Esta norma internacional se elaboró de conformidad con los principios de normalización internacionalmente reconocidos y establecidos en la Decisión sobre los Principios para
la Elaboración de Normas, Guías y Recomendaciones Internacionales emitida por el Comité de Obstáculos Técnicos al Comercio (OTC) de la Organización Mundial del
Comercio.
Denominación: A578/A578M − 17
Especificación estándar para
Examen ultrasónico de haz recto de chapas de acero
laminadas para aplicaciones especiales1
Esta norma se emite bajo la designación fija A578/A578M; el número inmediatamente después de la designación indica el año de
adopción original o, en el caso de revisión, el año de la última revisión. Un número entre paréntesis indica el año de la última
reaprobación. Un épsilon de superíndice (') indica un cambio editorial desde la última revisión o reaprobación.
Esta norma ha sido aprobada para su uso por agencias del Departamento de Defensa de los Estados Unidos.
1. Alcance*
2. Documentos referenciados
2.1 Normas ASTM:3
Especificación A263 para placa revestida de acero al cromo
inoxidable A264 Especificación para acero inoxidable al
cromo-níquelPlaca revestida
Especificación A265 para placas de acero revestidas de
níquel y aleación a base de níquel
E317 Práctica para evaluar las características de
rendimiento de los instrumentos y sistemas de prueba
ultrasónicos de pulso-eco sin el uso de instrumentos de
medición electrónicos
E1316 Terminología para exámenes no destructivos E2491
Guía para evaluar las características de rendimiento de
Instrumentos y sistemas de pruebas ultrasónicas PhasedArray
1.1 Esta especificación2 cubre el procedimiento y las
normas de aceptación para el examen ultrasónico de haz recto,
pulso-eco, de placas laminadas de acero al carbono y aleado,
de 3/8 pulg. [10 mm] de espesor y más, para aplicaciones
especiales. El método detectará discontinuidades internas
paralelas a las superficies laminadas. Se proporcionan tres
niveles de estándares de aceptación. Se proporcionan
requisitos suplementarios para procedimientos alternativos.
1.2 Las personas que realicen exámenes de acuerdo con
esta especificación deberán estar calificadas y certificadas de
acuerdo con los requisitos de la última edición de ASNT SNTTC-1A o un estándar equivalente aceptado. Una norma
equivalente es aquella que cubre la cualificación y
certificación de los candidatos a exámenes ultrasónicos no
destructivos y que es aceptable para el comprador.
2.2 Estándar ANSI:4
B 46.1 Textura de la superficie
1.3 Los valores indicados en unidades SI o en unidades de
pulgada-libra deben considerarse por separado como estándar.
Es posible que los valores indicados en cada sistema no sean
equivalentes exactos; Por lo tanto, cada sistema se utilizará
independientemente del otro. La combinación de valores de
los dos sistemas puede resultar en una no conformidad con la
norma.
1.4 Esta norma no pretende abordar todas las
preocupaciones de seguridad, si las hubiera, asociadas con su
uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer
prácticas apropiadas de seguridad, salud y medio ambiente y
determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias
antes de su uso.
1.5 Esta norma internacional se elaboró de conformidad
con los principios de normalización internacionalmente
reconocidos y establecidos en la Decisión sobre los Principios
para la Elaboración de Normas, Guías y Recomendaciones
Internacionales emitida por el Comité de Obstáculos Técnicos
al Comercio (OTC) de la Organización Mundial del
Comercio.
2.3 Estándar ASNT:5
SNT-TC-1A
3. Terminología
3.1 Definiciones—Para las definiciones de los términos
relacionados con los exámenes no destructivos utilizados en
esta especificación, consulte la Terminología E1316.
4. Información sobre pedidos
4.1 En la investigación y en la orden se indicará lo siguiente:
4.1.1 Requisitos del nivel de aceptación (Secciones 8, 9 y
10). Se aplicará el nivel de aceptación B a menos que el
comprador y el fabricante acuerden lo contrario.
4.1.2 Cualquier adición a las disposiciones de esta
especificación según lo prescrito en 6.2, 14.1 y la Sección 11.
