CAPÍTULO 7 INTENSIDAD DE LOS HACES DIFRACTADOS 7.1 DISPERSIÓN POR UN ELECTRÓN La intensidad I de un haz de rayos X dispersado por un sólo electrón una distancia r del electrón, es dada por la ecuación de Thomson: e4 I = I0 carga e y masa m, a sen 2 α (7.1) r m c donde I 0 es la intensidad del haz incidente, c es la velocidad de la luz y a es el ángulo entre la dirección dispersada y la dirección del aceleración de electrón. z Considerando un haz incidente que viaja en la dirección E Ox de la Figura 7.1 y que encuentra un electrón en 0. La Ez P intensidad total del haz dispersado en el punto P , en el · r y plano del xz , donde OP está inclinado un ángulo de 2 q dispersión 2θ respecto al haz incidente, se obtiene O Ey sumando las intensidades de las dos componentes x dispersadas del haz: I P = I Py + I Pz . 2 2 4 Aplicando la ecuación (7.1) a cada componente : IP = I0 Figura 7.1.- Dispersión Coherente de los rayos X por un electrón 1 + cos 2 2θ 2 r 2 m 2 c 4 e4 (7.2) Esta ecuación muestra que la intensidad del haz dispersado decrece c la inversa del cuadrado de la distancia desde el electrón dispersado, y que el h dispersado es más intenso en las direcciones hacia delante y hacia atrás que en una dirección a ángulo recto al haz incidente. El factor, (1 + cos2 2θ) / 2 , es llamado el factor de polarización y se introduce en la ecuación simplemente porque el haz incidente e s no polarizado . Existe otra forma muy diferente en la cual un electrón hν 1 e puede dispersar los rayos X, y que es manifestado en el efecto Compton. Este efecto, descubierto por A. H. Antes del impacto Compton en 1923, ocurre siempre que los rayos X hν 2 2q encuentren electrones ligados o libres y pueden ser mejor entendidos considerando el haz de incidente, no como un Después del impacto e movimiento ondulatorio, sino como una corriente de quantos de rayos X o fotones, cada uno de energía hν1 . Figura 7.2.- Colisión elástica del fotón y el electrón (Efecto Compton) Cuando tal fotón golpea a un electrón ligado, la colisión es elástica como la de dos bolas de billar, como se muestra en la Figura 7.2. El electrón es golpeado por un lado y el fotón es desviado a través de un ángulo 2θ. Dado que una parte de la energía del fotón incidente es usada en proporcionar energ a cinética para el electrón, la energía hν2 del fotón después del impacto es menor que su energía hν1 antes del impacto. La longitud de onda λ2 de la radiación dispersada es de tal manera ligeramente mayor que la longitud de onda λ 1 del haz incidente, la magnitud del cambio es dado por la ecuación ∆λ( A ) = λ 2 − λ1 = 0.0243 (1 − cos 2θ ) (7.3) 92 El incremento en la longitud de onda depende sólo del lo de dispersión, y varía desde cero en la dirección hacia adelante ( 2θ = 0°) a 0.05A en el extremo de la dirección hacia atrás ( 2θ = 180°) . La radiación así dispersada es llamada radiación Compt n modificada, y, además de tener su longitud de onda incrementada, tiene la característica importante de que su fase no tiene relación fija a la fase del haz de incidente. Por esta razón es también conocida como radiación incoherente. 7.2 DISPERSIÓN POR UN ÁTOMO Cuando un haz de rayos X encuentra un átomo, cada electrón en él dispersa parte de la radiación coherentemente de acuerdo con la ecuación de Thomson. También podría esperarse que el núcleo tome parte en la dispersión coherente, dado que también porta una carga y debería ser capaz de oscilar bajo la influencia del haz incidente. Sin embargo, el núcleo tiene una masa sumamente grande relativa a la del electrón y no puede ser hecho oscilar en cualquier extensión apreciable; de hecho, la ecuación de Thomson muestra que la intensidad de la dispersión coherente es inversamente proporcional al cuadrado de la masa de la partícula dispersada. El efecto neto es que la dispersión coherente por un átomo es debida sólo a los electrones contenidos en ese átomo. En la Figura 7.3, las ondas dispersadas hacia adelante por los electrones A y B están exactamente en fase sobre un frente de onda tal como XX', porque cada onda ha recorrido la misma distancia antes y después de la dispersión. Las otras ondas dispersadas mostradas en la figura, sin embargo, tienen una diferencia de trayectoria igual a (CB - AD) y están de esa manera un poco fuera de fase a lo largo de un frente de onda tal como YY', la diferencia de trayectoria es menor que una Figura 7.3.