11. Informe 11.1 A menos que el comprador y el fabricante acuerden lo contrario, el fabricante comunicará los siguientes datos: 11.1.1 Todas las indicaciones anotables enumeradas en la sección 7 en un croquis de la placa con datos suficientes para relacionar la geometría y la identidad del croquis con las de la placa. 11.1.2 Parámetros de prueba que incluyen: marca y modelo del instrumento, condición de la superficie, unidad de búsqueda (tipo y frecuencia) y acoplante. 11.1.3 Fecha de la prueba. 13. Nueva audiencia 13.1 El fabricante se reserva el derecho de discutir con el comprador la placa rechazable probada por ultrasonidos con el objeto de una posible reparación del defecto indicado por ultrasonidos antes del rechazo de la placa. 14. Marca 14.1 Las placas aceptadas de acuerdo con esta especificación se identificarán mediante el estampado "UT A578—A" en una esquina para el Nivel A, "UT A578—B" para el Nivel B y "UT A578—C" para el Nivel C. Se añadirá el número de suplemento para cada requisito complementario solicitado. 12. Inspección 12.1 El inspector que represente al comprador tendrá acceso en todo momento, mientras se realizan los trabajos relacionados con el contrato del comprador, a todas las partes de los trabajos del fabricante que se refieran a las pruebas ultrasónicas del material solicitado. El fabricante ofrecerá al inspector todas las facilidades razonables para convencerle de que el material se suministra de acuerdo con esta especificación. Se realizarán todas las pruebas e inspecciones. 15. Palabras clave 15.1 ensayos no destructivos; piezas que contienen presión; aceros para recipientes de presión; placa de acero para aplicaciones de recipientes a presión; placas de acero; viga recta; Exámenes ultrasónicos REQUISITOS COMPLEMENTARIOS Estos requisitos adicionales solo se aplicarán cuando el comprador lo especifique individualmente. Cuando los detalles de estos requisitos no están cubiertos en este documento, están sujetos a un acuerdo entre el fabricante y el comprador. S1. Escaneo S5. Acabado superficial S1.1 El escaneo será continuo sobre el 100 % de la superficie de la placa a lo largo de trayectorias paralelas, transversales o paralelas al eje principal de la placa, con un solapamiento no inferior al 10 % entre cada trayectoria. S5.1 El acabado superficial de la placa se condicionará a un máximo de 125 μin. [3 μm] AA (ver ANSI B 46.1) antes de la prueba. S2. Estándar de aceptación Consulte las especificaciones A263, A264 y A265 para obtener descripciones equivalentes para el nivel de calidad del revestimiento. S6. Retirado S2.1 Cualquier condición registrable enumerada en la Sección 7 que (1) sea continua, (2) esté en el mismo plano (dentro del 5 % del espesor de la placa) y (3) no pueda ser abarcada por un 3 pulg. círculo de [75 mm] de diámetro, es inaceptable. Dos o más condiciones registrables (ver Sección 7), que (1) están en el mismo plano (dentro del 5 % del espesor de la placa), (2) individualmente pueden ser abarcadas por un 3 pulg. [75 mm] de diámetro, (3) están separados entre sí por una distancia menor que la mayor dimensión de la indicación más pequeña, y (4) colectivamente no pueden ser abarcados por un círculo de 3 pulgadas. círculo de [75 mm] de diámetro, son inaceptables. S2.2 Se utilizará un nivel de aceptación más restrictivo que el de la sección 8 o 9 por acuerdo entre el fabricante y el comprador. S7. Retirado Consulte las especificaciones A263, A264 y A265 para obtener descripciones equivalentes para el nivel de calidad del revestimiento. S8. Examen ultrasónico mediante calibración de orificio de fondo plano (para placas de 4 pulg. [100 milímetros] grueso y mayor) S8.1 Utilice los siguientes procedimientos de calibración y registro en lugar de 6.6.2, 6.6.3 y la Sección 7. S8.2 El transductor estará de acuerdo con 5.3. S8.3 Reflectores de referencia: los orificios profundos de fondo plano T/4, T/2 y 3T/4 se utilizarán para calibrar el equipo, donde T es el espesor de la placa. El diámetro del orificio de fondo plano debe estar de acuerdo con la Tabla S8.1. Los agujeros se pueden perforar S3. Procedimiento S3.1 El fabricante proporcionará un procedimiento escrito de acuerdo con esta especificación. 