4.1.3 Requisitos complementarios, si los hubiere.
2
Para las aplicaciones del Código de Calderas y Recipientes a Presión de ASME,
consulte la Especificación relacionada SA-578/SA-578M en la Sección II de ese
Código.
1
Esta especificación está bajo la jurisdicción del Comité A01 de ASTM sobre
Acero, Acero Inoxidable y Aleaciones Relacionadas y es responsabilidad directa
del Subcomité A01.11 sobre Placas de Acero para Calderas y Recipientes a
Presión.
La edición actual fue aprobada el 1 de noviembre de 2017. Publicado en
noviembre de 2017. Aprobado originalmente en 1967. Última edición anterior
homologada en 2012 como A578/A578M – 07 (2012). DOI:
10.1520/A0578_A0578M-17.
1
4
Disponible en el American National Standards Institute (ANSI), 25 W. 43rd
St., 4th Floor, Nueva York, NY 10036, http://www.ansi.org.
5
Disponible en la Sociedad Americana de Ensayos No Destructivos (ASNT),
P.O. Box 28518, 1711 Arlingate Ln., Columbus, OH 43228-0518,
http://www.asnt.org.
3
Para conocer las normas ASTM referenciadas, visite el sitio web de ASTM,
www.astm.org, o comuníquese con el Servicio al Cliente de ASTM en
[email protected]. Para obtener información sobre el volumen del Libro Anual de
Normas ASTM, consulte la página de Resumen del documento de la norma en el
sitio web de ASTM.
*Al final de esta norma aparece una sección de Resumen de
Cambios
Derechos de autor © ASTM International, 100 Barr Harbor Drive, PO Box C700, West Conshohocken, PA 19428-2959. Estados Unidos
2
A578/A578M − 17
trayectorias paralelas continuas paralelas al eje de la placa
principal, en 3 pulgadas. [75 mm] o centros más pequeños.
Mida las líneas desde el centro o una esquina de la placa con
una trayectoria adicional dentro de las 2 pulgadas. [50 mm] de
todos los bordes de la placa en la superficie de examen.
6.6.2 Realice el escaneo general con un ajuste del
instrumento que producirá una primera reflexión desde el lado
opuesto
5. Aparato
5.1 El instrumento ultrasónico será un instrumento de tipo
eco de impulsos capaz de dirigirse a una sonda de un solo
elemento o a una sonda de antenas en fase y estará equipado
con un control normalizado de ganancia o atenuación en dB
escalonado en incrementos de 1 dB como mínimo. El sistema
deberá ser capaz de generar y visualizar escaneos A.
5.2 La linealidad vertical y horizontal y la linealidad del
control de amplitud se verificarán de acuerdo con la Práctica
E317, Guía E2491, u otro procedimiento aprobado por los
usuarios de esta especificación. El fabricante y el comprador
pueden acordar un rendimiento de linealidad aceptable.
5.3 El transductor debe ser de 1 o 11∕8 pulg. [25 o 30 mm]
de diámetro o 1 pulg. [25 mm] cuadrado. Cuando se utilicen
sistemas de antenas en fase, se utilizarán leyes focales que
utilicen una apertura activa equivalente.
5.4 Se pueden utilizar otras unidades de búsqueda para
evaluar y localizar indicaciones.
6. Procedimiento
6.1 Realice la inspección en un área libre de operaciones
que interfieran con la realización adecuada de la prueba.
6.2 A menos que se especifique lo contrario, realice el
examen ultrasónico en cualquiera de las superficies
principales de la placa.
6.3 La superficie de la placa deberá estar lo suficientemente
limpia y lisa como para mantener una primera reflexión desde
el lado opuesto de la placa al menos el 50 % de la escala
completa durante el escaneo. Esto puede implicar medios
adecuados de eliminación de incrustaciones a elección del
fabricante. Acondicione las superficies rugosas locales
mediante esmerilado. Restaure cualquier identificación
especificada que se elimine al esmerilar para lograr la
suavidad adecuada de la superficie.