- Dispersión de los rayos X por un átomo longitud de onda. Interferencia parcial ocurre entre las ondas dispersadas por A y B, con el resultado que la amplitud neta de la onda dispersada en esta dirección es menor que la de l onda dispersada por los mismos electrones hacia adelante. La eficiencia de la dispersión de un átomo dado en una dirección dada es descrita por el factor de dispersión atómico f, definida como una relación de amplitudes: f = amplitud de la onda dispersada por un átomo amplitud de la onda dispersada por un electrón (7.4) De lo que se ha dicho ya, es claro que f = Z para cualquier átomo dispersando ha adelante. Cuando θ aumenta, sin embargo, las ondas dispersadas por electrones individuales llegan a estar más y más desfasadas y f decrece. El factor de dispersión atómico también depende de la longitud de onda del haz incidente: a un valor fijo de θ, f será más pequeño que la longitud de 93 onda más corta, dado que las diferencias de trayectoria 30 serán mayores en relación a la longitud de onda, f Cu produciendo interferencia más grande entre los haces dispersados. El cálculo verdadero de f incluye sen θ en vez de θ , a fin de que el efecto neto sea que f disminuya a 20 medida que la cantidad (sen θ)/λ aumente. Valores calculados de f para diversos átomos y valores diversos de sin θ/λ han sido tabulados y se encuentran en muchos textos; una curva mostrando la variación típica de f, en este caso para el cobre, es dada en la Figura 7.4. Notar que la curva comienza en el número atómico del cobre, 29, y disminuye a valores muy bajos por la dispersión en la dirección hacia atrás (θ cerca a 90°) o para longitudes de onda muy cortas. 29 10 sen θ/λ (A-1) 0 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 Figura 7.4.- Factor de dispersión atómico del cobre 7.3 DISPERSIÓN POR UNA CELDA UNITARIA La onda resultante dispersada por todos los átomos de la celda unitaria es llamada el factor de estructura F , que se obtiene sumando todas las ondas dispersadas por los átomos individuales. Si una celda unitaria contiene átomos 1, 2, 3, …, N; c n coordinadas fraccionales u1 v1w1 , u2v2w2 , u3 v3w3 , … y factores de dispersión atómica f1, f2 , f3, …, entonces el factor de estructura para la reflexión hkl es dada por: F = f1e 2πi( hu 1 + kv 1 + lw1 ) + f 2 e 2 πi (hu 2 + kv 2 + lw 2 ) + f 3e 2 πi( hu 3 + kv 3 + lw 3 ) + ..... N Fhk l = En forma más compacta: ∑ f n e 2πi(hu n (7.5) + kv n + lw n ) (7.6) 1 F es, en general, un número complejo y expresa la amplitud y la fase de la onda resultante. Su valor absoluto |F| da la amplitud de la onda resultante en términos de la amplitud de la onda dispersada por un solo electrón. Luego, |F| es definido como una razón de amplitudes: F = amplitud de la onda dispersada por todos los átomos de la celda unitaria amplitud de la onda dispersada por un electrón . 