4 TABLA S8.1 Diámetro del orificio de calibración en funciónA578/A578M del − 17 espesor de la placa (S8) Espesor de la placa, pulg. [milímetro] 4–6 S4. Certificación >6–9 [>150-225] >9–12 [>225–300] >12–20 [>300–500] [100–150] S4.1 El fabricante deberá proporcionar una certificación escrita de las cualificaciones del operador de ensayos ultrasónicos. Diámetro del orificio, pulg. [milímetro] 8⁄11 [29] 5 5⁄8 [16] 3⁄4 [19] 7⁄8 [22] A578/A578M − 17 superficial de 200 μin. [5 μm] como máximo para placas de hasta 8 pulg. [200 mm] de grosor, inclusive, y 250 μin. [6 μm] como máximo para placas la placa que se va a examinar si pueden localizarse sin interferir con el uso de la placa, en una prolongación de la placa que se va a examinar, o en un bloque de referencia de la misma composición nominal y tratamiento térmico que la placa que se va a examinar. La superficie del bloque de referencia no será mejor a simple vista que la superficie de la placa que se vaya a examinar. El bloque de referencia tendrá el mismo espesor nominal (dentro de Del 75 % al 125 % o 1 pulg. [25 mm] de la placa examinada, la que sea menor) y deberá tener propiedades acústicas similares a las de la placa examinada. Se presume similitud acústica cuando, sin un cambio en la configuración del instrumento, la comparación de las señales de retrorreflexión entre el bloque de referencia y la placa examinada muestra una variación del 25 % o menos. S8.4 Procedimiento de calibración: S8.4.1 Acople y coloque la unidad de búsqueda para las amplitudes máximas de los reflectores en T/4, T/2 y 3T/4. Ajuste el instrumento para que produzca una indicación de 75 6 5 % de escala completa desde el reflector que proporcione la amplitud más alta. S8.4.2 Sin cambiar la configuración del instrumento, acople y coloque la unidad de búsqueda sobre cada uno de los orificios y marque en la pantalla la amplitud máxima de cada orificio y cada reflexión mínima restante. S8.4.3 Marque en la pantalla la mitad de la distancia vertical desde la línea base del A-scan hasta cada marca de orificio de amplitud máxima. Conecte las marcas de orificio de amplitud máxima y extienda la línea a través del grosor para el 100 % DAC (curva de corrección de amplitud de distancia). Del mismo modo, conecte y extienda las marcas de amplitud máxima media para el DAC del 50 %. Alternativamente, cuando se utilice la ganancia corregida en el tiempo (TCG), las respuestas de los orificios de fondo plano se ecualizarán al 75 % de la altura de la pantalla (65 %) y se anotará la amplitud media. Grabación S8.5 : S8.5.1 Registre todas las áreas en las que la reflexión posterior restante es menor que la más alta de las reflexiones posteriores restantes mínimas que se encuentran en S8.4.2. S8.5.2 Registre todas las áreas en las que las indicaciones superen el 50 % de DAC o el 50 % de TCG. S8.5.3 Cuando se detecten condiciones registrables enumeradas en S8.5.1 y S8.5.2 a lo largo de una línea de cuadrícula dada, escanee continuamente toda la superficie de los cuadrados adyacentes a la condición y registre los límites o la extensión de cada condición registrable. S8.6 El escaneo se realizará de acuerdo con 6.6. S8.7 Los niveles de aceptación de la Sección 8 o 9 se aplicarán según lo especificado por el comprador, excepto que la condición registrable será la indicada en S8.5. S9. Examen ultrasónico de placas refundidas por electroescoria (ESR) y refundidas por arco al vacío (VAR), de 1 a 16 pulg. [25 a 400 mm] de espesor, utilizando calibración de orificio de fondo plano y correcciones de distancia-amplitud S9.1 El material a examinar debe tener un acabado 4 A578/A578M − 17 agujero de amplitud máxima. Conecte las marcas de orificio de amplitud máxima y extienda la línea a través del grosor para el 100 % DAC (curva de corrección de amplitud de distancia). Del mismo modo, conecte y extienda las marcas de amplitud media máxima para el DAC del 50 %. Alternativamente, cuando se utilice la ganancia corregida en el tiempo (TCG), las respuestas de los orificios de fondo plano se ecualizarán al 75 % de la altura de la pantalla (65 %) y se anotará la amplitud media. S9.6 Exploración : la exploración cubrirá el 100 % de la superficie de una placa principal, y la unidad de búsqueda se indexará entre cada pasada de manera que haya al menos un 15 % de superposición de las pasadas adyacentes a fin de asegurar una cobertura adecuada para localizar las discontinuidades. S9.7 Grabación: registre todas las áreas en las que la reflexión posterior caiga por debajo del 50 % de DAC o del 50 % de TCG. Si la caída en el reflejo posterior no va acompañada de otras indicaciones en la pantalla, reacondicione la superficie de la zona y vuelva a examinar por ultrasonidos. Si la retrorreflexión sigue siendo inferior al 50 % de DAC, la pérdida puede deberse a la estructura metalúrgica del material que se está examinando. El material se mantendrá para revisión metalúrgica por parte del comprador y el fabricante. S9.8 Normas de aceptación: cualquier indicación que supere el 100 % de DAC o el 100 % de TCG