6.4 Realice la prueba mediante uno de los siguientes
métodos: contacto directo, inmersión o acoplamiento de
columna de líquido. Utilice un acoplante adecuado, como
agua, aceite soluble o glicerina. Como resultado de la prueba
por este método, se puede esperar que la superficie de las
placas tenga un residuo de aceite u óxido o ambos.
6.5 Se recomienda una frecuencia de prueba nominal de
21∕4 MHz. Cuando se prueban placas de menos de 3/4 pulg. [20
mm] de espesor, puede ser necesaria una frecuencia de 5
MHz. El espesor, el tamaño de grano o la microestructura del
material y la naturaleza del equipo o método pueden requerir
una frecuencia de prueba más alta o más baja. Utilice los
transductores a su frecuencia nominal. Durante el examen, se
debe producir una pantalla de escaneo A limpia y fácil de
interpretar.
6.6 Escaneo:
6.6.1 El escaneo se realizará a lo largo de líneas de
cuadrícula perpendiculares continuas en 9 pulgadas
nominales. Los centros [de 225 mm], o a opción del
fabricante, deben estar a lo largo de trayectorias paralelas
continuas, transversales al eje de la placa principal, en 4
pulgadas nominales. [100 mm], o debe estar a lo largo de
2
A578/A578M − 17
10. Estándar de aceptación: nivel C
10.1 Cualquier área en la que una o más discontinuidades
produzcan una pérdida total continua de retrorreflexión
acompañada de indicaciones continuas en el mismo plano
(dentro del 5 % de la placa)
lado de una zona sonora de la placa del 50 al 90 % de la
escala completa. Se pueden realizar pequeños ajustes de
sensibilidad para adaptarse a la rugosidad de la superficie.
6.6.3 Cuando se observe una condición de
discontinuidad durante el escaneo general, ajuste el
instrumento para producir una primera reflexión desde el
lado opuesto de un área sonora de la placa de 75 6 5 % de
la escala completa. Mantenga este ajuste del instrumento
durante la evaluación de la condición de discontinuidad.
7. Grabación
7.1 Registre todas las discontinuidades que causen la
pérdida completa de la reflexión posterior.
7.2 Para placas de 3∕4 pulg. [20 mm] de espesor o más,
registre todas las indicaciones con amplitudes iguales o
superiores al 50 % de la retrorreflexión inicial y acompañadas
de una pérdida del 50 % de la retrorreflexión.
NOTA 1: Las indicaciones que ocurren a mitad de camino entre el
impulso inicial y la primera reflexión posterior pueden causar una
segunda reflexión en el lugar de la primera reflexión posterior. Cuando
se observe esta condición, se investigará adicionalmente mediante el uso
de múltiples retrorreflexiones.
7.3 Cuando se efectúe un escaneo de la cuadrícula y se
detecten condiciones registrables como en los puntos 7.1 y
7.2 a lo largo de una línea de cuadrícula dada, se escaneará
toda la superficie de los cuadrados adyacentes a esta
indicación. Cuando se realiza un escaneo de trayecto paralelo
y se detectan condiciones registrables como en 7.1 y 7.2 ,
toda el área de superficie de un 9 por 9 pulgadas. Se
escaneará el cuadrado [225 por 225 mm] centrado en esta
indicación. Los límites verdaderos en los que existan estas
condiciones se establecerán en cualquiera de los dos métodos
mediante la siguiente técnica: Aleje el transductor del centro
de la discontinuidad hasta que la altura de las indicaciones de
reflexión y discontinuidad sean iguales. Marque la placa en
un punto equivalente al centro del transductor. Repita la
operación para establecer el límite.
8. Estándar de aceptación: nivel A
8.1 Cualquier área donde una o más discontinuidades
produzcan una pérdida total continua de retrorreflexión
acompañada de indicaciones continuas en el mismo plano
(dentro del 5 % del espesor de la placa) que no pueda
abarcarse dentro de un círculo cuyo diámetro sea de 3
pulgadas. [75 mm] o 1/2 del espesor de la placa, lo que sea
mayor, es inaceptable.