7.4 ALGUNAS RELACIONES ÚTILES En el cálculo de los factores de estructura por funciones exponenciales complejas, muchas relaciones particulares se presentan siempre a menudo por lo que vale la pena enunciarlas aquí. Ellas pueden verificarse mediante la ecuac ión e i x = cos x + i sen x . (a) e π i = e 3 π i = e 5 π i = −1 (b) e 2 π i = e 4 π i = e 6 πi = +1 (c) e n π i = (−1) n , donde n es cualquier entero. (d) e n π i = e − n π i , donde n es cualquier entero. (e) e i x + e −i x = 2 cos x 94 7.5 CÁLCULOS DEL FACTOR DE ESTRUCTURA La aplicación de la ecuación 7.6, resuelve el cálculo del factor de estructura de las celdas unitarias que se citan, según se indica : (a) Celda unitaria con un átomo en el origen 000: F = f e 2 π i [h (0) +k ( 0) +l ( 0)] = f e 0 = f y F 2 = f 2 . (b) Celda unitaria base centrada con dos átomos de la misma clase en 000 y F = f e 2 π i [ h ( 0) + k ( 0 ) + l ( 0 )] + f 1 1 2 π i [ h ( ) + k ( ) + l ( 0)] 2 2 e . Luego: 11 0: 22 [ ] F = f 1 + e π i (h + k ) . Si h y k son ambos pares o impares, esto es, no mezclados, entonces su suma es siempre par y e π i ( h + k )] = 1 . Por lo tanto: F = 2 f y F2 = 4 f 2 . Si h y k son uno par y uno impar, esto es, mezclados, entonces su suma es impar y e π i ( h + k )] = −1 . Por lo tanto: F = 0 y F2 = 0 . (c) Celda unitaria cuerpo centrado con dos átomos de la misma clase en 000 y F = f e 2 π i [ h ( 0) + k ( 0 ) + l ( 0 )] + f e 1 1 1 2 π i [ h ( ) + k ( ) + l ( )] 2 2 2 . Luego: 111 : 222 [ ] F = f 1 + eπ i (h + k + l ) . Cuando ( h + k + l ) es par: F = 2 f y F2 = 4 f 2 . Cuando ( h + k + l ) es impar: F = 0 y F 2 = 0 . 11 0, 22 (d) Celda cúbica unitaria cara centrada con cuatro átomos de la misma clase 000 , 1 1 11 0 y0 : 2 2 22 F = fe 2 π i [ h ( 0 ) + k ( 0 ) +l ( 0 )] + fe 2 πi [ h ( [ 1 2 )+k ( 1 2 ) + l ( 0 )] 1 1 2 π i [ h ( ) + k ( 0 ) +l ( )] 2 2 + fe + fe 2 πi [ h (0 )+k ( 1 2 1 ) +l ( )] 2 ] Luego : F = f 1 + e π i ( h + k ) + e π i ( h + l ) + e π i ( k + l) . Si h, k y l son no mezclados, entonces las tres sumas ( h + k ) , ( h + l) y ( k + l) son pares, y cada uno de los términos tiene el valor 1. Luego: F = 4 f y F2 = 16 f 2 . Si h, k y l son mezclados, entonces la suma de las tres exponenci les es – 1, ya sea que dos de los índices sea impar y uno par, o dos pares y uno im ar. Luego: F = 0 y F2 = 0 . (e) Celda cúbica del NaCl con cuatro átomos Na en 000 , en 11 1 1 11 0, 0 y 0 y 4 átomos Cl 22 2 2 22 111 1 1 1 , 00 , 0 0 y 00 : 222 2 2 2 95 F = f Na e 2 π i [ h ( 0 ) + k ( 0 ) + l ( 0 )] f Na 1 1 2 π i [ h (0 ) + k ( ) + l ( )] 2 2 e f Cl 1 2 π i [ h ( 0 ) + k ( ) + l (0 )] 2 e + f Na 1 1 2 π i [ h ( ) + k ( ) + l ( 0)] 2 2 e + f Cl 1 1 1 2 π i [ h ( ) + k ( ) + l ( )] 2 2 2 e + f Cl + f Na + f Cl 1 1 2 π i [ h ( ) + k (0 ) + l ( )] 2 2 e 1 2 π i [ h (0 ) + k (0 ) + l ( )] 2 e + + 1 2 π i [ h ( ) + k ( 0 ) + l ( 0)] 2 e F = f Na [1 + e π i ( h + k ) + e π i ( h + l ) + e π i ( k + l ) ] + f Cl [ e π i ( h + k + l ) + e π i l + e π i k + e π i h ] Luego: F = [1 + e π i (h + k ) + e π i ( h + l ) + e π i ( k + l ) ] [f Na + f Cl e π i ( h + k + l ) ] Si h, k y l son mezclados, entonces la suma de las tres exponenciales en el primer factor es – 1, ya sea que dos de los índices sea impar y uno par, o dos pares y uno impar. Esto demuestra que el NaCl tiene una red cara centrada y qu : F = 0 y F2 = 0 . Si h, k y l son no mezclados: e π i ( h + k )] = 1 , e π i ( h + l )] = 1 , e π i ( k + l )] = 1 , por lo que: F = [1 + 1 + 1 + 1][ f Na + f Cl e π i ( h + k + l ) ] = 4 [ f Na + f Cl e π i ( h + k + l) ] Si ( h + k + l ) es par: F = 4 (f Na + f Cl ) y F 2 = 16 ( f Na + f Cl ) 2 . Si ( h + k + l ) es impar: F = 4 ( f Na − f Cl ) y F 2 = 16 ( f Na − f Cl ) 2 . 7.6 APLICACIÓN AL MÉTODO DEL POLVO Cualquier cálculo de la intensidad de un haz difractado siempre debe comenzar con el factor de estructura. El resto del cálculo, sin embargo, varía con el método de difracción particular considerado. Para el método de Laue, los cálculos de intensidad son tan difíciles que muy pocas veces son hechos, ya que cada haz difractado tiene una longitud de onda erente y ennegrece la película una cantidad variable, dependiendo de la intensidad y la sensibilidad de la película para esa longitud de onda particular. Los factores que controlan la intensidad difractada en los métodos de cristal giratorio y de polvo son casi