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Microscopio 3D con tecnología Dual (confocal e
interferométrico) para visualización y caracterización
superficial de materiales
Programa. 4 de abril de 2013 en la Sala de Grados de la UAB
9:30-11:00 h Introducción a la microscopía confocal e interferométrica en materiales y sus
aplicaciones. Óscar Rodríguez Carballo. Leica Microsystems, Industry Division.
11:00-11:30 h Coffee break
11:30-12:30 h Introducción a los parámetros de rugosidad. Óscar Rodríguez Carballo. Leica
Microsystems, Industry Division.
12:30-13:30 h Ejemplos aplicativos de parámetros de rugosidad 2D/3D. Jordi Díaz. Centres Científics i
Tecnològics. Universitat de Barcelona.
SESIONES PRÁCTICAS (Grupos de 5 personas)
15:00 - 15:30 h
15:30 - 16:00 h
16:00 - 16:30 h
16:30 - 17:00 h
Organiza: Servei de Microscòpia, UAB ([email protected])
Colabora: Leica Microsystems
Inscripción gratuita
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J. Sort & E. Pellicer
M. J. Esplandiu
C. Carbonell
C. Fernández
JORNADA DE CONFOCAL APLICADA A MATERIALES
Programa. 5 de abril de 2013 en la Sala de Grados de la UAB
9:30-10:30 h Introducción a la microscopía confocal (fluorescencia) y sus aplicaciones. Mònica
Roldán. Servei de Microscòpia. Universitat Autònoma de Barcelona.
10:30-11:00 h Coffee break
11:00-11:30 h Fotoluminiscencia de luz blanca y fotoactivación en estructuras mesoporosas de
SiO2@CdS. Jordi Sort y Eva Pellicer. Departamento de Física, Universitat Autònoma de
Barcelona.
11:30-12:00 h Nanoactuadores impulsados por reacciones catalíticas. Mª José Esplandiu. Centro de
Investigación en Nanociencia y Nanotecnología, CIN2 (ICN-CSIC). Campus UAB.
12:00-12:15 h Microscopía confocal para el seguimiento de química en femtolitros, asistida por
litografía basada en sonda. Carlos Carbonell. Institut Català de Nanotecnologia.
12:15-12:45 h Fabricación de componentes fotónicos poliméricos empleando xerogeles organo
inorgánicos y litografía blanda. César Fernández Sánchez. Instituto de Microelectrónica
de Barcelona, CSIC.
12:45-13:15 h Red de Microscopía Óptica de Materiales. Jordi Díaz. Centres Científics i Tecnològics.
Universitat de Barcelona.
SESIONES PRÁCTICAS (Grupos de 5 personas)
15:00 - 15:30 h
15:30 - 16:00 h
16:00 - 16:30 h
16:30 - 17:00 h
Organiza: Servei de Microscòpia, UAB ([email protected])
Colabora: Leica Microsystems
Inscripción gratuita
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