9. Estándares de Aceptación—Nivel B
9.1 Cualquier área donde una o más discontinuidades
produzcan una pérdida total continua de retrorreflexión
acompañada de indicaciones continuas en el mismo plano
(dentro del 5 % del espesor de la placa) que no pueda
abarcarse dentro de un círculo cuyo diámetro sea de 3
pulgadas. [75 mm] o 1/2 del espesor de la placa, lo que sea
mayor, es inaceptable.
9.2 Además, dos o más discontinuidades menores que las
descritas en 9.1 serán inaceptables a menos que estén
separadas por una distancia mínima igual al diámetro mayor
de la discontinuidad mayor o a menos que puedan ser
abarcadas colectivamente por el círculo descrito en 9.1.
3
A578/A578M − 17
en el lugar de fabricación antes del envío, a menos que se
especifique lo contrario, y se llevará a cabo sin interferir
innecesariamente con las operaciones del fabricante.
espesor) que no se puede abarcar dentro de un tamaño de 1
pulgada. El círculo de [25 mm] de diámetro es inaceptable.
11. Informe
11.1 A menos que el comprador y el fabricante acuerden lo
contrario, el fabricante comunicará los siguientes datos:
11.1.1 Todas las indicaciones anotables enumeradas en la
sección 7 en un croquis de la placa con datos suficientes para
relacionar la geometría y la identidad del croquis con las de la
placa.
11.1.2 Parámetros de prueba que incluyen: marca y modelo
del instrumento, condición de la superficie, unidad de búsqueda
(tipo y frecuencia) y acoplante.
11.1.3 Fecha de la prueba.
13. Nueva audiencia
13.1 El fabricante se reserva el derecho de discutir con el
comprador la placa rechazable probada por ultrasonidos con el
objeto de una posible reparación del defecto indicado por
ultrasonidos antes del rechazo de la placa.
14. Marca
14.1 Las placas aceptadas de acuerdo con esta
especificación se identificarán mediante el estampado "UT
A578—A" en una esquina para el Nivel A, "UT A578—B"
para el Nivel B y "UT A578—C" para el Nivel C. Se añadirá
el número de suplemento para cada requisito complementario
solicitado.
12. Inspección
12.1 El inspector que represente al comprador tendrá
acceso en todo momento, mientras se realizan los trabajos
relacionados con el contrato del comprador, a todas las partes
de los trabajos del fabricante que se refieran a las pruebas
ultrasónicas del material solicitado. El fabricante ofrecerá al
inspector todas las facilidades razonables para convencerle de
que el material se suministra de acuerdo con esta
especificación. Se realizarán todas las pruebas e inspecciones.
15. Palabras clave
15.1 ensayos no destructivos; piezas que contienen presión;
aceros para recipientes de presión; placa de acero para
aplicaciones de recipientes a presión; placas de acero; viga
recta; Exámenes ultrasónicos
REQUISITOS COMPLEMENTARIOS
Estos requisitos adicionales solo se aplicarán cuando el comprador lo especifique individualmente.
Cuando los detalles de estos requisitos no están cubiertos en este documento, están sujetos a un
acuerdo entre el fabricante y el comprador.
S1. Escaneo
S5. Acabado superficial
S1.1 El escaneo será continuo sobre el 100 % de la
superficie de la placa a lo largo de trayectorias paralelas,
transversales o paralelas al eje principal de la placa, con un
solapamiento no inferior al 10 % entre cada trayectoria.
S5.1 El acabado superficial de la placa se condicionará a un
máximo de 125 μin. [3 μm] AA (ver ANSI B 46.1) antes de la
prueba.
S2. Estándar de aceptación
Consulte las especificaciones A263, A264 y A265 para
obtener descripciones equivalentes para el nivel de calidad del
revestimiento.