similares, en los que radiación monocromática es usada en cada caso, pero difieren en detalle. Consideraremos e l método de polvo, ya que es de utilidad más general en el trabajo metalúrgico. Existen seis factores que afectan la intensidad relati a de las líneas de difracción en un patrón de polvo: (1) el factor de polarización, (2) el factor de estructura, (3) el factor de multiplicidad, (4) el factor de Lorentz, (5) el factor de absorción, (6) el factor de temperatura 7.7 FACTOR DE MULTIPLICIDAD La proporción relativa de los planos que contribuyen a una misma reflexión entra en la ecuación de intensidad como una cantidad p, el factor de multiplicidad, que puede ser definido como el número de planos diferentes en forma que tienen el mismo espaciado. Planos paralelos con índices de Miller diferentes, tales como (100) y ( 100 ) de un cristal cúbico, son contados 96 separadamente como planos diferentes. Así el factor de multiplicidad para los planos {100} de un cristal cúbico es 6 y para los planos {111} es 8. El valor de p depende del sistema cristalino: en un cristal tetragonal, los planos (100) y (001) no tienen el mismo espaciado, de manera que el valor de p para los planos {100} se reduce a 4 y el valor para los planos {001} a 2. Valores del factor de multiplicidad como una función de los índices hkl y el sistema cristalino se encuentran en muchos textos de Difracción de rayos X. 7.8 FACTOR DE LORENTZ Se deben considerar ciertos factores trigonométricos que influyen en la intensidad del haz reflejado tomando en cuenta : (1) El rango angular máximo de rotación del cristal sobre cual energía apreciable será λ difractada en la dirección 2 θ B es dada por: ∆θ = . 2 N a sen θ B Puesto que I max depende de este rango, se puede concluir que I max es proporcional a 1 / sen θ B . La intensidad integrada de la reflexión es dada por área bajo la curva de difracción y es por lo tanto proporcional al producto I max B , lo cual es a su ve z proporcional a (1 / sen θ B ) (1 / cos θ B ) o a 1 / sen 2 θ B . (2) La intensidad integrada de una reflexión a cualquier án particular de Bragg depende del número de partículas orientadas a o cerca a ese ángulo. Si ∆N es el número de tales partículas y N el número total, entonces : ∆ N r ∆θ [ 2 π r sen (90° − θ B )] ∆ θ cos θ B = = . N 2 4π r2 El número de partículas favorablemente orientadas para la reflexión es así proporcional a cos B y es bastante pequeño para reflexiones en la dirección hacia atrás. (3) La longitud de cualquier línea de difracción es 2 π R sen 2θ B , donde R es el radio de la ínea es proporcional a 1 / sen 2θ B . cámara, la intensidad relativa por unidad de longitud En cálculos de intensidad, los tres factores expuestos son combinados en uno y llamado el factor de Lorentz. Dejando de lado el subíndice en el ángulo de Bragg, tenemos: 1 1 cos θ 1 (cos θ ) = Factor de Lorentz = = (7.7) 2 2 sen 2θ sen 2θ sen 2θ 4 sen θ cos θ Éste a su vez combinado con el factor de polarización 1 (1 + cos2 2θ) da el factor combinado 2 de Lorentz-polarizac ión dado por: Factor Lorentz − polarizaci ón = 1 + cos 2 2θ sen 2 θ cos θ (7.8) Valores de este factor son dados en textos de Difracción de rayos X y son representados gráficamente en la Figura 7.5 como una función de θ. El efecto global de estos factores 97 7.9 FACTOR DE ABSORCIÓN Un cálculo de este efecto demuestra que la absorción relativa aumenta cuando θ disminuye, para cualquier muestra cilíndrica. Esto también es observado en los patrones de difracción de polvo. La diferencia en absorción entre reflexiones de θ altos y θ bajos disminuye cuando el coeficiente de absorción lineal de la muestra disminuye, pero la absorción es siempre mayor para las reflexiones de θ bajos. El factor de absorción tiene una forma completamente diferente para muestras planas usadas en un difractómetro. 