se considerará inaceptable. El fabricante puede reservarse el derecho de discutir S9.4 Reflectores de referencia: los orificios profundos de fondo plano T/4, T/2 y 3T/4 se utilizarán para calibrar el equipo, donde T es el espesor de la placa. El diámetro del orificio de fondo plano debe estar de acuerdo con la Tabla S9.1. Los fondos planos de los orificios deberán estar a menos de 1° de paralelo a la superficie de examen. Los orificios pueden perforarse en la placa que se va a examinar si se pueden ubicar sin interferir con el uso de la placa, en una prolongación de la placa que se va a examinar, o en un bloque de referencia de la misma composición nominal y tratamiento térmico que la placa que se va a examinar. La superficie del bloque de referencia no será mejor a simple vista que la superficie de la placa que se vaya a examinar. El bloque de referencia deberá tener el mismo espesor nominal (entre el 75 % y el 125 % o 1 pulg. [25 mm] de la placa examinada, la que sea menor) y deberá tener propiedades acústicas similares a las de la placa examinada. Se presume similitud acústica cuando, sin un cambio en la configuración del instrumento, la comparación de las señales de retrorreflexión entre el bloque de referencia y la placa examinada muestra una variación del 25 % o menos. S9.5 Procedimiento de calibración: S9.5.1 Acople y coloque la unidad de búsqueda para las amplitudes máximas de los reflectores en T/4, T/2 y 3T/4. Ajuste el instrumento para que produzca una indicación de 75 6 5 % de escala completa del reflector que proporcione la amplitud más alta. S9.5.2 Sin cambiar la configuración del instrumento, acople y coloque la unidad de búsqueda sobre cada uno de los orificios y marque en la pantalla la amplitud máxima de cada uno de los orificios. S9.5.3 Marque en la pantalla la mitad de las distancias verticales desde la línea de barrido hasta cada marca de más de 8 a 16 pulg. [200 a 400 mm] de espesor. S9.2 Utilice los siguientes procedimientos en lugar de 6.6.1, 6.6.2, 6.6.3 y Sección 7. S9.3 El transductor deberá estar de acuerdo con 5.3. TABLA S9.1 Diámetro del orificio de calibración en función del espesor de la placa (S9) Espesor de la placa, pulg. [milímetro] 1–4 [25–100] Diámetro del orificio, pulg. [milímetro] 1⁄2 [13] 4 >4–8 [>100–200] 1⁄8 [3] >8–12 [>200–300] 1⁄4 [6] >12–16 [>300–400] 3⁄8 [10] A578/A578M − 17 Material rechazado examinado por ultrasonidos con el comprador, siendo el objeto la posible reparación del defecto indicado por ultrasonidos antes del rechazo de la placa. RESUMEN DE LOS CAMBIOS El Comité A01 ha identificado la ubicación de los cambios seleccionados en esta norma desde la última edición (A578/A578M – 07 (2012)) que pueden afectar el uso de esta norma. (Aprobado el 1 de noviembre de 2017). (1) Se agregó la Sección 3, Terminología, y se renumeraron las secciones posteriores en consecuencia. (2) Revisado en su totalidad para incluir la tecnología de ultrasonido multielemento (Phased Array). ASTM International no toma ninguna posición con respecto a la validez de los derechos de patente afirmados en relación con cualquier artículo mencionado en esta norma. Se advierte expresamente a los usuarios de esta norma que la determinación de la validez de dichos derechos de patente, y el riesgo de infracción de dichos derechos, son de su entera responsabilidad. Esta norma está sujeta a revisión en cualquier momento por parte del comité técnico responsable y debe ser revisada cada cinco años y, si no se revisa, se vuelve a aprobar o se retira. Se invita a sus comentarios ya sea para la revisión de esta norma o para normas adicionales y deben dirigirse a la sede de ASTM International. Sus comentarios serán considerados cuidadosamente en una reunión del comité técnico responsable, a la que usted puede asistir. Si cree que sus comentarios no han recibido una audiencia justa, debe dar a conocer sus puntos de vista al Comité de Normas de ASTM, en la dirección que se muestra a continuación. Esta norma está protegida por los derechos de autor de ASTM International, 100 Barr Harbor Drive, PO Box C700, West Conshohocken, PA 19428-2959, Estados Unidos. Las reimpresiones individuales (copias individuales o múltiples) de esta norma se pueden obtener comunicándose con ASTM en la dirección anterior o al 610-832-9585 (teléfono), 610-832-9555 (fax), o [email protected] (correo electrónico); o a través del sitio web de ASTM (www.astm.org). Los derechos de permiso para fotocopiar la norma también pueden obtenerse en el Centro de Autorización de Derechos de Autor, 222 Rosewood Drive, Danvers, MA 01923, Tel: (978) 646-2600; http://www.copyright.com/ 5