S6. Retirado
S2.1 Cualquier condición registrable enumerada en la
Sección 7 que (1) sea continua, (2) esté en el mismo plano
(dentro del 5 % del espesor de la placa) y (3) no pueda ser
abarcada por un 3 pulg. círculo de [75 mm] de diámetro, es
inaceptable. Dos o más condiciones registrables (ver Sección
7), que (1) están en el mismo plano (dentro del 5 % del
espesor de la placa), (2) individualmente pueden ser abarcadas
por un 3 pulg. [75 mm] de diámetro, (3) están separados entre
sí por una distancia menor que la mayor dimensión de la
indicación más pequeña, y (4) colectivamente no pueden ser
abarcados por un círculo de 3 pulgadas. círculo de [75 mm] de
diámetro, son inaceptables.
S2.2 Se utilizará un nivel de aceptación más restrictivo que
el de la sección 8 o 9 por acuerdo entre el fabricante y el
comprador.
S7. Retirado
Consulte las especificaciones A263, A264 y A265 para
obtener descripciones equivalentes para el nivel de calidad del
revestimiento.
S8. Examen ultrasónico mediante calibración de orificio de
fondo plano (para placas de 4 pulg. [100 milímetros]
grueso y mayor)
S8.1 Utilice los siguientes procedimientos de calibración y
registro en lugar de 6.6.2, 6.6.3 y la Sección 7.
S8.2 El transductor estará de acuerdo con 5.3.
S8.3 Reflectores de referencia: los orificios profundos de
fondo plano T/4, T/2 y 3T/4 se utilizarán para calibrar el
equipo, donde T es el espesor de la placa. El diámetro del
orificio de fondo plano debe estar de acuerdo con la Tabla
S8.1. Los agujeros se pueden perforar
S3. Procedimiento
S3.1 El fabricante proporcionará un procedimiento escrito
de acuerdo con esta especificación.
4
TABLA S8.1 Diámetro del orificio de calibración en funciónA578/A578M
del
− 17
espesor de la placa (S8)
Espesor de la placa, pulg. [milímetro]
4–6
S4. Certificación
>6–9
[>150-225]
>9–12
[>225–300]
>12–20
[>300–500]
[100–150]
S4.1 El fabricante deberá proporcionar una certificación
escrita de las cualificaciones del operador de ensayos
ultrasónicos.
Diámetro del orificio, pulg. [milímetro]
8⁄11 [29]
5
5⁄8
[16]
3⁄4
[19]
7⁄8
[22]
A578/A578M − 17
superficial de 200 μin. [5 μm] como máximo para placas de
hasta 8 pulg. [200 mm] de grosor, inclusive, y 250 μin. [6 μm]
como máximo para placas
la placa que se va a examinar si pueden localizarse sin
interferir con el uso de la placa, en una prolongación de la
placa que se va a examinar, o en un bloque de referencia de la
misma composición nominal y tratamiento térmico que la
placa que se va a examinar. La superficie del bloque de
referencia no será mejor a simple vista que la superficie de la
placa que se vaya a examinar. El bloque de referencia tendrá
el mismo espesor nominal (dentro de
Del 75 % al 125 % o 1 pulg. [25 mm] de la placa examinada,
la que sea menor) y deberá tener propiedades acústicas
similares a las de la placa examinada. Se presume similitud
acústica cuando, sin un cambio en la configuración del
instrumento, la comparación de las señales de retrorreflexión
entre el bloque de referencia y la placa examinada muestra una
variación del 25 % o menos.
S8.4 Procedimiento de calibración:
S8.4.1 Acople y coloque la unidad de búsqueda para las
amplitudes máximas de los reflectores en T/4, T/2 y 3T/4.
Ajuste el instrumento para que produzca una indicación de
75 6 5 % de escala completa desde el reflector que
proporcione la amplitud más alta.
S8.4.2 Sin cambiar la configuración del instrumento, acople
y coloque la unidad de búsqueda sobre cada uno de los
orificios y marque en la pantalla la amplitud máxima de cada
orificio y cada reflexión mínima restante.