7.10 FACTOR DE TEMPERATURA 1 + cos2 2θ Factor 2 Lorentz -polarización Sen θ cosθ geométricos es disminuir la intensidad de las reflexiones en ángulos intermedios comparados a las de las direcciones hacia adelante o hacia atrás. Ángulo de Bragg θ (grados) Fígura 7.5 .- Factor Lorentz -Polarización Cuando se realizan estudios de estructuras se asume qu los átomos permanecen quietos en las celdas y que no cambian de posición, por lo menos dura te el ensayo; sin embargo, cuando se someten las muestras a temperaturas altas la vibración de los átomos se hace presente en mayor magnitud, motivo por el cual puede ocurrir que por ejemplo: la celda se expanda, aumentando el espaciamiento entre planos, la intensidad de la línea de difracción decrezca y la intensidad del grado de ennegrecimiento del background aumente, disminuyendo la claridad de la muestra. El efecto de la tempera tura se da por la siguiente relación: I = I 0 e M , donde e M es el término por el cual se debe multiplicar la intensidad pa a tener en cuenta las vibraciones producidas por efecto de la temperatura y cuya determinación se puede lograr por los datos que aparecen en libros de Difracción de rayos X. 7.11 INTENSIDADES DE LAS LÍNEAS EN LOS PATRONES DE POLVO La intensidad relativa I (unidades arbitrarias) de las líneas de un patrón de es dada por: 2 1 + cos 2θ I = F 2 p (7 .9) 2 sen θ cos θ Donde: F es el factor de estructura; p es el factor de multiplicidad y θ es el ángulo de Bragg. Esta ecuación determina la intensidad integrada relativa, esto es, el área relativa bajo la curva de intensidad versus 2θ . 7.12 MEDIDA DE LA INTENSIDAD DE LOS RAYOS X Para medir la intensidad de los haces difractados de r s X existen dos métodos, uno dependiendo del efecto fotográfico de los rayos X y el otro basado en la habilidad de los rayos X para ionizar gases y originar la fluorescencia de luz en los cristales. Estos métodos han sido ya mencionados en la sección 3.3. 98 LABORATORIO 14 DISPERSIÓN COMPTON DE LOS RAYOS X OBJETIVOS.• Determinar la transmisión de un absorbedor de aluminio como una función de la longitud de onda de los rayos X. • Determinar la intensidad de los rayos X dispersados a diferentes ángulos de un dispersor y calcular sus coeficientes de transmisión. • Obtener la curva de transmisión del Aluminio y determinar los cambios en las longitudes de onda. • Determinar la longitud de onda para la dispersión Compton de 90°. TEORÍA.La intensidad de los rayos X se determinará por la tasa de pulsos o número de pulsos/segundo que se genera en el gas ionizado de un tubo contador al incidir sobre él un haz de rayos X. Si el número de pulsos medidos por un contador es N, entonces el error relativo de la medida N ∆N 1 = = (1) N N N A tasas de pulsos altas N, debido al tiempo muerto τ del tubo contador, no todos los fotones que ingresan son registrados. La tasa de pulsos verdadera N* debe por lo tanto determinarse N por medio de la relación: N* = (2) 1− τN La tasa de pulsos corregida se usa para calcular los coeficientes de transmisión, de acuerdo a la N*2 relación: T= (3) N1* es dada por la razón: donde N 1* es la tasa de pulsos registrada sin absorbedor y N *2 es la tasa de pulsos registrada con absorbedor. r p2 Una representación esquemática de la geometría de r dispersión del efecto Compton se muestra en la Figura 1. El p1 α • fotón incidente sufre una pérdida de energía cuando es β desviado de su dirección original bajo un ángulo de r mv dispersión α, mientras que el electrón libre es emitido bajo Electrón libre un ángulo β desde el punto de colisión con un aumento en Figura 1.