S8.4.3 Marque en la pantalla la mitad de la distancia vertical
desde la línea base del A-scan hasta cada marca de orificio de
amplitud máxima. Conecte las marcas de orificio de amplitud
máxima y extienda la línea a través del grosor para el 100 %
DAC (curva de corrección de amplitud de distancia). Del
mismo modo, conecte y extienda las marcas de amplitud
máxima media para el DAC del 50 %. Alternativamente,
cuando se utilice la ganancia corregida en el tiempo (TCG),
las respuestas de los orificios de fondo plano se ecualizarán al
75 % de la altura de la pantalla (65 %) y se anotará la
amplitud media.
Grabación S8.5 :
S8.5.1 Registre todas las áreas en las que la reflexión
posterior restante es menor que la más alta de las reflexiones
posteriores restantes mínimas que se encuentran en S8.4.2.
S8.5.2 Registre todas las áreas en las que las indicaciones
superen el 50 % de DAC o el 50 % de TCG.
S8.5.3 Cuando se detecten condiciones registrables
enumeradas en S8.5.1 y S8.5.2 a lo largo de una línea de
cuadrícula dada, escanee continuamente toda la superficie de
los cuadrados adyacentes a la condición y registre los límites o
la extensión de cada condición registrable.
S8.6 El escaneo se realizará de acuerdo con 6.6.
S8.7 Los niveles de aceptación de la Sección 8 o 9 se
aplicarán según lo especificado por el comprador, excepto que
la condición registrable será la indicada en S8.5.
S9. Examen ultrasónico de placas refundidas por
electroescoria (ESR) y refundidas por arco al vacío
(VAR), de 1 a 16 pulg. [25 a 400 mm] de espesor,
utilizando calibración de orificio de fondo plano y
correcciones de distancia-amplitud
S9.1 El material a examinar debe tener un acabado
4
A578/A578M − 17
agujero de amplitud máxima. Conecte las marcas de orificio
de amplitud máxima y extienda la línea a través del grosor
para el 100 % DAC (curva de corrección de amplitud de
distancia). Del mismo modo, conecte y extienda las marcas de
amplitud media máxima para el DAC del 50 %.
Alternativamente, cuando se utilice la ganancia corregida en el
tiempo (TCG), las respuestas de los orificios de fondo plano se
ecualizarán al 75 % de la altura de la pantalla (65 %) y se
anotará la amplitud media.
S9.6 Exploración : la exploración cubrirá el 100 % de la
superficie de una placa principal, y la unidad de búsqueda se
indexará entre cada pasada de manera que haya al menos un
15 % de superposición de las pasadas adyacentes a fin de
asegurar una cobertura adecuada para localizar las
discontinuidades.
S9.7 Grabación: registre todas las áreas en las que la
reflexión posterior caiga por debajo del 50 % de DAC o del 50
% de TCG. Si la caída en el reflejo posterior no va
acompañada de otras indicaciones en la pantalla,
reacondicione la superficie de la zona y vuelva a examinar por
ultrasonidos. Si la retrorreflexión sigue siendo inferior al 50 %
de DAC, la pérdida puede deberse a la estructura metalúrgica
del material que se está examinando. El material se mantendrá
para revisión metalúrgica por parte del comprador y el
fabricante.
S9.8 Normas de aceptación: cualquier indicación que
supere el 100 % de DAC o el 100 % de TCG se considerará
inaceptable. El fabricante puede reservarse el derecho de
discutir
S9.4 Reflectores de referencia: los orificios profundos de
fondo plano T/4, T/2 y 3T/4 se utilizarán para calibrar el
equipo, donde T es el espesor de la placa. El diámetro del
orificio de fondo plano debe estar de acuerdo con la Tabla
S9.1. Los fondos planos de los orificios deberán estar a
menos de 1° de paralelo a la superficie de examen. Los
orificios pueden perforarse en la placa que se va a examinar
si se pueden ubicar sin interferir con el uso de la placa, en una
prolongación de la placa que se va a examinar, o en un
bloque de referencia de la misma composición nominal y
tratamiento térmico que la placa que se va a examinar. La
superficie del bloque de referencia no será mejor a simple
vista que la superficie de la placa que se vaya a examinar. El
bloque de referencia deberá tener el mismo espesor nominal
(entre el 75 % y el 125 % o 1 pulg. [25 mm] de la placa
examinada, la que sea menor) y deberá tener propiedades
acústicas similares a las de la placa examinada. Se presume
similitud acústica cuando, sin un cambio en la configuración
del instrumento, la comparación de las señales de
retrorreflexión entre el bloque de referencia y la placa
examinada muestra una variación del 25 % o menos.
S9.5 Procedimiento de calibración:
S9.5.1 Acople y coloque la unidad de búsqueda para las
amplitudes máximas de los reflectores en T/4, T/2 y 3T/4.
Ajuste el instrumento para que produzca una indicación de
75 6 5 % de escala completa del reflector que proporcione
la amplitud más alta.
S9.5.2 Sin cambiar la configuración del instrumento,
acople y coloque la unidad de búsqueda sobre cada uno de los
orificios y marque en la pantalla la amplitud máxima de cada
uno de los orificios.
S9.5.3 Marque en la pantalla la mitad de las distancias
verticales desde la línea de barrido hasta cada marca de
más de 8 a 16 pulg. [200 a 400 mm] de espesor.
S9.2 Utilice los siguientes procedimientos en lugar de 6.6.1,
6.6.2,
6.6.3 y Sección 7.
S9.3 El transductor deberá estar de acuerdo con 5.3.
TABLA S9.1 Diámetro del orificio de calibración en función del
espesor de la placa (S9)
Espesor de la placa, pulg.
[milímetro]
1–4
[25–100]
Diámetro del orificio, pulg. [milímetro]
1⁄2 [13]
4
>4–8
[>100–200]
1⁄8
[3]
>8–12
[>200–300]
1⁄4
[6]
>12–16
[>300–400]
3⁄8
[10]
A578/A578M − 17
Material rechazado examinado por ultrasonidos con el
comprador, siendo el objeto la posible reparación del defecto
indicado por ultrasonidos antes del rechazo de la placa.
RESUMEN DE LOS CAMBIOS
El Comité A01 ha identificado la ubicación de los cambios seleccionados en esta norma desde la última
edición (A578/A578M – 07 (2012)) que pueden afectar el uso de esta norma. (Aprobado el 1 de noviembre
de 2017).
(1) Se agregó la Sección 3, Terminología, y se renumeraron
las secciones posteriores en consecuencia.
(2) Revisado en su totalidad para incluir la tecnología de
ultrasonido multielemento (Phased Array).
ASTM International no toma ninguna posición con respecto a la validez de los derechos de patente afirmados en relación con
cualquier artículo mencionado en esta norma. Se advierte expresamente a los usuarios de esta norma que la determinación de la
validez de dichos derechos de patente, y el riesgo de infracción de dichos derechos, son de su entera responsabilidad.
Esta norma está sujeta a revisión en cualquier momento por parte del comité técnico responsable y debe ser revisada cada
cinco años y, si no se revisa, se vuelve a aprobar o se retira. Se invita a sus comentarios ya sea para la revisión de esta norma o
para normas adicionales y deben dirigirse a la sede de ASTM International. Sus comentarios serán considerados cuidadosamente
en una reunión del comité técnico responsable, a la que usted puede asistir. Si cree que sus comentarios no han recibido una
audiencia justa, debe dar a conocer sus puntos de vista al Comité de Normas de ASTM, en la dirección que se muestra a
continuación.
Esta norma está protegida por los derechos de autor de ASTM International, 100 Barr Harbor Drive, PO Box C700, West
Conshohocken, PA 19428-2959, Estados Unidos. Las reimpresiones individuales (copias individuales o múltiples) de esta norma
se pueden obtener comunicándose con ASTM en la dirección anterior o al 610-832-9585 (teléfono), 610-832-9555 (fax), o
[email protected] (correo electrónico); o a través del sitio web de ASTM (www.astm.org). Los derechos de permiso para fotocopiar
la norma también pueden obtenerse en el Centro de Autorización de Derechos de Autor, 222 Rosewood Drive, Danvers, MA
01923, Tel: (978) 646-2600; http://www.copyright.com/
5