- Relación de momentum lineal en la dispersión Compton. energía. Del principio de conservación de la energía y el momentum linea l, y tomando en cuenta la masa relativista del electrón, ocurre un cambio ∆λ en la longitud de onda del fotón dispersado como una función del ángulo de dispersión: h h α ∆λ = (1 − cos α ) = 2 sen 2 (4) m0 c m0 c 2 donde: La constante de Planck h = 6,6256 × 10 −34 Js 99 c = 2,9979 × 10 8 m / s La velocidad de la luz La masa en reposos del electrón m 0 = 9,109 × 10 −31 kg El cambio en longitud de onda para la dispersión de 90° se denomina longitud de onda Compton y contiene la energía del electrón en reposo: hc Ec = h ν c = = m 0c 2 (5) λc De donde se obtiene que : λ c = h = 2.426 pm . m 0c EQUIPOS Y MATERIALES.Unidad de rayos X Goniómetro Tubo de rayos X con ánodo de Cu Tubo contador tipo B Dispositivo Compton Cristal de LiF (100) d = 2.041×10-10 m Computador personal PROCEDIMIENTO .- 1. Fijar el diafragma tubular de 2 mm de diámetro en la salida del tubo de rayos X y montar el monocristal de LiF en el soporte del goniómetro. Cerra y asegurar la puerta. 2. Encender la unidad de rayos X y la computadora y abrir el programa measure . Seleccionar del menú Archivo/Nueva medida o presionar el botón de registro rojo en el panel de botones. 3. En el cuadro de diálogo introducir los siguientes valores: Tipo de medida : espectro Corriente del ánodo : 1 mA Registro de datos : ángulo del cristal Tiempo de integración : 100 s Tensión constante : 35 kV Modo rotación : acoplado 2:1 Cristal : LiF Ángulo de arranque : 7.5º Absorbedor : sin absorbedor Ángulo de parada : 9.5º Filtro : sin filtro Incremento del ángulo : 0,1º 4. Seleccionar Continuar y en el cuadro de diálogo que aparece seleccionar iniciar medida para determinar la tasa de pulsos N 1 ( θ) . Cuando termine el registro, archivar el espectro obtenido y apagar el equipo de rayos X. 5. Insertar el absorbedor de aluminio entre la salida de rayos X y el monocristal de LiF y repetir el paso 3 considerando en el cuadro de Tubo GM diálogo: Absorbedor: aluminio. 6. Seleccionar Continuar y en el cuadro de Absorbedor posición 2 diálogo que aparece seleccionar iniciar medida para determinar la tasa de pulsos N 2 (θ) . Cuando termine el registro, archivar el espectro obtenido y apagar el equipo de rayos X. 7. Retirar el monocristal de LiF y en su lugar ubicar el dispersor plástico a un ángulo de Dispersor Absorbedor posición 1 135°, como se muestra en la Figura 2, que Figura 2.- Esquema del arreglo de dispersión representa esquemáticamente el montaje Compton de 90° experimental de la dispersión Compton de 90° mostrada en la Figura 3. 100 8. Reemplazar el diafragma tubular de 2 mm de diámetro por un diafragma tubular de 5mm de diámetro. Girar el tubo contador a la posición 90°, como se muestra en la Figura 3. Cerrar y asegurar la puerta. Figura 3.- Montaje experimental para dispersión Compton de 90° 9. Encender la unidad de rayos X y la computadora y abrir el programa measure . Seleccionar del menú Archivo/Nueva medida o presionar el botón de registro rojo en el panel de botones. 10. En el cuadro de diálogo introducir los siguientes valores: Tipo de medida : espectro Corriente de l ánodo : 1 mA Registro de datos : ángulo del cristal Tiempo de integración : 100 s Tensión constante : 35 kV Modo rotación : acoplado 2:1 Cristal : ninguno Ángulo de arranque : 7.5º Absorbedor : sin absorbedor Ángulo de parada : 9.5º Filtro : sin filtro Incremento del ángulo : 0,1º 11. Seleccionar Continuar y en el cuadro de diálogo que aparece seleccionar iniciar medida para determinar la tasa de pulsos N 3 . Cuando termine el registro, archivar el espectro obtenido y apagar el equipo de rayos X. 12. Ubique el absorbedor de aluminio en la posición 1, entre el tubo de rayos X y el dispersor, ver Figura 2, y repita los pasos 9 y 10 considerando en el cuadro de diálogo: Absorbedor: aluminio. 13. Seleccionar Continuar y en el cuadro de diálogo que aparece seleccionar iniciar medida para determinar la tasa de pulsos N 4 . Cuando termine el registro, archivar el espectro obtenido y apagar el equipo de rayos X. 101 14. Ubique ahora el absorbedor de aluminio en la posición 2, entre el dispersor y el tubo contador y repita los pasos 9 y 10 considerando en el dro de diálogo: Absorbedor: aluminio. 15. Seleccionar Continuar y en el cuadro de diálogo que aparece seleccionar iniciar medida para determinar la tasa de pulsos N 5 . Cuando termine el registro, archivar el espectro obtenido y apagar el equipo de rayos X. CUESTIONARIO .1. Determinar el error relativo en la determinación de la tasa de pulsos N1 y N 2 . 2. Considerando que el tiempo muerto del tubo contador es τ ≈ 90 µ s , determinar la tasa de 3. 4. 5. 6. pulsos verdadera N 1* y N *2 . Usando la ecuación 3, calcular el coeficiente de transmisión del aluminio. Graficar la transmisión del absorbedor de aluminio como u función de la longitud de onda de los rayos X. Con los valores determinados para las tasas de pulsos los pasos 11 y 13, calcular el coeficiente de transmisión T1 para el aluminio. Con los valores determinados para las tasas de pulsos los pasos 11 y 15, calcular el coeficiente de transmisión T2 para el aluminio. 7. En la gráfica de transmisión del aluminio, identificar los valores calculados de T1 y T2 para determinar sus correspondientes longitudes de onda. Ha lar el valor de ∆λ . 8. Comparar el valor experimental de la longitud de onda ompton ∆λ con el valor teórico. Determine el error. 102 LABORATORIO 15 INTENSIDAD DE LOS RAYOS X CARACTERÍSTICOS OBJETIVOS.• Registrar espectros de intensidad de la radiación policromática de un tub de rayos X usando un monocristal de LiF. • Determinar la intensidad de las radiaciones características Kα y Kβ como una función de la corriente del ánodo. • Determinar la intensidad de las radiaciones características Kα y Kβ como una función del voltaje del ánodo. TEORÍA.Los electrones que son emitidos desde el cátodo y acelerados hacia el ánodo son capaces de ionizar los átomos del material del ánodo en las capas electrónicas más internas. Cuando esto ocurre en la capa K, la vacancia resultante puede llenarse, por ejemplo, por electrones de la capa L o M. La energía ganada de esto es emitida como rayos X característicos Kα y Kβ . La intensidad de la radiación característica K es dada por: I K = B I A ( U A − U K )1.5 (1) Donde: B = constante I A = corriente en el ánodo U A = voltaje del ánodo U K = potencial de ionización del nivel K. La profundidad de penetración de los electrones de ionización en el material del ánodo y la profundidad de surgimiento de los rayos X generados son limitados. Cuando han alcanzado su máximo, entonces la relación empírica dada en (1) pierde su validez. La intensidad verdadera (tasa de pulsos N) puede obten de la intensidad medida (tasa de pulsos N 0 ) tomando en cuenta el tiempo muerto del contador τ ≈ 90 µs de acuerdo a: N= N0 1− τ N0 ( 2) EQUIPOS Y MATERIALES.Unidad de rayos X Goniómetro Tubo de rayos X con ánodo de Cu Tubo contador tipo B Cristal de LiF (100) d = 2.041×10-10 m Computador personal PROCEDIMIENTO.- 1. Instalar el tubo de rayos X con ánodo de cobre y montar el experimento como se muestra en la Figura 1. 2. Fijar el diafragma tubular de 1 mm de diámetro en la salida del tubo de rayos X y montar el monocristal de LiF en el soporte del goniómetro. Cerrar y asegurar la puerta. 103 3. Encender la unidad de rayos X y la computadora y abrir el programa measure . Seleccionar del menú Archivo/Nueva medida o presionar el botón de registro rojo en el panel de botones. Figura 1 .- Montaje experimental para el análisis de rayos X 4. En el cuadro de diálogo introducir los siguientes valores: Tipo de medida : espectro Corriente de emisión : 1 mA Registro de datos : ángulo del cristal Tiempo de integración : 2 s Tensión : 35 kV Modo rotación : acoplado 2:1 Cristal : LiF Ángulo de arranque : 3º Absorbedor : sin absorbedor Ángulo de parada : 55º Filtro : sin filtro Incremento del ángulo : 0,1º 5. Seleccionar Continuar y en el cuadro de diálogo que aparece seleccionar iniciar medida . Cuando termine el registro, archivar el espectro obtenido y apagar el equipo de rayos X. 6. Encender la unidad de rayos X y la computadora y abrir el programa measure . Seleccionar del menú Archivo/Nueva medida o presionar el botón de registro rojo en el panel de botones. 7. En el cuadro de diálogo introducir los siguientes valores: Tipo de medida : espectro Corriente de emisión : 1 mA Registro de datos : ángulo del cristal Tiempo de integración : 2 s Tensión : 35 kV Modo rotación : acoplado 2:1 Cristal : LiF Ángulo de arranque : 19º Absorbedor : sin absorbedor Ángulo de parada : 24º Filtro : sin filtro Incremento del ángulo : 0,1º 8. Seleccionar Continuar y en el cuadro de diálogo que aparece seleccionar iniciar medida . Cuando termine el registro, archivar el espectro obtenido y apagar el equipo de rayos X. 9. Repetir los pasos 6, 7 y 8 considerando en el cuadro de diálogo: Corriente de emisión: 0.9 mA. 10. Repetir el paso 9 cambiando sucesivamente la corriente de emisión a 0.8, 0.7, 0.6, 0.5, 0.4, 0.3, 0.2 y 0.1 mA. 11. Identificar en cada caso la tasa de pulsos N 0 para las líneas Kα y usando la ecuación ( 2) determinar la tasa de pulsos N, registrando los valores en la Tabla N° 1 104 Tabla N° 1 N0 (imp/s) N (imp/s) IA (mA) 1.0 0.9 0.8 0.7 0.6 0.5 0.4 0.3 0.2 0.1 12. Identificar en cada caso la tasa de pulsos N 0 para las líneas Kβ y usando la ecuación (2) determinar la tasa de pulsos N, registrando los valores en la Tabla N° 2. Tabla N° 2 N0 (imp/s) N (imp/s) IA (mA) 1.0 0.9 0.8 0.7 0.6 0.5 0.4 0.3 0.2 0.1 13. Repetir los pasos 6, 7 y 8 considerando en el cuadro de diálogo: Tensión: 32 kV. 14. Repetir el paso 13 cambiando sucesivamente la tensión a 29, 26, 23, 20, 17 , 14, 11 y 8 kV. 15. Identificar en cada caso la tasa de pulsos N 0 para las líneas Kα y usando la ecuación (2) determinar la tasa de pulsos N, registrando los valores en la Tabla N° 3. Tabla N° 3 N0 (imp/s) N (imp/s) UA (kV) 35 32 29 26 23 20 17 14 11 8 16. Identificar en cada caso la tasa de pulsos N 0 para las líneas Kβ y usando la ecuación (2) determinar la tasa de pulsos N, registrando los valore en la Tabla N° 4. Tabla N° 4 N0 (imp/s) N (imp/s) UA (kV) 35 32 29 26 23 20 17 14 11 8 CUESTIONARIO .- 1. Usando la ley de Bragg, determinar las longitudes de onda de las líneas Kα y Kβ del espectro característico del Cobre considerando los dos primeros órdenes de difracción. 2. A partir de las longitudes de onda halladas en la pregunta anterior, calcular las ecuencias correspondientes a las líneas Kα y Kβ del espectro característico del cobre . 3. Usando los valores de las frecuencias calcular las ene gías correspondientes a las líneas Kα y Kβ del espectro característico del cobre . 4. Graficar la tasa de pulsos N en función de la corriente del ánodo I A para las líneas Kα y Kβ considerando los valores de las Tablas N° 1 y N° 2. 5. Interpretar la gráfica anterior y hallar la ecuación que relaciona a las variables N e IA para las líneas Kα y Kβ . 6. Graficar la tasa de pulsos N en función del voltaje de ánodo UA para las líneas Kα y Kβ considerando los valores de las Tablas N° 3 y N° 4. 105 7. Interpretar la gráfica anterior y hallar la ecuación que relaciona a las variables N y UA para las líneas Kα y Kβ . 8. Considerando que para el cobre el potencial de ionización del nivel K es U K = 8.979 keV , graficar la tasa de pulsos N en función de ( U A − U K )1.5 para las líneas Kα y Kβ , tomando en cuenta los valores de la s Tablas N° 3 y N° 4. 9. Interpretar la gráfica anterior y hallar la ecuación q e relaciona a las variables N y ( U A − U K )1.5 para las líneas Kα y Kβ . 10. Haciendo uso de las técnicas del análisis gráfico, determinar la ecuación experimental que relaciona las variables N, I A y UA. Comparar la ecuación obtenida con la dada en (1) y hallar el valor experimental de B. 106